Морфологические свойства нано- и микроструктур, сформированных на подложках кристаллического и пористого кремния

Исследование морфологии пленок Al и ХСП на пористых, кристаллических подложках. Изучение особенностей релаксации напряжений в исследуемых структурах и происходящих процессов модификации поверхности пленок теллурида свинца при обработке в аргоновой плазме.

Рубрика Физика и энергетика
Предмет Физика полупроводников
Вид автореферат
Язык русский
Прислал(а) Горлачев Егор Сергеевич
Дата добавления 02.08.2018
Размер файла 990,0 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.


Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.