Операційний контроль форми полірованих поверхонь

Основні методи контролю форми плоских поверхонь і практичне вимірювання відступу від площини. Особливості інтерференційних методів контролю форми плоских полірованих поверхонь. Обладнання для виконання лабораторної роботи. Аналіз результатів вимірювання.

Рубрика Производство и технологии
Вид лабораторная работа
Язык украинский
Дата добавления 20.05.2013
Размер файла 9,2 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Лабораторна робота № 4. Операційний контроль форми полірованих поверхонь

Мета роботи: вивчити методи контролю форми плоских поверхонь і практично виміряти відступ від площини.

Завдання

Вивчити інтерференційні методи контролю форми плоских полірованих поверхонь.

Використовуючи еталон з проконтролювати форму трьох плоских деталей. Визначити вигляд ("горб", "яма") і величину загальної помилки, визначити вигляд ("місцевий горб", "місцева яма") та величину місцевих помилок.

Визначити загальну N і місцеву ?N помилки.

Обладнання для виконання лабораторної роботи

Плоскі деталі - 10 шт.

Спирт.

Серветки - 5 шт.

Набір пробного скла (еталони) - 10 шт.

Кісточки з білчачого хутра - 3 шт.

Контрольна скоба (або мікрометр) - 3 шт.

Теоретичні положення

Контроль форми точних полірованих поверхонь базується на використанні явища інтерференції світла, яка виникає в повітряному проміжку між контрольованою поверхнею і еталонною, радіус кривизни якої (в даній роботі ) відповідає заданому на кресленні.

Якщо контрольовану поверхню деталі сумістити з вимірювальною поверхнею еталону, то при невідповідності їх форми утворюється повітряний проміжок змінної величини, котрий можна розглядати як пластину товщини h з показником переломлення n=1. Різниця ходу д променів світла з довжиною хвилі л, падаючих на пластинку під кутом б і відбитих від поверхонь, обмежуючих проміжок. Дорівнює . При падінні світла під нормаллю до поверхні: Якщо різниця ходу кратна парному числу л/2, проходить підсилення світла, якщо непарному - послаблення. В зазор зі змінною товщиною h різниця ходу променів різна. При широкому джерелі світла чергуючи інтерференційні смуги розміщуються там, де величина зазорів однакова, тому вони мають однакову товщину.

При спостережені в білому світлі видно кольорові кільця, в монохроматичному - темні та світлі. При переході від кільця до кільця однакового кольору товщина повітряного проміжку міняється на л/2. Число кілець любого (але одного) кольору характеризує різницю стрілок згину поверхні деталі та еталону. Відхилення радіусу кривизни контрольованої поверхні від заданого (еталону) називають загальною помилкою і позначають знаком N. Форма інтерференційних кілець в розрізі, паралельному їх напрямку, відтворює профіль повітряного проміжку між поверхнями деталі і еталону. Якщо кривизна поверхні деталі змінюється плавно, кільця мають вигляд правильних дуг кіл. Найчастіше зустрічаються наступні похибки форми поверхні:

"горб " - умовна назва помилки, при якій величина зазору на краю більше, ніж в центр (рис. 4.1 а);

"яма " - умовна назва помилки, при якій величина зазору в центр більше, ніж на краю (рис. 4.1 б).

Якщо загальна помилка мала (N<1), то замість кілець інтерференції з'являються рівномірно замальовані картини. По їх центру визначають величину похибки: червоний колір - , синій - , жовтий - . Для більш точного вирахування величини похибок між контрольованою та виміряною поверхнями утворюють повітряний клин. Тоді інтерференційна картина виглядає як набір рівних смужок. Про величину N загальної похибки судять по відношенні стрілки згину смужки до розміру Н між сусідніми смужками одного кольору (рис. 4.2.) - червоний при спостереженні в білому кольорі, темний - в монохроматичному.

Нерегулярність форми контрольованої поверхні в різних зонах називається місцевою помилкою. Типові помилки: "місцева яма" (рис. 4.3 а),. "місцевий горб" (рис. 4.3 б), "припіднятий край" (рис. 4.3 в), "завал" (рис. 4.3 г), "астигматизм" (рис. 4.4).

Астигматизм - умовна назва помилки, при котрій величина проміжку неоднакова по абсолютній величині в двох взаємно перпендикулярних напрямках. Величину астигматизму оцінюють порівнянням з картинками контрольної таблиці.

Рис. 4.1 Типові похибки форми поверхні: а) - горб; б) - яма

Рис. 4.2 До розрахунку величини похибки

Рис. 4.3 Типові похибки поверхні оптичної деталі

інтерференційний метод полірована поверхня

Рис.4.4 Астигматизм сферичної поверхні оптичної лінзи

Основний зміст роботи

Еталони застосовують у вигляді, так званих, пробних скелець для безпосереднього прикладання їх вимірювальної поверхні на контрольовану поверхню деталі - для безконтактних вимірювань.

Для отримання уяви про форму всієї поверхні та аналізу про наявність чи відсутність на ній місцевих похибок, розмір контрольованої деталі повинен бути менше еталону.

Якщо деталь більше еталону, стрілка згину Ng на діаметрі dg деталі визначається за формулою:

де: dе - діаметр еталону;

Nе - стрілка згину (в інтерференційних смугах) контрольованої поверхні на діаметр еталону.

Пробні скельця - еталони плоскої сферичної поверхні заданого радіусу кривизни - мають діаметр до 130 мм. Радіуси кривизни вимірюваної поверхні сферичних пробних скелець нормалізовані.

Для кожного значення радіуса, в тому числі , в умовах серійного виробництва виготовляють три пари пробних скелець:

РПС - робочі пробні скельця для контролю поверхонь;

КПС - контрольні пробні скельця для перевірки поверхонь робочих пробних скелець; ОПС - основні пробні скельця для перевірки контрольних скелець.

Вимоги дрібносерійного виробництва допускають лише наявність РПС і ОПС. Сферичні пробні скельця всіх радіусів кривизни виготовляють парами - випуклими і вгнутими. По точності форми вимірювальної поверхні пробні скельця діляться на три класи.

Відхилення радіусів кривизни вимірювальних поверхонь сферичних ОПС від номінальних значень R та відхилення від площини плоских ОПС не повинні перевищувати величин, приведених в наступній таблиці.

Таблиця 4.1

Відхилення від площини плоских основних пробних скелець

Клас точності пробних скелець

Сферичні скельця з найменшим значенням радіусів R, мм

Плоскі скельця

Від 0,5 до 2,0

Більше 2 до 10

Більше 10 до 37,5

Більше 37,5 до 250

Більше 250 до 1000

Більше 1000 до 4000

Допустиме відхилення від плоскості N

Допустимі відхилення Р (+)

мкм

% номінального значення

1

0,5

0,1

2,0

0,01

0,02

0,02/1000

0,05

2

1,0

3,0

5,0

0,03

0,05

0,05/1000

0,07

3

2,0

10,0

15,0

0,10

0,15

0,15/1000

0,1

Інтерферометр для контролю плоских поверхонь
Інтерферометри для технологічного контролів плоских поверхонь можуть бути із дзеркальним або лінзовим об'єктивом. Перші, відповідно до розміру дзеркала, дозволяють контролювати деталі або блоки діаметром до 350 - 400 [мм], другі, до 100 - 120 [мм]. У дійсній роботі використається інтерферометр ИТ-70 з лінзовим об'єктивом.
Рис.4.5 Оптична схема інтерферометра ИТ-70
Оптична схема приладу наведена на Рис.4.5 Тут світле тіло 1 спектральної лампи СМР-1 конденсором 2 проектується в площині отвору діафрагми 4. У хід променів вводиться світлофільтр 3. Світло, відбите дзеркалом 5, попадає в об'єктив 6 коліматора. На виході з нього паралельний пучок падає на еталон 7, проходить через нього й попадає на контрольовану поверхню деталі 8. Пучки світла, відбиті поверхнями деталі й еталона накладаються один на одного й інтерферуют. Картина інтерференції за допомогою світлоділильной пластини 9 проектується у фокальну площину телескопічної лупи, що складає з об'єктива 10 й окуляра 11. Прилад може бути використаний для спостереження двох - і багатопроменевий картин інтерференції. В останньому випадку замість еталона 7 вводять еталон 7 (зі світлоділильним покриттям. При використанні двопроменевої інтерференції відступ від площини може бути обмірюваний з точністю порядку 0,1 смуги, при багатопроменевий - до 0,05 смуги. На інтерферометрі можна контролювати плоскопаралельність тонких (до 8 [мм]) пластин шляхом спостереження в них смуг рівної товщини.
Типові інтерференційні картини для різних похибок деталі наведено далі на Рис.4.7 - 4.15.
Рис.4.6 Загальний вид ИТ-70
Інтерферометр (Рис.4.6.) складається з верхньої А и нижньої Б частин, стола С и пульта П запалювання. У верхні частини входить освітлювач і всі оптичні деталі схеми, крім еталона. Лампу освітлювача підключають через пульт запалювання в мережу змінного струму напругою 220 вольтів. Діафрагми міняють поворотами диска Д. У нижні частини приладу входить вузол еталонних пластин і предметний столик з рукоятками керування. Підйом й опускання столика роблять рукояткою 1, а його нахил у двох взаємо-перпендикулярних напрямках - рукоятками 2. Величина под'єма столика може бути заміряна по шкалі 3. Всі рукоятки керувань розташовані на зовнішньому корпусі приладу.
Порядок виконання роботи

Контроль пробними стеклами

Ретельно промити спиртом і протерти серветкою замірювальну поверхню еталона й контрольовану поверхню деталі.

Білячим пензликом змахнути з них пил й обережно опустити пробне скло вимірювальною поверхнею на контрольовану поверхню (або навпаки - залежно від співвідношення розмірів еталон - деталь і товщини останньої). При цьому пробне скло повинне сковзати по деталі (або навпаки - деталь по пробному склу) на тонкій повітряній подушці, що перебуває в зазорі між сполученими поверхнями. При малому зусиллі притиснення еталона до деталі (або навпаки деталі до еталона) повинна з'явитися інтерференційна картина, що при невідповідності форми поверхні деталі й еталона буде мати вигляд кілець або рівне-мірне фарбування. Відсутність вільного ковзання еталона по деталі (або деталі по еталоні) указує на неякісне чищення вимірювальної й контрольованої поверхонь.

Категорично забороняється притирати їхній одне до одного!

Інтерференційна картина буде перекрученої, а поверхні ушкоджені (подряпані).

По числу N кілець інтерференції одного з кольорів (червоних - при спостереженні в білому світлі й темних - у монохроматичному) визначити величину загальної помилки. Вид помилки встановлюють по напрямку переміщення кілець при натисканні на середину пробного скла (або деталі). При помилці "яма" кільця інтерференції переміщаються від краю до центра, при помилці "горб" - навпаки. Замалювати інтерференційну картину й занести її в Таблицю 2.

Створивши повітряний клин натиском на край еталона (або деталі) визначити загальну помилку N по відношенню стрілки прогину смуги до відстані між сусідніми смугами одного кольорів. Вид помилки визначається по напрямку скривлення смуг щодо крапки притиску. При помилці "горб" смуги розташовані ввігнутістю до крапки притиску, при помилці "яма" - опуклістю. При нерегулярності форми смуги встановити вид місцевої помилки N. Знайти величину цієї помилки. Зсунути картину інтерференції й занести її в Таблицю 2.

Контроль на інтерферометрі

Тумблером на корпусі пульта запалювання включити лампу.

Включити висвітлення внутрішнього простору інтерферометра тумблером, розташованим із правої сторони корпуса приладу.

Установити контрольовану деталь на столик приладу й підняти його обертанням рукоятки 1 (див. мал.9) до одержання зазору між еталоном і деталлю рівного приблизно 1 [мм].

Повернути рукоятку 4 у праве положення, при якому об'єктив телескопічної лупи виводиться з ходу променів. За допомогою рукояток 2, що здійснюють нахил столика, сполучити автоколімаційне зображення діафрагми від вимірювальної поверхні еталона й контролюємой поверхні деталі.

Включити внутрішнє висвітлення приладу, поворотом рукоятки 4 у вихідне положення, увести в хід променів телескопічну лупу.

Спостерігаючи в окуляр і регулюючи нахил столика з деталлю рукоятками 2, установити бажаний характер інтерференційної картини (смуги або кільця), змінити ширину й напрямок смуг. Поворотом диска Д с набором діафрагм відрегулювати яскравість і контрастність інтерференційної картини.

Знайти величину загальної помилки двома способами - по числу інтерференційних кілець і по відношенню стрілки прогину смуги до відстані між сусідніми смугами. Установити вид загальної помилки. Визначити вид і величину місцевої помилки. Результати вимірів загальної й місцевої помилок і спостережувані інтерференційні картини, занести в Таблицю 4.2.

Таблиця 4.2
Результати вимірювання

Номер

деталі

Картина інтерференції, що характеризує відступ поверхні від еталона

Вид і величина загальної помилки

Вид і величина місцевої помилки

у кільцях

у смугах

N

Вид

N

Вид

Рис.4.7 Інтерферограми лінзи з астигматизмом в площин найкращого фокуса

Рис.4.8 Інтерферограми лінзи з астигматизмом в фокусі Пецваля

Рис.4.9 Інтерферограми лінзи з астигматизмом в сагітальному фокусі

Рис.4.10. Інтерферограми лінзи з астигматизмом в тангенсальному фокусі

Рис.4.11. Інтерферограми лінзи з комою і невеликим роз фокусуванням

Рис.4.12. Інтерферограми лінзи з комою в параксіальному фокусі

Рис.4.13. Інтерферограми якісної лінзи: а) - без нахилу і дефокусування; б) - з нахилом;

в) - з дефокусуванням; г) - з нахилом т а дефокусуванням

Рис.4.14. Інтерферограми лінзи з сферичною аберацією в параксіальному (а, г), середньому (б, д) та граничному (в, е) фокусах з нахилом (г - е) і без нього (а - в)

Рис.4.15. Інтерферограми лінзи з комбінацією аберацій

а) - сферична аберація і кома; б) - сферична аберація і астигматизм;

в) - кома і астигматизм; г) - сферична аберація, кома і астигматизм.

Размещено на Allbest.ru

...

Подобные документы

  • Метрологічне забезпечення точності технологічного процесу. Методи технічного контролю якості деталей. Операційний контроль на всіх стадіях виробництва. Правила вибору технологічного оснащення. Перевірка відхилень від круглості циліндричних поверхонь.

    реферат [686,8 K], добавлен 24.07.2011

  • Класифікація фасонних поверхонь та методів їх обробки. Обробка фасонних поверхонь обертання. Гідрокопіювальні верстати та особливості їх практичного використання на сучасному етапі. Підвищення продуктивності та точності обточування фасонних поверхонь.

    контрольная работа [388,5 K], добавлен 28.08.2011

  • Технологічне оснащення та узагальнення основних засобів контролю поверхонь і поверхневого шару. Метод гамма-променевої фотоелектронної спектроскопії. Метод електронної ОЖЕ-спектроскопії. Метод Раман-спектроскопії. Метод скануючої тунельної мікроскопії.

    реферат [2,9 M], добавлен 09.05.2011

  • Маршрутна схема поетапної механічної обробки поверхонь деталі. Розрахункові уточнення та послідовність обробки і технологічні допуски, використання типових планів обробки поверхонь. Технологічний процес за принципом концентрації та точність обробки.

    практическая работа [200,2 K], добавлен 17.07.2011

  • Методи обробки поверхонь деталі. Параметри шорсткості поверхонь. Забезпечення точності розмірів і поворотів. Сумарна похибка на операцію. Розміри різального інструменту. Точність обробки по варіантах технологічного процесу. Точність виконання розміру.

    практическая работа [500,0 K], добавлен 21.07.2011

  • Обробка різцями: стержневих фасонних, призматичних, дискових або круглих, особливості та принципи роботи з ними. Специфіка обробки фасонних поверхонь поєднанням двох подач, за копіром, за допомогою гідрокопіювального супорта. Можливі несправності.

    курсовая работа [2,0 M], добавлен 16.04.2014

  • Сутність процесу вимірювання. Класифікація, ознаки та методи вимірюваннь. Завдання, методи та послідовність обробки результатів прямих, опосередкованих, сукупних і сумісних вимірювань. Оцінювання випадкових похибок та практичне опрацювання результатів.

    курсовая работа [317,5 K], добавлен 19.01.2010

  • Зв’язок контролю якості зі стандартизацією. Фактори, що впливають на якість сільськогосподарської продукції, різновиди контролю якості. Стандартизовані методи контролю (вимірювальний і органолептичний методи). Форми оцінок показників якості продукції.

    контрольная работа [30,9 K], добавлен 26.11.2010

  • Обробка контурно-фасонних, об’ємно-криволінійних і плоско-криволінійних фасонних поверхонь на кругло- і внутрішньошліфувальних верстатах. Шліфування зовнішніх фасонних поверхонь. Фрезерування пальцевою фасонною фрезою на вертикально-фрезерному верстаті.

    реферат [359,1 K], добавлен 27.08.2011

  • Оцінка точності засобів вимірювання, методика обробки прямих, опосередкованих та сумісних вимірювань. Статична та динамічна похибки засобу вимірювання різними методами. Коригування структурних схем, яке забезпечує підвищення точності засобу вимірювання.

    курсовая работа [271,7 K], добавлен 22.11.2012

  • Аналіз існуючих систем контролю параметрів свердловин, які експлуатуються за допомогою ШГНУ. Розробка конструкції чутливого елемента давача навантаження. Обробка масиву результатів вимірювання давача переміщення. Аналіз інтегральних акселерометрів.

    дипломная работа [1,6 M], добавлен 25.06.2015

  • Поняття про розміри, їх відхилення та допуски. Характеристики з’єднань робочих поверхонь деталей, система отвору і вала. Взаємозамінність гладких циліндричних з’єднань. Параметри шорсткості та її нормування. Контроль якості продукції у машинобудуванні.

    курс лекций [2,3 M], добавлен 23.05.2010

  • Короткий опис технологічного процесу ректифікації, його головні етапи. Обґрунтування методів вимірювання і вимірювальних комплектів для контролю основних параметрів технологічного процесу ректифікації. Опис схеми автоматичного контролю та сигналізації.

    курсовая работа [50,2 K], добавлен 06.04.2015

  • Службове призначення деталі "Корпус", аналіз технічних умов та норм точності. Попереднє встановлення типу та організаційної форми виробництва. Відпрацювання конструкції деталі на технологічність. Вибір способу отримання заготовки та оброблення поверхонь.

    курсовая работа [983,3 K], добавлен 23.06.2010

  • Історія розвитку науки про забезпечення єдності вимірів, проблема оптимального вибору фізичних величин і одиниць. Основні поняття і категорії метрології, терміни і визначення. Виміри механічних величин; особливості вимірювання в'язкості в різних умовах.

    курсовая работа [95,6 K], добавлен 24.01.2011

  • Вологість газу як один з основних параметрів при добуванні, транспортуванні і переробці природного газу. Аналіз методів вимірювання вологості газу. Розробка принципової та структурної схем приладу для вимірювання, дослідження його елементів і вузлів.

    курсовая работа [1,9 M], добавлен 12.01.2011

  • Прилади для вимірювання напруги. Амперметри і вольтметри для кіл підвищеної частоти. Вимірювання електричного струму. Заходи безпеки під час роботи з електрообладнанням. Індивідуальні засоби захисту. Перша допомога потерпілому від електричного струму.

    курсовая работа [201,0 K], добавлен 18.02.2011

  • Метрологічне забезпечення, інформація, вимірювання, метрологія: визначення і взаємозв’язок. Системи фізичних величин і одиниць вимірювань. Визначення, основні елементи і підготовка процесу вимірювання. Вибір фізичної моделі об’єкта вимірювання.

    реферат [147,4 K], добавлен 14.01.2009

  • Розроблення схеми розташування полів допусків внутрішнього, зовнішнього кілець підшипника, вала і отвору в корпус. Розрахунок калібрів для контролю гладких циліндричних деталей. Спряження зубчастих коліс. Розрахунок граничних розмірів різьбових поверхонь.

    курсовая работа [3,0 M], добавлен 23.01.2013

  • Технічні вимоги щодо розташування поверхонь в кресленнях деталей. Державні стандарти визначення допусків на розміри, що координують осі кріпильних отворів в різних системах координат. Формули розрахунку невказаних допусків відхилення від паралельності.

    реферат [580,9 K], добавлен 16.07.2011

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.