Фазові рівноваги та склоутворення в квазіпотрійних системах BIIX–Ga2X3–DIVX2 (BII–Zn, Cd, Hg; DIV–Ge, Sn; X–S, Se)

Дослідження ізотермічних та політермічних перерізів систем і побудова проекцій поверхонь ліквідуса та просторових діаграм стану. Аналіз взаємозв’язку між стабільними та метастабільними діаграмами. Виявлення закономірностей у характері фазових рівноваг.

Рубрика Химия
Вид автореферат
Язык украинский
Дата добавления 28.08.2014
Размер файла 62,9 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

ЛЬВІВСЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ

ІМЕНІ ІВАНА ФРАНКА

МАЗУРЕЦЬ ІРИНА ІВАНІВНА

УДК 546 + 544.016 + 54-161.6

Автореферат

дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата хімічних наук

Фазові рівноваги та склоутворення в квазіпотрійних системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se)

02.00.01 - неорганічна хімія

Львів - 2006

Дисертацією є рукопис.

Роботу виконано на кафедрі загальної та неорганічної хімії Волинського державного університету ім. Лесі Українки Міністерства освіти і науки України

Науковий керівник: кандидат хімічних наук, доцент Парасюк Олег Васильович, Волинський державний університет, старший науковий співробітник.

Офіційні опоненти:

доктор хімічних наук, доцент Барчій Ігор Євгенович, Ужгородський національний університет, професор кафедри неорганічної хімії кандидат хімічних наук.

Галаджун Ярослав Володимирович, Львівський національний університет, доцент кафедри безпеки життєдіяльності.

Провідна установа: Інститут проблем матеріалознавства імені І.М. Францевича НАН України (м. Київ).

Захист дисертації відбудеться 15 листопада 2006 р. о 16 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 35.051.10 у Львівському національному університеті ім. Івана Франка (79005, м. Львів, вул. Кирила і Мефодія, 6, Хімічний факультет, ауд.2).

З дисертацією можна ознайомитися у бібліотеці Львівського національного університету ім. Івана Франка (79005, м. Львів, вул. Драгоманова, 5)

Автореферат розісланий 5 жовтня 2006 р.

Вчений секретар спеціалізованої вченої ради Яремко З.М.

ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ

Актуальність теми. Серед складних напівпровідникових фаз важливе місце займають тернарні сполуки BIICIII2X4 (BII - Zn, Cd, Hg; CIII - Ga, In; X - S, Se), що належать до відомого класу алмазоподібних сполук, окремі представники якого володіють ефективними нелінійно-оптичними, фотоелектричними, люмінесцентними властивостями та ін. Наприклад, HgGa2S4 є одним із найкращих нелінійно-оптичних матеріалів для середньої ІЧ-області електромагнітного спектра (параметричні генератори світла) із високою стійкістю до дії лазерного випромінювання. ZnGa2Se4 є перспективним фотопровідним та люмінесцентним напівпровідником. Їх широке застосування стримується певними труднощами при одержанні монокристалів достатнього розміру, які пов'язані із інконгруентним типом утворення чи високим тиском парів. Одним із найбільш перспективних методів у цьому випадку може бути розчин-розплавний метод вирощування. В ролі розчинника можуть бути використані сплави квазіпотрійних систем BIIX - CIII2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; CIII - Ga, In; DIV - Ge, Sn; X - S, Se). Сплави цих систем перспективні для дослідження також через можливість одержання частини їх у склоподібному стані. Стекла систем Ga2S3 - GeS2 та Ga23 - GeSе2 володіють високою люмінесценцією, підсилення якої здійснюється шляхом легування за допомогою d- чи f-елементів. Високі показники заломлення, прозорість в ІЧ діапазоні електромагнітного спектру, хімічна стійкість, роблять такі склоподібні сплави перспективними матеріалами для твердотільних лазерів, оптичних підсилювачів, світлових перетворювачів та ін. Встановлення областей склоутворення у системах, які утворені чотирма елементами, є перспективним напрямком дослідження, оскільки дозволить розширити клас халькогенідних склоподібних напівпровідників новими представниками.

Таким чином, накопичення експериментальних даних з характеру фізико-хімічної взаємодії та величин областей склоутворення в системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 дозволить виявити нові напівпровідникові речовини, закономірності та особливості у зміні їх властивостей.

Зв'язок роботи з науковими програмами, планами, темами. Робота є складовою частиною одного з наукових напрямків з дослідження складних напівпровідникових фаз, що проводяться на кафедрі загальної та неорганічної хімії Волинського державного університету ім. Лесі Українки, і виконана відповідно до планів держбюджетних тем “Фізико-хімічні основи матеріалознавства метастабільних фаз, ефективних і радіаційностійких оптоелектронних, нелінійних та інших напівпровідникових матеріалів на основі багатокомпонентних систем” (1998-1999, № державної реєстрації 0198U038208), особистий внесок - склоутворення у системах Zn(Cd,Hg)Sе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2; “Гетерогенні рівноваги складних халькогенідних систем; синтез, технологія монокристалів, стекол, композитів і їх властивості” (2000-2002, № державної реєстрації 0100U000241), особистий внесок - фазові рівноваги у квазіпотрійній системі ZnSе - Ga23 - GeSе2, область склоутворення та ізотермічний переріз при 670 К квазіпотрійної системи HgS - Ga2S3 - GeS2; “Нові тетрарні халькогенідні речовини: синтез, фазові рівноваги, технологія монокристалів, властивості та застосування” (2003-2005, № державної реєстрації 0103U000274), особистий внесок - фазові рівноваги у квазіпотрійних системах ZnSе - Ga23 - SnSе2 та HgS - Ga2S3 - GeS2.

Мета і задачі дослідження. Встановлення фазових рівноваг у квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2; областей склоутворення в системах BIIX _ Ga2X3 _ DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se). Для досягнення вказаної мети в роботі вирішуються такі основні задачі:

- експериментальне дослідження ізотермічних та політермічних перерізів систем і побудова проекцій поверхонь ліквідуса та просторових діаграм стану;

встановлення областей склоутворення в системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se); дослідження деяких властивостей стекол;

встановлення взаємозв'язку між стабільними та метастабільними діаграмами, а також виявлення закономірностей у характері фазових рівноваг при планомірній заміні компонентів систем.

Об'єкт дослідження: системи BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se).

Предмет дослідження: діаграми стану, ізотермічні перерізи, області склоутворення та властивості стекол в квазіпотрійних системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se).

Методи дослідження: диференційно-термічний, рентгенофазовий, мікроструктурний аналізи, метод вимірювання мікротвердості, спектроскопія КРС.

Наукова новизна одержаних результатів. Вперше вивчено характер фізико-хімічної взаємодії у квазіпотрійних системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se), побудовані політермічні та ізотермічні перерізи, проекції поверхонь ліквідуса, просторові діаграми стану. Встановлені закономірності та особливості фазових рівноваг у квазіпотрійних системах при планомірній заміні компонентів.

Вперше вивчено величину областей склоутворення в квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2, CdSе - Ga23 - SnSе2, а також уточнено її в системі HgSе - Ga23 - SnSе2. Використовуючи метод КРС, встановлено структуру склоподібних сплавів у системі HgS - Ga2S3 - GeS2.

Практичне значення одержаних результатів. Відомості про стабільні діаграми фазових рівноваг квазіпотрійних систем, області існування склоподібних сплавів, їх структура та властивості можуть бути використані як довідковий матеріал у галузі напівпровідникового матеріалознавства.

Побудовані діаграми стану можуть бути використані для підбору розчинника та його концентрації при вирощуванні монокристалів бінарних та тернарних фаз із розчинів у розплавах, а також для прогнозування характеру фізико-хімічної взаємодії в системах-аналогах та для вибору хіміко-технологічних умов синтезу склоподібних сплавів.

Особистий внесок здобувача. Постановка задачі досліджень проводилася при безпосередній участі дисертанта. Аналіз літературних даних, експериментальні роботи по дослідженню взаємодії компонентів у системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2 та встановлення областей склоутворення проведено здобувачем самостійно згідно з вказівками наукового керівника.

Спектри КР стекол системи HgS - Ga2S3 - GeS2 знято в Інституті Фізики напівпровідників НАН України (к.ф.-м.н. Юхимчук В.П.), а інтерпретація результатів КРС проведена спільно з н. с. Жбанковим О.Є. (ВДУ) і к.ф.-м.н. доц. Нечипоруком Б.Д. (РДГУ). Розрахунки методом оберненого Монте-Карло проведені у Інституті металофізики НАН України під керівництвом проф., д.ф.-м.н. Уварова В.М.

Обговорення результатів дослідження проведено спільно з науковим керівником.

Апробація результатів дисертації. Основні результати роботи доповідались на конференціях “Релаксаційно-, нелінійно- та акустооптичні процеси; матеріали: вирощування й оптичні властивості” (Луцьк, 1999 р.), XV Українській конференції з неорганічної хімії за міжнародною участю (Київ, 2001 р.), VIIІ Міжнародній конференції з кристалохімії інтерметалічних сполук (Львів, 2002 р.), ІХ Міжнародній конференції з фізики і технології тонких плівок (Івано-Франківськ, 2003 р.), виїздній сесії НАН України з неорганічної та фізичної хімії (Гурзуф, 2003 р.), щорічних науково-практичних конференціях професорсько-викладацького складу Волинського державного університету ім. Лесі Українки (1998 - 2005 р.р.).

Публікації. По темі дисертації опубліковано 13 друкованих праць, з яких 7 статей в наукових фахових журналах та 6 тез конференцій.

Структура та обсяг роботи. Дисертаційна робота викладена на 118 сторінках, складається із вступу, 5 розділів, висновків, списку використаної літератури в кількості 113 найменувань, додатків, 60 рисунків і 17 таблиць.

ОСНОВНИЙ ЗМІСТ ДИСЕРТАЦІЇ

У першому розділі зроблено огляд літератури про характер хімічної взаємодії та склоутворення в системах BII - X, Ga - X, DIV - X, BIIX - DIVX2, Ga2X3 - DIVX2, BIIX - Ga2X3, а також відомості про раніше досліджені системи ВIIX - Ga2X3 - DIVX2.

У другому розділі приведені характеристики простих речовин (цинк - 99,99 ваг.%, кадмій - 99,9999 ваг.%, галій - 99,9997 ваг.%, германій - 99,9999 ваг.%, олово - 99,99 ваг.%, сірка - 99,997 ваг.%, селен - 99,997 ваг.%, а також попередньо синтезовані HgS і HgSe (ртуть Р-1)), методи синтезу та методики дослідження синтезованих зразків. При досліджені були використані диференційно-термічний (ДТА), рентгенофазовий (РФА) та мікроструктурний (МСА) методи аналізу, метод вимірювання мікротвердості, спектроскопія КРС.

У третьому розділі представлені результати дослідження фазових рівноваг систем HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2, діаграми їх політермічних та ізотермічних перерізів, проекції поверхонь ліквідусу та просторові діаграми стану.

Для побудови діаграми стану квазіпотрійної системи HgS-Ga2S3-GeS2 було досліджено 8 політермічних перерізів та ізотермічний при 670 К.

У системі HgS - GeS2 підтверджено існування сполуки Hg4GeS6, що утворюється інконгруентно при 996 К; при 679 К вона має поліморфне перетворення. НТ-модифікація є моноклінною (просторова група Cc, a=1,23451(8) нм, b=0,71678(6) нм, c=1,23467(7) нм, =109,484(5)). Між Hg4GeS6 і GeS2 утворюється евтектика, яка має координати 44 мол.% HgS та 855 К. Існування потрійної сполуки HgGe2S5 при складі 33,3 мол.% HgS нами не підтверджено.

Переріз HgGa2S4 - GeS2 є неквазібінарним вище солідуса, що пов'язане з перитектичним утворенням HgGa2S4. Його ліквідус складається з двох ділянок, де первинно кристалізуються HgGa6S10 і GеS2. Кристалізація всіх сплавів завершується при 940 К нонваріантним перитектичним процесом L+HgGa6S10HgGa2S4+GеS24).

Переріз HgGa2S4 - “HgGе2S5 перетинає поля первинної кристалізації фаз HgGa6S10, HgGa2S4 та GeS2. Солідусом перерізу є горизонталь нонваріантного евтектичного процесу та лінія завершення вторинної кристалізації L+-Hg4GeS6+GeS2.

Ліквідус перерізу HgGa2S4 - Hg4GeS6 складається з трьох полів, що належать температурам початку кристалізації фаз HgGa6S10, HgGa2S4 та HgS. Кристалізація сплавів перерізу завершується при однаковій температурі 916 К чотирифазним нонваріантним процесом L+HgSHgGa2S4+Hg4GeS62). На основі Hg4GeS6 існує незначна розчинність, яка при температурі відпалу не перевищує 2 мол.% HgGa2S4.

Переріз Ga2S3 - “HgGе2S5 перетинає об'єми первинної кристалізації HgGa2S4, HgGa6S10, GeS2, - і -твердих розчинів на основі Ga2S3. Солідус перерізу складається з горизонтальних ліній, що відповідають процесам: LHg4GeS6+HgGa2S4+GeS2 (Е, 829 К), L+HgGa6S10HgGa2S4+GeS24, 940 К), L++GeS23, 953 К), а також лінії завершення вторинної кристалізації L++GeS2 та лінії, що відповідає граничним -твердим розчинам.

Ліквідус перерізу HgGa6S10 - GeS2 складається з трьох полів первинної кристалізації, що належать GeS2 та двом модифікаціям Ga2S3. Додавання германій дисульфіду приводить до стабілізації HgGa6S10 в сторону низьких температур. Кристалізація більшості сплавів відбувається за перитектичним процесом L++GeS2 при 953 К. При 707 К має місце поліморфне перетворення GeS2.

Переріз “Ga2GeS5” - HgS перетинає одразу чотири площини нонваріантних рівноваг. Відповідно до цього солідус перерізу складається з горизонтальних ліній, що відповідають перитектичним процесам: L++GeS23, 953 К), L+HgGa6S10HgGa2S4+GeS24, 940 К), L+HgGa2S4+Hg4GeS61, 916 К) та евтектичній рівновазі LHg4GeS6+HgGa2S4+GeS2 (Е, 829 К).

Переріз “Ga2Ge9S24” - “Gа2Hg9S15 перетинає поля первинної кристалізації GеS2, HgGa2S4 і б-твердих розчинів на основі HgS. Кристалізація більшості сплавів закінчується чотирифазним евтектичним процесом LHgGa2S4+GeS2+Hg4GеS6 (829 К).

Побудований ізотермічний переріз квазіпотрійної системи, який показує характер фазових рівноваг при 670 К. При цій температурі усі фази існують в твердому стані.

Проекція поверхні ліквідуса складається з 7 полів первинної кристалізації GeS2, г-Ga2S3, д-Ga2S3, HgS, HgGa2S4, HgGa6S10 та Hg4GeS6, які розділено 11 моноваріантними лініями та 12 нонваріантними точками, п'ять з яких є потрійними. Відповідно до кількості нонваріантних процесів на просторовій діаграмі присутні 5 горизонтальних площин та 11 об'ємів вторинної кристалізації.

Для побудови діаграми стану квазіпотрійної системи ZnSe-Ga2Se3-GeSe2 досліджувалося 89 сплавів, що розміщувалися на 4 політермічних перерізах.

Переріз ZnGa2Se4 - GeSe2 перетинає два поля первинної кристалізації фаз, що відповідають GeSe2 і -твердим розчинам на основі ZnSe. Солідусом перерізу виступає горизонталь при 966 K, що є частиною площини нонваріантного перитектичного процесу L++GeSe2 та граничні -тверді розчини на основі ZnGa2Se4, вище цієї температури.

Переріз `Ga6GeSe11' - `Zn3GeSe5' проходить через три поля первинної кристалізації фаз, що належать -твердому розчину на основі Ga2Se3, -твердому розчину на основі ZnGa2Se4 i -твердому розчину на основі ZnSe. Солідус перерізу складається з ліній завершення вторинної кристалізації бінарних евтектик, які обумовлені присутністю твердих розчинів в системі та двома горизонталями нонваріантних процесів при 924 K (L++GeSe2) i 966 K (L++GeSe2).

Ліквідус перерізу `Ga2GeSe5' - `ZnGeSe3' складається із трьох ділянок первинної кристалізації -, - i -твердих розчинів. Горизонталі при 924 K i 966 K належать площинам потрійного евтектичного (E) та перитектичного (Р) процесів.

Переріз `Ga2Ge4Se11' - `ZnGe4Se9' перетинає первинну кристалізацію -, - i -твердих розчинів та дві площини нонваріантних процесів. В цілому, його будова є подібна до двох попередніх випадків.

При 670 К температурі всі фази існують в твердому стані. Переріз ZnGa2Se4 - GeSe2 при 670 K є квазібінарним і розбиває квазіпотрійну систему на дві підсистеми: ZnSe - ZnGa2Se4 - GeSe2 та ZnGa2Se4 - Ga2Se3 - GeSe2.

Проекція поверхні ліквідуса цієї системи складається із чотирьох полів первинної кристалізації фаз ZnSe, GeSe2, ZnGa2Se4 та Ga2Se3. Поле первинної кристалізації ZnSe, як найбільш високотемпературної фази, займає найбільшу площу концентраційного трикутника. Поля первинної кристалізації розділені між собою за допомогою 5 моноваріантних ліній та 6 нонваріантних точок, дві з яких потрійних і чотири подвійних. Відповідно до кількості потрійних нонваріантних процесів на просторовій діаграмі стану є дві горизонтальні площини. Солідусом системи виступають граничні тверді розчини вище температур нонваріантних процесів, поверхні завершення вторинної кристалізації, що з ними пов'язані, площини евтектичного трикутника та перитектичного чотирикутника в частині збідненій рідкою фазою.

Таблиця 1 Характер і температури перебігу нонваріантних процесів квазіпотрійної системи ZnSe - Ga23 - GeSе2

Система ZnSe-Ga2Se3-SnSe2 аналогічна системі ZnSe-Ga2Se3-GeSe2. Різниця між ними полягає тільки в координатах та температурах нонваріантних процесів.

У четвертому розділі приведені результати дослідження склоутворення в квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2, CdSе - Ga23 - SnSе2, а також уточнення її в системі HgSе - Ga23 - SnSе2. Для склоподібних сплавів досліджуваних систем визначено мікротвердість, характеристичні температури та обчислено приведену температуру склування. Для склоподібних сплавів системи HgS - Ga2S3 - GeS2 приведено результати КР спектроскопії.

Одержання сплавів системи HgS - Ga2S3 - GeS2 у склоподібному стані проводили шляхом загартування від температури на 150-200 К вище ліквідуса. При цих умовах у склоподібному стані одержуються сплави із максимальним вмістом HgS - 55 мол.% та Ga2S3 -27 мол.%. Одержані стекла мали жовтий колір, який при збільшенні вмісту HgS, змінювався на оранжевий і далі на чорний.

В системі ZnSe-Ga2Se3-GeSe2 максимальна кількість Ga2Se3, яку вдалося ввести в склад скла становить 28 мол.% і знаходиться на стороні Ga2Se3 - GeSe2. Вміст ZnSe не перевищує 5 мол.%.

Області склоутворення в системах Zn(Cd, Hg)Se - Ga2Se3 - SnSe2 є значно меншими. Вміст компоненту BIISe в цих системах становить: в меркурійвмісній системі - 5 мол.% HgSe, в кадмійвмісній - до 4 мол.% CdSe, в цинквмісній - до 1 мол.% ZnSe. В цих системах склоподібні сплави знаходяться в області моноваріантної кривої (від бінарної евтектики в середину концентраційного трикутника), де, відповідно, кривизна ліній ліквідуса є мінімальною.

У п'ятому розділі проведено обговорення результатів досліджень фазових рівноваг та областей склоутворення у системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se). Встановлено закономірності та особливості фазових рівноваг у квазіпотрійних системах BIIX - Ga2X3 - DIVX2 (BII - Zn, Cd, Hg; DIV - Ge, Sn; X - S, Se) при планомірній заміні компонентів. Також розглядається імовірна структура склоподібних сплавів системи HgS - Ga2S3 - GeS2 на основі аналізу спектрів КРС.

Розглядаючи фазові діаграми систем BIISe-Ga2Se3-DIVSe2, де BII - Zn, Cd, Hg, DIV - Ge, Sn, всі представники яких досліджені, можна бачити, що на характер фазових рівноваг має вплив перш за все заміна сполук BIIX. В ряду ZnSeCdSeHgSe суттєво зменшується температура плавлення - 1793 К1523 К1072 К, що приводить до того, що тип утворення сполук BIIGa2Se4 та положення нонваріантних точок залежить від температур плавлення ВIISe. Відповідно, температура плавлення BIISe, наявність проміжних фаз і координати нонваріантних точок визначають положення і величину областей склоутворення в даних квазіпотрійних системах. Так, вміст компоненту BIISe в системах ВIISe - Ga2Se3 - GeSe2 становить: в цинквмісній - до 5 мол.% ZnSe, в кадмійвмісній - до 30 мол.% CdSe, в меркурійвмісній системі - 54 мол.% HgSe. Склоподібні сплави знаходяться в основному в полі первинної кристалізації GeSe2, який виступає склоутворювачем, і включають склади нонваріантних точок.

Заміна Ge на Sn не приводить до значних відмінностей в характері фазових рівноваг, існує лише незначна різниця в координатах нонваріантних точок. Якщо аналізувати величини областей склоутворення в системах BIISe-Ga2Se3-SnSe2, то видно, що при заміні ZnSe на CdSe і далі на HgSe також спостерігається збільшення величини області склоутворення, але вони займають значно менший концентраційний інтервал.

Однією з структурних особливостей стекол є наявність ближнього і середнього порядку при повній відсутності дальнього порядку в розміщенні атомів. Спектри КР стекол квазібінарної HgS - GeS2 та квазіпотрійної HgS - Ga2S3 - GeS2 систем дозволяють робити припущення про структуру досліджуваних зразків. Відомо, що структура склоподібного GeS2, наслідуючи структуру кристалічного -GeS2, складається з тетраедричних структурних одиниць [GeS4], які з'єднуються кутами та ребрами, утворюючи квазітривимірну сітку. Атоми сірки із усередненим координаційним числом 2 грають роль місткових з'єднань між тетраедрами.

Під час аналізу параметрів спектрів розсіювання склоподібних сплавів системи HgS - GeS2 було виявлено, що частотне положення та напівширина смуг розсіювання характерних для склоподібного GeS2 (=340, 370, 400, 435 см-1), практично не змінюються, однак із зменшенням вмісту германій дисульфіду їх інтенсивність зменшується (Табл. 2). Крім того, при введенні у склад скла HgS з'являється додаткова смуга розсіювання при =312-331 см-1. Із збільшенням його вмісту інтенсивність цієї смуги зростає, а її положення зміщується в низькочастотну сторону. Можна було б припустити, що ця смуга обумовлена наявністю угрупувань, характерних для кристалічної фази HgS, але відомо, що смуги розсіювання різних модифікацій HgS лежать в частотному діапазоні 150_270 см-1. Із збільшенням вмісту HgS до 50 мол.% спектр КР розкладається вже на шість смуг, що зумовлено появою нової смуги розсіювання з =460 см-1.

Для пояснення закономірностей характеру зміни на КР спектрах зі зміною складу зручно звернутися до стабільної діаграми стану системи HgS - GeS2, що є найбільш об'єктивним шляхом для з'ясування взаємозв'язків склад-структура-властивості. Область склоутворення у цій системі (0-50 мол.% HgS) охоплює дві ділянки ліквідусу - первинної кристалізації фаз ВТ-GeS2 та Hg4GeS6, які розділені евтектикою при 44 мол.% HgS.

Таблиця 2 Результати розкладу спектрів КРС системи GeS2 - HgS

Параметри смуг розсіювання

мол.% HgS

1

2

3

4

5

6

1

см-1

І1

2

см-1

І2

3

см-1

І3

4

см-1

І4

5

см-1

І5

6

см-1

І6

0

340,7

56

372,7

14

400,2

25

435,6

10

-

-

-

-

5

344,1

31

370,9

19

403,4

24

436,5

8

328,0

22

-

-

10

344,9

20

370,9

25

404,6

26

436,2

11

331,2

46

-

-

15

344,2

9

371,0

27

409,9

10

435,2

9

328,0

41

-

-

25

343,8

20

368,4

38

411,6

25

435,7

6

320,6

66

-

-

30

343,3

18

368,4

29

410,2

20

434,0

5

316,5

63

-

-

40

343,7

17

371,0

27

402,9

8

426,8

12

312,1

76

-

-

50*

339,1

1,6

372,5

3

406,2

3

428,6

0,9

322,0

15

462,2

0,9

* - зразок лежить в полі первинної кристалізації Hg4GeS6

У відповідності до поняття про псевдофази, яке було введене Порай-Кошицем, а також квазіевтектичною теорією Фунтікова, структура багатокомпонентних стекол побудована з фрагментів (структурних одиниць) стабільних та метастабільних сполук, які існують у системі. Тобто, склоподібні сплави до певної міри “відтворюють” характер взаємодії компонентів, відображений стабільною фазовою діаграмою. Однак, таке “відтворення” супроводжується втратою дальнього порядку, який характерний для кристалічних речовин, за рахунок утворення великої кількості центрів кристалізації і неможливість їх укрупнення через надмірно швидкий ріст в'язкості розплаву.

Розглядаючи з цієї точки зору отримані результати, можна припустити, що поява нової смуги розсіювання з н?312-331 см-1 імовірно обумовлена коливаннями структурних одиниць [HgS4S], які утворюють структуру фази Hg4GeS6.

Смуга при н?462.2 см-1 , яка реєструється для зразка з 50 мол.% HgS, напевне обумовлена розвитком структури псевдофази Hg4GeS6 і пов'язана з появою зв'язків [HgS4S]-S-[HgS4S] у заевтектичних складах.

Комбінаційне розсіювання світла у склоподібних зразках системи Ga2S3 - GeS2 детально описано в літературі раніше. Як було виявлено, у матриці склоподібного германій дисульфіду Ga2S3 діє як коформер, збільшуючи кількість з'єднаних ребрами катіонних тетраедрів. Схильність атомів галію до утворення тетраедричних структурних одиниць індукує збільшення кількості утворень S3Ge - GeS3. Відзначено також, що розділення смуг обумовлених коливаннями однакових за будовою агрегатів, які утворені атомами Ga чи Ge дуже ускладнене через незначну різницю у масі цих атомів, що обумовлює незначну різницю у значеннях хвильових чисел відповідних смуг. Так, молекулярні моди 1 1) тетраедрів [GeS4] та [GаS4] мають виявитися при 340см-1 та 350см-1, відповідно. Антисиметричним модам коливань 3 (F2) тих самих структурних одиниць відповідають хвильові числа 400 см-1 та 390 см-1, для Ge та Ga відповідно. Розділення смуг, зумовлених коливаннями з'єднаних кутами чи ребрами тетраедрів [Ge(Ga)S4] є ще більшою проблемою - до близькості їх частотних положень додається можливість статистики Ga - Ge, що викликає виникнення проміжних значень хвильових чисел.

При переході складу склоподібних зразків у концентраційний трикутник HgS - Ga2S3 - GeS2 (Табл. 3) вигляд спектрів комбінаційного розсіювання світла також є залежним від вмісту компонентів. Для їх аналізу також слід звернутися до поверхні ліквідусу стабільної фазової діаграми системи. Досліджені стекла за складом відповідають областям первинної кристалізації фаз GeS2, Ga2S3, HgGa6S10 та HgGa2S4. При введенні HgS у склад зразка у КР спектрах стекол квазіпотрійної системи HgS - Ga2S3 - GeS2 (як і у випадку системи HgS - GeS2) з'являється смуга з =311-335 см-1, імовірно обумовлена коливаннями деформованих тетраедрів [HgS4S]. У зразках, яким на діаграмі стану відповідають області первинної кристалізації фаз GeS2 та Ga2S3 частотне положення цієї смуги практично стале.

Таблиця 3Результати розкладу спектрів КРС системи HgS - Ga2S3 - GeS2

склад, мол.%

Первинна кристалізація

Параметри смуг розсіювання

1

2

3

4

5

6

HgS

Ga2S3

GeS2

1, см-1

1

2, см-1

2

3, см-1

3

4, см-1

4

5, см-1

5

6, см-1

6

-

-

100

GeS2

-

-

340,7

56

372,7

14

400,2

25

435,6

10

-

-

2,5

7,5

90

GeS2

-

-

344,4

34

377,8

5

402,8

14

439,1

5

-

-

10

10

80

GeS2

329,2

13,5

346,8

18

375,2

10

408,2

9

438,4

3,6

-

-

15

5

80

GeS2

335,8

19

347,5

3

377,2

4

408,9

5

439,3

2

-

-

30

10

60

GeS2

323,2

18,5

346,3

6,5

371,3

10

412,1

4

435,2

2

-

-

5

15

80

Ga2S3

327,1

1,5

345

4

372,5

3

412,9

2

442,7

0,6

-

-

7,5

22,5

70

Ga2S3

326,8

6

343,4

14

371,6

18

417,8

5

439,6

2

-

-

15

15

70

HgGa6S10

318,9

6,5

345,2

21

373,3

4

401

17

440,3

3

-

-

22,5

22,5

55

HgGa6S10

317,8

8

343,1

23

378,5

11

414,3

5

437,4

2

-

-

41

14

45

HgGa2S4

319,8

9

344,4

13

379

7

414,1

3

434,5

1

302,6

6

55

5

40

HgGa2S4

311,4

9

343,8

9

377,4

2

405,7

3

432,5

0,7

290,8

3

При переході складів у області первинної кристалізації потрійних сполук HgGa6S10 та HgGa2S4 смуга дещо зміщується у бік низьких частот. Можливо таке зміщення обумовлене зменшенням деформації тетраедрів [HgS4] через розвиток структури потрійних тіогалатів. Відомостей про кристалічну структуру сполуки HgGa6S10 немає, що викликано складностями синтезу. У випадку первинної кристалізації фази HgGa2S4 КР спектри склоподібних зразків мають ще одну особливість - з'являється смуга розсіювання з =291-303 см-1. Найімовірніше вона зумовлена розвитком структурного мотиву фази HgGa2S4.

На основі дослідження склоподібних зразків системи HgS - Ga2S3 - GeS2 методом КР спектроскопії було зроблено висновок про наявність взаємозв'язку структури отриманих стекол з стабільною діаграмою стану системи. Показано, що при переході через моноваріантні криві, які розмежовують області первинної кристалізації фаз, структура стекол змінюється. Це обумовлено розвитком структурного мотиву фази, яка первинно кристалізується з розплаву відповідно до стабільної діаграми стану. В більшій мірі це стосується тих кристалічних фаз, у формі яких модифікатор (HgS) входить у матрицю скла (Hg4GeS6, HgGa6S10, HgGa2S4) і у меншій - фаз, які відповідають склоутворювачу (GeS2) та коформеру (Ga2S3). Структурні одиниці останніх наявні в усіх квазіпотрійних склоподібних зразках. Наведена інтерпретація результатів КРС спектроскопії добре узгоджується з даними рентгендифракційного дослідження зразка складу Hg4,8Ga9,5Ge22,2S63,5 (склад наведений за результатами хімічного аналізу), який лежить в полі первинної кристалізації HgGa6S10.

ВИСНОВКИ

Вперше вивчені фазові рівноваги в квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - GeSе2 i ZnSе - Ga23 - SnSе2, для яких встановлено характер і температури протікання моно- та нонваріантних процесів, побудовані ізотермічні перерізи при 670 К, проекції поверхонь ліквідуса та просторові діаграми стану. Проведено аналіз діаграм фазових рівноваг досліджених в цій роботі та раніше вивчених систем типу BIIX - Ga2X3 - DIVX2. Характерним для систем даного типу є відсутність тетрарних проміжкових фаз, що узгоджується із теоретичними передумовами пошуку нових алмазоподібних напівпровідників розроблених Горюновою. Встановлено, що характер фазоутворення суттєво залежить від температури плавлення компоненту BIIX.

Проведено уточнення діаграм фазових рівноваг квазібінарних систем HgS - GeS2 та ZnSе - SnSе2, для яких в процесі дослідження виникли розбіжності з літературними даними. В системі HgS - GeS2 підтверджено наявність сполуки Hg4GeS6 і заперечено існування фази HgGe2S5. В системі ZnSе - SnSе2 уточнено лінію первинної кристалізації ZnSе та підтверджено евтектичний тип квазібінарної системи.

Встановлено величини областей склоутворення в квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2, CdSе - Ga23 - SnSе2 та уточнено в системі HgSе - Ga23 - SnSе2. Для склоподібних сплавів досліджуваних систем визначено мікротвердість, характеристичні температури та обчислено приведену температуру склування.

Всі стекла селенвмісних систем були отримані при однаковому режимі гарту, що дало можливість порівняти величини областей склоутворення, які зростають при переході в рядах ZnSeCdSeHgSe, як в германій, так і станумвмісних системах. Така картина пов'язана із збільшенням ковалентної складової хімічного зв'язку, зменшенням температури плавлення бінарних сполук, що спричинює зменшення температурного інтервалу між лініями ліквідуса і солідуса та присутності більшої кількості проміжних фаз у системах.

Заміна GeSe2SnSe2 приводить до значного зменшення областей склоутворення, що викликано зростанням металічної складової хімічного зв'язку. В системі HgS - Ga2S3 - GeS2 стекла гартували від температури на 150-200 К вище температури ліквідуса. При цьому режимі у склоподібному стані одержуються сплави із максимальним вмістом HgS - 55 мол.% та Ga2S3 -27 мол.%.

На основі дослідження склоподібних зразків системи HgS - Ga2S3 - GeS2 методом КР спектроскопії визначено їх імовірну будову та охарактеризовано роль, яку відіграє кожний з атомів залежно від складу в структурі скла. Структурною одиницею в склі є тетраедри [ES4], відповідним чином з'єднані між собою. Розглядається можливість утворення більш складної структурної одиниці [HgS4S]. Показано, що структура скла змінюється при переході з одного фазового поля в інше, що обумовлено розвитком структурного мотиву фази, яка первинно кристалізується в цьому полі відповідно до стабільної діаграми стану. Результати КР спектроскопії підтверджено розрахунками структури скла складу 70 мол.% GeS2 - 15 мол.% Ga2S3 - 15 мол.% HgS методом оберненого Монте-Карло.

ОСНОВНИЙ ЗМІСТ РОБОТИ ВИКЛАДЕНО У ПУБЛІКАЦІЯХ:

Olekseyuk I.D., Parasyuk O.V., Bozhko V.V., Petrus I.I., Galyan V.V., Glassformation and Properties of Glasses of the Quasi-ternary Zn(Cd,Hg)Se - Ga2Se3 - SnSe2 System // Functional Materials. - 1999. - V.6,N3. - P.304-308.

Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Парасюк О.В. - обговорення результатів. Божко В.В. - обговорення результатів фізичних досліджень. Мазурець І.І. - синтез склоподібних зразків, дослідження їх методами диференційно-термічного та мікроструктурного аналізів. Галян В.В. - визначення оптичної енергії іонізації, дослідження спектрального розподілу коефіцієнта поглинання та фотопровідності.

Olekseyuk I.D., Bozhko V.V., Parasyuk O.V., Galyan V.V., Petrus I.I.*, Phisico-chemical and Phisical Properties of Glasses of the Quasi-ternary HgSe - GeSe2 System // Functional Materials. - 1999. - V.6,N3. - P.308-312.

Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Божко В.В. - обговорення результатів фізичних досліджень. Парасюк О.В. - обговорення результатів. Галян В.В. - дослідження спектрального розподілу коефіцієнта поглинання та фотопровідності. Мазурець І.І. - синтез склоподібних зразків, дослідження їх методами диференційно-термічного та мікроструктурного аналізів.

Олексеюк І.Д., Парасюк O.В., Петрусь І.І.* Ізотермічний переріз системи HgS-Ga2S3-GeS2 при 670 K // Науковий вісник ВДУ. Хімічні науки. - 2001. - №6. - С.38-40.

Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Парасюк О.В. - обговорення результатів. Мазурець І.І. - синтез зразків, дослідження їх методами рентгенофазового та мікроструктурного аналізів.

Olekseyuk I.D., Mazurets I.I., Parasyuk O.V. Phase relation in ZnSe-Ga2Se3-GeSe2 system // J. Alloys Comp. 351 (2003) Р. 171-175.

Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Мазурець І.І. - синтез зразків, дослідження їх методами диференційно-термічного, рентгенофазового та мікроструктурного аналізів. Парасюк О.В. - обговорення результатів.

Parasyuk O.V., Olekseyuk I.D., Mazurets I.I., Piskach L.V. Phase equilibria in the quasi-ternary ZnSe - Ga2Se3 - SnSe2 system //J. Alloys Comp. - 2004. - V.379 - Р.143-147.

Парасюк О.В. - обговорення результатів. Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Мазурець І.І. - синтез зразків, дослідження їх методами диференційно-термічного, рентгенофазового та мікроструктурного аналізів.

Галян В.В., Парасюк О.В., Кевшин А.Г., Давидюк Г.Є., Федонюк А.А., Мазурець І.І., Пехньо В.І. Особливості оптичного поглинання та електропровідності склоподібних сплавів системи HgS-GeS2 // Науковий вісник ВДУ. Розділ ІІ. Фіз.-мат. науки. - 2005. - №1. - С.39-42.

Галян В.В. - визначення оптичного поглинання та електропровідності. Парасюк О.В. - обговорення результатів. Кевшин А.Г. - визначення оптичного поглинання. Давидюк Г.Є. - обговорення результатів. Федонюк А.А. - визначення електропровідності. Мазурець І.І. - синтез склоподібних зразків. Пехньо В.І. - постановка задачі дослідження.

Олексеюк І.Д., Парасюк О.В., Божко В.В., Галян В.В., Петрусь І.І. Склоутворення в квазіпотрійних системах Zn(Cd,Hg)Se-Ga2Se3-GeSe2 // Наукові записки Рівненського педінституту. - 1997. - Випуск 3. - С.148-152.

Олексеюк І.Д. - постановка задачі дослідження. Парасюк О.В. - синтез склоподібних зразків системи Cd(Hg)Se-Ga2Se3-GeSe2, дослідження їх методами диференційно-термічного та мікроструктурного аналізів. Божко В.В. - обговорення результатів фізичних досліджень. Галян В.В. - дослідження спектрального розподілу коефіцієнта поглинання та фотопровідності. Мазурець І.І. - синтез склоподібних зразків системи ZnSe-Ga2Se3-GeSe2, дослідження їх методами диференційно-термічного та мікроструктурного аналізів.

Нечипорук Б.Д., Філоненко В.В., Олексеюк І.Д., Парасюк О.В., Петрусь І.І., Оптичні та фізико-хімічні властивості стекол системи HgS-GeS2 // Релаксаційно-, нелінійно- та акустооптичні процеси; матеріали: вирощування й оптичні властивості. Тез.доп. - Луцьк. - 1999 - С.6-7.

Божко В.В., Галян В.В., Олексеюк І.Д., Парасюк О.В., Петрусь І.І.*, Фотолюмінісценція твердих розчинів ZnSe-Ga2Se3 // Релаксаційно-, нелінійно- та акустооптичні процеси; матеріали: вирощування й оптичні властивості. Тез.доп. - Луцьк. - 1999 - С.9.

Божко В.В., Галян В.В., Олексеюк І.Д., Парасюк О.В., Петрусь І.І.*, Особливості краю поглинання і фотопровідність стекол системи HgSе-GeSе2 // Релаксаційно-, нелінійно- та акустооптичні процеси; матеріали: вирощування й оптичні властивості. Тез.доп. - Луцьк. - 1999 - С.10-11.

Парасюк О.В., Петрусь І.І.* Фазові рівноваги та склоутворення в системах Zn(Cd,Hg)Se-Ga2Se3-GeSe2 // XV Українська конференція з неорганічної хімії за міжнародною участю. Тез. доп. - Київ - 2001 - С. 216.

Parasyuk O.V., Olekseyuk I.D., Piskach L.V., Mazurets I.I., Galagan V.Ya. Phase equelibria in the quasy-ternary Zn/Cd/Se-Ga2Se3-SnSe2 systems // VIII Int. On Crystal Chem. Of Intermetallic Compounds. Abstract. - Lviv. - 2002 - P.48.

Олексеюк І.Д., Парасюк О.В., Мазурець І.І., Піскач Л.В., Галаган В.Я. Склоутворення та фазові рівноваги в системі HgS-Ga2S3-GeS2 // ІX Міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок. Тез. доп. - Івано-Франківськ - 2003 - Т.ІІ - С. 54.

АНОТАЦІЯ

Мазурець І.І. “Фазові рівноваги та склоутворення в квазіпотрійних системах ВIIX - Ga2X3 - DIVX2 II - Zn, Cd, Hg; DIV - Gе, Sn; X - S, Se)” - Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата хімічних наук за спеціальністю 02.00.01 - неорганічна хімія. - Львівський національний університет ім. Івана Франка, Львів, 2006.

За результатами дослідження методами диференційно-термічного, рентгенофазового та мікроструктурного аналізів для систем HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - Ge(Sn)Sе2 побудовано політермічні та ізотермічні перерізи, проекції поверхні ліквідуса та просторові діаграми стану.

Встановлено величини областей склоутворення в квазіпотрійних системах HgS - Ga2S3 - GeS2, ZnSе - Ga23 - GeSе2, Zn(Cd,Hg)Sе - Ga23 - SnSе2. Для склоподібних сплавів досліджуваних систем визначено мікротвердість, характеристичні температури та обчислено приведену температуру склування.

Проведено порівняння характеру взаємодії та величин областей склоутворення при зміні компонентів систем BIISe - Ga2Se3 - DIVSe2, де BII - Zn, Cd, Hg, DIV - Ge, Sn. Встановлено, що на характер фазових рівноваг найбільше впливає заміна сполук BIIX.

На основі дослідження склоподібних зразків системи HgS - Ga2S3 - GeS2 методом КР спектроскопії визначено їх імовірну будову та охарактеризовано роль, яку відіграє кожний з атомів залежно від складу в структурі скла, а також зроблено висновок про наявність взаємозв'язку структури отриманих стекол з концентраціями компонентів та стабільною діаграмою стану системи. Показано, що при переході через моноваріантні криві, які розмежовують області первинної кристалізації фаз, структура стекол змінюється.

АННОТАЦИЯ

Мазурец И.И. Фазовые равновесия и стеклообразование в квазитройных системах ВIIX - Ga2X3 - DIVX2 II - Zn, Cd, Hg; DIV - Gе, Sn; X - S, Se)” - Рукопись.

Диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук по специальности 02.00.01 - неорганическая химия. - Львовский национальный университет им. Ивана Франка, Львов, 2006.

Диссертация содержит результаты исследования взаимодействия компонентов в квазитройных системах BIISe - Ga2Se3 - DIVSe2, где BII - Zn, Cd, Hg, DIV - Ge, Sn, Х - S, Se.

По результатам исследования методами диференциально-термического, рентгенофазового, микроструктурного анализов построены Т-х диаграммы 8 политермических разрезов квазитройной системы HgS - Ga2S3 - GeS2, изотермическое сечение при 670 К, проекция поверхности ликвидуса и пространственная диаграмма состояния. При 670 К все фазы существуют в твердом состоянии. Поверхность ликвидуса состоит из семи полей первичной кристаллизации, которые разделены 11 моновариантными линиями и 12 нонвариантными точками из которых 5 тройных.

Для построения диаграммы состояния квазитройной системы ZnSe-Ga2Se3-GeSe2 исследовалось 89 сплавов. Построено изотермический разрез системы при 670 К. Проекция поверхности ликвидуса этой системы состоит из четырех полей первичной кристаллизации фаз. Поле первичной кристаллизации ZnSe, как самой высокотемпературной фазы, занимает наибольшую площадь концентрационного треугольника. Поля первичной кристаллизации разделены 5 моновариантными линиями и 6 нонвариантными точками, две из которых тройные и четыре двойные. Соответственно количеству тройных нонвариантных процессов на пространственной диаграмме находятся две горизонтальные плоскости.

Система ZnSe - Ga2Se3 - SnSe2 аналогична системе ZnSe - Ga2Se3 - GeSe2. Разница состоит только в координатах и температурах нонвариантных процессов.

Проведено сравнение характера взаимодействия и размеров областей стеклообразования при замещении компонентов систем BIISe - Ga2Se3 - DIVSe2, где BII - Zn, Cd, Hg, DIV - Ge, Sn. Установлено, что на характер фазовых равновесий более всего влияет замена соединений BIIX. В ряду ZnSeCdSeHgSe существенно снижается температура плавления - 1793 К1523 К1072 К, что приводит к тому, что характер образования соединений BIIGa2Se4 и положение нонвариантных точек зависит от температур плавления ВIISe. Температура плавления BIISe, существование промежуточных фаз и координаты нонвариантных точек определяют положение и размер областей стеклообразования в данных квазитройных системах. Содержание компонента BIISe в системах ВIISe - Ga2Se3 - GeSe2: с цинком - 5 мол.% ZnSe, с кадмием - 30 мол.% CdSe, с ртутью - 54 мол.% HgSe.

Замена Ge на Sn не приводит к значительной разнице в характере фазовых равновесий, существует только незначительная разница в координатах нонвариантных точек. Если анализировать размеры областей стеклообразования в системах BIISe - Ga2Se3 - SnSe2, то видно, что при замене ZnSe на CdSe и дальше на HgSe также наблюдается увеличение размера области стеклообразования. Так содержание компонента BIISe в этих системах: с ртутью - 5 мол.% HgSe, с кадмием - 4 мол.% CdSe, с цинком - 1 мол.% ZnSe. В этих системах стекла находятся в области бинарной эвтектики системы Ga2Se3 - SnSe2.

...

Подобные документы

  • Характеристика і практичне застосування дво- та трикомпонентних систем. Особливості будови діаграм стану сплавів. Шляхи первинної кристалізації розплаву. Точки хімічних сполук, евтектики та перитектики. Процес ліквації і поліморфних перетворень в системі.

    курсовая работа [2,9 M], добавлен 27.03.2014

  • Методи дослідження рівноваги в гетерогенних системах. Специфіка вивчення кінетики хімічних реакцій. Дослідження кінетики масообміну. Швидкість хімічної реакції. Інтегральні методи розрахунку кінетичних констант. Оцінка застосовності теоретичних рівнянь.

    курсовая работа [460,7 K], добавлен 02.04.2011

  • Якісний аналіз нікелю. Виявлення нікелю неорганічними та органічними реагентами, методи його відділення від супутніх елементів. Гравіметричні методи та електровагове визначення. Титриметричний метод визначення нікелю з використанням диметилдіоксиму.

    курсовая работа [42,5 K], добавлен 29.03.2012

  • Характеристика та класифікація аніонів. Виявлення аніонів, використовуючи реакції з катіонами. Особливості протікання аналітичних реакцій аніонів, виявлення окремих іонів. Аналіз суміші аніонів І, ІІ та ІІІ груп. Систематичний хід аналізу суміші аніонів.

    курсовая работа [165,5 K], добавлен 13.10.2011

  • Классификация дисперсных систем по структурно-механическим свойствам. Возникновение объемных структур в различных дисперсных системах. Анализ многообразия свойств в дисперсных системах. Жидкообразные и твердообразные тела. Тиксотропия и реопексия.

    реферат [228,7 K], добавлен 22.01.2009

  • Хімічний склад природних вод. Джерела надходження природних і антропогенних інгредієнтів у водні об'єкти. Особливості відбору проб. Застосовування хімічних, фізико-хімічних, фізичних методів анализу. Специфіка санітарно-бактеріологічного аналізу води.

    курсовая работа [42,2 K], добавлен 09.03.2010

  • Види структур сплавів, схема розподілу атомів у гратах твердих розчинів. Залежність властивостей сплавів від їх складу. Основні методи дослідження та їх характеристика. Зв’язок діаграми стану "залізо-цементит" із властивостями сталей, утворення перліту.

    курсовая работа [2,3 M], добавлен 15.02.2011

  • Обчислення вибіркових характеристик хімічних елементів, перевірка на випади, кореляційний аналіз. Побудова регресійної моделі сталі. Опис значимості коефіцієнтів рівняння. Рекомендації щодо підвищення властивостей з використанням математичної моделі.

    контрольная работа [1,4 M], добавлен 19.04.2015

  • Значення елекропровідності основних типів спряжених полімерів та методи їх одержання. Використання поліанілінових нанокомпозитів, рентгенометричні дані глауконітів. Дериватогафічний та термічний аналіз композиційного матеріалу, мікроскопічні дослідження.

    дипломная работа [1,4 M], добавлен 01.04.2011

  • Розгляд систем зі змішаним титруванням. Розробка методичних принципів поєднання одночасних титрометричних реакцій різних типів в єдиному титрометричному акті, виявлення переваг такого поєднання. Послідовні та одночасні титрометричні реакції різних типів.

    статья [141,8 K], добавлен 31.08.2017

  • Якісний аналіз об’єкту дослідження: попередній аналіз речовини, відкриття катіонів та аніонів. Метод визначення кількісного вмісту СІ-. Встановлення поправочного коефіцієнту до розчину азоткислого срібла. Метод кількісного визначення та його результати.

    курсовая работа [23,1 K], добавлен 14.03.2012

  • Диаграммы состояния двухкомпонентных систем. Оксиды алюминия и железа, их гидратированные формы. Применение и получение композиций на основе оксидных систем. Методы "мокрой химии". Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ.

    дипломная работа [4,3 M], добавлен 27.11.2013

  • Определение устойчивости дисперсных систем. Термодинамическая устойчивость лиофильных систем. Седиментация и диффузия. Гипсометрический закон. Седиментационно-диффузионное равновесие. Гипсометрический закон Лапласа-Перрена. Скорость коагуляции частиц.

    контрольная работа [130,3 K], добавлен 23.01.2015

  • Дослідження явища хімічних зв’язків - взаємодії між атомами, яка утримує їх у молекулі чи твердому тілі. Теорія хімічної будови органічних сполук Бутлерова. Характеристика типів хімічного зв’язку - ковалентного, йодного, металічного і водневого.

    презентация [950,3 K], добавлен 17.05.2019

  • Понятие о дисперсных системах. Разновидность дисперсных систем. Грубодисперсные системы с твердой дисперсной фазой. Значение коллоидной системы для биологии. Мицеллы как частицы дисперсной фазы золей. Последовательность в составлении формулы мицеллы.

    реферат [16,2 K], добавлен 15.11.2009

  • Шляхи попадання формальдегіду в атмосферу, методичні рекомендації про визначення його в біосередовищах методом тонкошарової хроматографії. Кількісне визначення формальдегіду, йодометричний та сульфітний методи. Аналіз стану атмосферного повітря.

    курсовая работа [165,7 K], добавлен 24.02.2010

  • Основні положення атомно-молекулярного вчення. Періодичний закон і система хімічних елементів Менделєєва. Електронна теорія будови атомів. Характеристика ковалентного, водневого і металічного зв'язку. Класифікація хімічних реакцій і поняття електролізу.

    курс лекций [65,9 K], добавлен 21.12.2011

  • Загальна характеристика Сульфуру, його сполук. Характеристика простих речовин Сульфуру. Визначення рН. Дослідження розчинності препаратів в органічних розчинниках. Визначення рН водних суспензій. Якісні реакція на виявлення сульфуру, сульфатів, сульфітів.

    курсовая работа [2,4 M], добавлен 30.11.2022

  • Аналітична хімія — розділ хімії, що займається визначенням хімічного складу речовини. Загальна характеристика металів. Хроматографічний метод аналізу. Ретельний опис обладнання, реактивів та посуду для хімічного аналізу. Методика виявлення катіонів.

    курсовая работа [528,6 K], добавлен 27.04.2009

  • Поняття елементарної комірки. Основні типи кристалічних ґраток. Індекси Міллера. Основні відомості про тантал: його отримання, застосування, фізичні та хімічні властивості. Фазовий склад та фазові перетворення в тонких плівках Ta, розрахунок переходу.

    контрольная работа [893,0 K], добавлен 25.01.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.