Комплект технологической документации по оптической контактной литографии

Основные параметры литографических процессов. Фоторезисты, фотошаблоны и контактная фотолитография. Дефекты при проведении процесса контактной фотолитографии. Рентгеновская литография и электронно-лучевая. Выбор и описание технологического оборудования.

Рубрика Производство и технологии
Вид дипломная работа
Язык немецкий
Дата добавления 11.08.2015
Размер файла 3,3 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

3. После удаления фотомаски п. 11 описания технологического процесса, контроль рельефа в подложки проводим визуально под микроскопом. Контролируя рабочую поверхность на соответствие ее топологии и геометрии элементов плану. Контролируются следующие основные критерии качества: наличие каверн, разрывов и их количество, геометрические размеры элементов рельефа; неполное удаление фотомаски, искажение формы элементов рисунка, наличие сужений, утолщений и изменений глубины рисунка. При обнаружении того или иного дефекта в пленке фоторезиста проводят анализ возможных причин его появления. После этого составляют план мероприятий по доработке отдельных технологических операций.

1

I

МГОУ

605124

605124 ВТД

Пластина

0

С

НПП

Обозначение ДСЕ

Наименование ДСЕ

кп

Ф

НПП

Обозначение комплекта ТД

Наименование комплекта ТД

листов

Г

Обозначение ТД

Услов. обозн.

Лист

Листов

Примечание

Ф 1

605124 Пластина 9

Ф 2

605124 ТЛ Титульный лист 1

Ф 3

605124 ВО Ведомость оборудования 1

4

5

6

Сборочные единицы

7

С 8

605124 Пластина

Г 9

605124 МК 4

Г 10

605124 ОК 1

Г 11

605124 ОКУ 3

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

Разраб.

Н. контр.

ВТД /ВДП

Ведомость технологической документации

2

1

МГОУ

605124

605124 ВО

0

С

НПП

Обозначение ДСЕ

Наименование ДСЕ

кл

В

Цех

уч.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Т

опер.

Обозначение ТО

Кол

Наименование ТО

Д

НПП

Код, наименование оборудования

С 1

605124 Пластина

2

Т 3

ADT 976 Установка отмывки OSTEC

Д 4

EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC

Д 5

HP 150 Установка сушильная Sawatec

Д 6

EVG 620 Установка совмещения и экспонирования OSTEC

Т 7

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 8

ТУ 64-1-37-78 Пинцет ПС 160 3.О

Т 9

ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A

Т 10

ВТМ 4.189. 017 Тара для хранения пластин

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

Разраб.

Н. контр.

ВО/ВОБ

Ведомость оборудования

3

1

МГОУ

605124

605124 МК

В

Цех

УЧ.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Г

Обозначение документа

Д

Код, наименование оборудования

Е

см

проф

Р

УТ

КР

КОИД

ЕН

ОП

К шт

Тпз

Т шт

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

Н/М

Обозначение, код

ОПП

ЕВ

ЕН

КИ

Н. расх.

В 1

005 Очистка подложки

2

Г 3

605124 ОКУ

4

Т 5

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 6

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 7

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

М 8

ОСТ 11.029.003 - 80 Вода деионизированная марки А

Н 9

Склад Л 8 12

М 10

ГОСТ 9293-74 Азот газообразный

Н 11

Склад Л 8 6

Д 12

ADT 976 Установку отмывки OSTEC

13

В 14

010 Контроль качества отмывки

15

Г 16

605124 ОК

17

Т 18

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 19

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 20

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 21

ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A

22

В 23

015 Нанесение фоторезиста

24

Г 25

605124 ОКУ

26

Т 27

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 28

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 30

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Разраб.

Н. контр.

МК

Маршрутная карта

2

МГОУ

605124

605124 МК

В

Цех

УЧ.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Г

Обозначение документа

Д

Код, наименование оборудования

Е

см

проф

Р

УТ

КР

КОИД

ЕН

ОП

К шт

Тпз

Т шт

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

Н/М

Обозначение, код

ОПП

ЕВ

ЕН

КИ

Н. расх.

М 1

ТУ 2378-005-29135749 Фоторезист ФП 383

Н 2

Склад Л 1 5?10-3

Д 3

EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC

4

В 5

020 1я сушка

6

Г 7

605124 ОКУ

8

Т 9

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 10

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 11

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 12

HP 150 Установка сушильная Sawatec

13

В 14

025 Совмещение и экспонирование

15

Г 16

605124 ОКУ

17

Т 18

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 19

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 20

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 21

EVG 620 Установка совмещения и экспонирования OSTEC

22

В 23

030 Проявление фоторезиста

24

Г 25

605124 ОКУ

26

Т 27

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 28

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 30

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Разраб.

Н. контр.

МК

Маршрутная карта

3

МГОУ

605124

605124 МК

В

Цех

УЧ.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Г

Обозначение документа

Д

Код, наименование оборудования

Е

см

проф

Р

УТ

КР

КОИД

ЕН

ОП

К шт

Тпз

Т шт

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

Н/М

Обозначение, код

ОПП

ЕВ

ЕН

КИ

Н. расх.

М 1

ТУ 2378-007-29135749 Проявитель УПФ-1Б

Н 2

Склад Л 1 0.4

Д 3

EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC

4

В 5

035 2я сушка

6

Г 7

605124 ОКУ

8

Т 9

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 10

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 11

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 12

HP 150 Установка сушильная Sawatec

13

В 14

040 Контроль рельефа рисунка фоторезиста

15

Г 16

605124 ОК

17

Т 18

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 19

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 20

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 21

ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A

22

В 23

045 Травление подложки

24

Г 25

605124 ОКУ

26

Т 27

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 28

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 30

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Разраб.

Н. контр.

МК

Маршрутная карта

4

МГОУ

605124

605124 МК

В

Цех

УЧ.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Г

Обозначение документа

Д

Код, наименование оборудования

Е

см

проф

Р

УТ

КР

КОИД

ЕН

ОП

К шт

Тпз

Т шт

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

Н/М

Обозначение, код

ОПП

ЕВ

ЕН

КИ

Н. расх.

М 1

Травитесь

Н 2

Склад Л 1 0.6

Д 3

Установка травления

4

В 5

050 Снятие пленки фоторезиста

6

Г 7

605124 ОКУ

8

Т 9

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 10

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 11

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

М 12

ТУ 2378-008-29135749 Сниматель СПР-01Ф

Н 13

Склад Л 1 0.8

Д 14

EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC

15

В 16

055 Контроль рельефа рисунка подложки

17

Г 18

605124 ОК

19

Т 20

БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С"

Т 21

ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30

Т 22

ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин

Д 23

ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A

24

25

26

27

28

30

Разраб.

Н. контр.

МК

Маршрутная карта

5

1

МГОУ

605124

605124 ОКУ

В

Цех

УЧ.

РМ

Опер.

Код, наименование операции

Г

Обозначение документа

Д

Код, наименование оборудования

Т

Код, наименование технологической оснастки

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

О

Содержание операции(перехода)

ТО

В 1

Совмещение и экспонирование

2

Г 3

605124 ОКУ

4

Д 5

EVG620 Установку совмещения и экспонирования OSTEC

6

Т 7

ТУ 64-1-37-78 Пинцет ПС 160 3.0

8

Т 9

ВТМ 4.189. 017 Тара для хранения пластин

10

М 11

ТУ 25-05-1771-75 Вакуум

12

М 13

ГОСТ 2874 - 82 Вода питьевая

14

М 15

ГОСТ 18300 - 87 Спирт этиловый ректификованный технический

16

М 17

ГОСТ 11680 - 76 Ткань хлопчатобумажная бязевой группы

18

Л 19

605124 Пластины с операции

20

21

22

23

24

25

26

27

28

Разраб.

Н. контр.

ОКУ

Операционная карта универсальная

2

МГОУ

605124

605124 ОКУ

Т

Код, наименование технологической оснастки

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

О

Содержание операции (перехода)

То

Настоящая технологическая операция предназначена для оптической контактной литографии.

1. К работе на данной технологической операции допускаются лица, прошедшие аттестацию.

2. Перед началом работы наладчику проверить срок аттестации оборудования, сделать отметку в журнале, при нарушении требований аттестации доложить руководителю подразделения.

3. Технологические одежда и принадлежности (халат, тапочки и шапочка). Работающих на данной операции должны соответствовать требованиям ГОСТ 12.4.103-83.

4. рабочее место содержать в соответствии с инструкцией.

5. Замерять запыленность ежедневно с записью в журнале. Запыленность не должна превышать 3,5 пылинки размером более 0,5 мкм на 1 литр воздуха. Если степень запыленности превышает норму, к работе не приступать, сообщить руководителю.

На данную технологическую операцию требования электронной гигиены составляют: класс чистоты на рабочем месте - 100, класс чистоты в общем объеме помещения - 1000, температура -22 + 0,5 0C, влажность - 40 + 5%.

6. Протирать рабочее место салфетками, смоченными водой, не реже 3 раза в смену: перед началом работы, после обеденного перерыва и в конце смены.

7. Протирать наконечники пинцетов салфетками, смоченными спиртом в начале работы и через 2-3 часа работы.

8. Получить у руководителя по спирт и салфетки. Спирт хранить в бюксе, салфетки в стакане.

9. Получить подложку в таре с предыдущей операции - 1я сушка фоторезиста.

Время межоперационного хранения подложек не должно превышать 2х часов.

10. При неисправностях оборудования остановить работу и сообщить руководителю подразделения

11. Включить установку совмещения и экспонирования OSTEC EVG620.

12. Включить подачу вакуума.

13. Проверить работу воздушной завесы

14. Загрузить подложку пинцетом в блок предварительного позиционирования установки.

15. Активировать функцию - подготовка к работе, загрузка

16. Визуально проконтролировать: предварительное позиционирование, транспортировку на манипулятор

- соответствует ли положение подложки на столике, нарисованному рядом эскизу

- устанавливает ли погрущик подложку в центр поворотного диска манипулятора

17. После установи закрыть крышку манипулятора.

18. Активировать функцию - автоматическая калибровка

19. При появление надписи колеровка выполнена приступать к совмещению

20. С помощью джойстика и монитора встроенного электронного микроскопа произвести совмещение:

- сначала грубое совмещение строк и столбцов,

- а затем точное совмещение по реперным знакам

21. В меню экспонирование выбрать соответствующую программу

- номер программы взять у руководителя подразделения

22. Активировать функцию - экспонирование

- Проконтролировать время по встроенному электронному секундомеру

- Проконтролировать освещенность по встроенному люксметру

- При снижение освещенности и появление соответствующей надписи на табло установки, остановить работу и сообщить руководителю подразделения о необходимости замены лампы осветителя.

23. При соблюдение параметров программы сделать отметку в журнале

24. Активировать функцию - разгрузка завершение работы

25. Забрать подложку пинцетом со столика, поместить в тару

ОКУ

Операционная карта универсальная

3

МГОУ

605124

605124 ОКУ

Т

Код, наименование технологической оснастки

Л/М

Наименование детали, сб. единицы или материала

О

Содержание операции (перехода)

То

26. Заполнить сопроводительный лист и рабочий журнал.

27. Отправить подложку на следующую операцию проявление фоторезиста

28. По окончании работы:

- выключить установку;

- перекрыть подачу вакуума;

29. При работе на установке соблюдать требования по электробезопасности, установленные инструкцией по ТБ.

30. Не приступать к работе на установке без получения общего инструктажа по технике безопасности, который проводится руководителем подразделения не реже одного раза в квартал с отметкой в журнале.

31. Прекратить немедленно работу и сообщить руководителю подразделения, если при соприкосновении с установкой ощущается воздействие электрического тока.

32. Ремонт и наладку установки производить только наладчику.

33. Оператору запрещается вскрывать электрические блоки установки.

ОКУ

Операционная карта универсальная

4

1

Разраб.

МГОУ

605124

605124 ОК

Пров..

Утв.

Кристал

Н. контр.

Наименование операции

Наименование, марка материала

МД

Контроль рельефа рисунка фоторезиста

Наименование оборудования

То

Тв

Обозначение иот

Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A

Р

Контролируемые параметры

Код средств ТО

Наименование средств ТО

Объем и ПК

То / Тв

01

Внешний вид изделия

Микроскоп Nikon Eclipse L200A

1. В процессе работы должна быть

02

(чистота пленки фоторезиста,

ТУ 3-3.1210- 75

отбракованна пластина в случае:

03

наличие проколов, геометрические

Пинцет ПС 160 30

- неполное удаление фоторезиста

04

размеры элементов рельефа)

ТУ 64 - 1 - 37 - 78

- наличие прополов и царапин на

05

рабочей поверхности фоторезиста

06

- изменение геометрических размеров

07

рельефа (сужения, уширения, разрывы)

08

2. При обнаружении брака разрешается:

09

- снять пластину с производства

10

направить на повторную обработку

11

направить в изолятор брака

12

13

14

ОК

Карта операционного контроля

Заключение

Сутью литографического процесса является создание на поверхности подложки защитной фотомаски, своего рода трафарета для последующих процессов. Литография контактным способом, один из путей создания такого трафарета, имеющий свои плюсы и минусы. Не один из способов литографии не является универсальным, но вместе они покрывают весь спектр задач данной технологии.

В табл. 5 приведены результаты сравнения 3х типов литографических процессов. Реальная ширина экспонируемой линии, примерно в 4 раза превышает точность совмещения.

Таблица 2. Сравнение экспонирующего оборудования,

и соответствующих ему шаблонов и резистов.

Контакт

Электронный луч

Рентгеновское излучение

Минимальный размер

1

5

4

Производительность

4

1

1

Стоимость и простота шаблона

2

3

1

Чувствительность к рельефу

2

4

4

Простота резиста и его стоимость

4

1

1

Стоимость оборудования

5

1

2

Простота управления

5

4

3

Восприимчивость к дефектам

1

4

4

Перспективы развития для субмикронной литографии

1

5

3

Общий балл

26

32

26

Место

4

1

4

Ключом к высокопроизводительной и качественной литографии являются высококачественные стойкие шаблоны, которые способны выдерживать термические и механические напряжения. Возможность изготовления маски с резкостью края лучше чем 1/10 воспроизводимого размера, обеспечения достаточной плоскости шаблона и сохранения ее, а также рисунка неизменным во время экспонирования.

Список литературы

1. А. И. Курносов, В. В. Юдин - Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем 1986 г.

2. Ю. В. Панфилов Оборудование производства интегральных микросхем и промышленные роботы.

3. ЗАО "Фраст-М" каталог фоторезистов.

4. ЗАО "Фраст-М" фоторезист позитивный ФП-383 ТУ 2378-005-29135749-2007 характеристики и применение.

5. Ostec micro каталог продукции - установки для литографических процессов.

6. Установка отмывки полупроводниковых пластин Ostec ADT 976 руководство по эксплуатации.

7. Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста Ostec EVG®101 руководство по эксплуатации.

8. Установка прецизионного двухстороннего совмещения и экспонирования Ostec EVG620 руководство по эксплуатации.

9. Nikon каталог продукции - Микроскопы для исследования полупроводниковых пластин.

10. Прямой моторизированный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200А руководство по эксплуатации.

11. Sawatec каталог продукции - температурные установки.

Установка сушильная Sawatec HP 150 руководство по эксплуатации

Размещено на Allbest.ru

...

Подобные документы

  • Современные литографические процессы в технологии ППП и ИС. Фоторезисты и фотошаблоны, дефекты при проведении процесса контактной фотолитографии. Сущность бесконтактной, рентгеновской и электронно-лучевой литографии, оценка технологического процесса.

    курсовая работа [4,9 M], добавлен 12.06.2010

  • Возможности литографии высокого разрешения как универсального способа получения изображения элементом микросхемы на кристалле полупроводника. Основные виды литографии, их характеристика и применение. Фотолитография, рентгеновская и электронная литография.

    презентация [369,7 K], добавлен 26.08.2013

  • Принцип контактной электрической сварки. Основные виды электрической контактной сварки: стыковая сопротивлением и точечная; последовательность операций. Технология электрической контактной сварки и подготовка заготовок. Получение стыкового соединения.

    контрольная работа [499,4 K], добавлен 25.11.2012

  • Сущность и классификация методов контактной сварки по форме сварного соединения, роду сварочного тока и характеру протекания производственного процесса. Оценка преимуществ и недостатков контактной сварки, используемое в ней оборудование и материалы.

    презентация [1,0 M], добавлен 04.07.2014

  • Основы теории и технологии контактной точечной сварки. Процессы, протекающие при контактной точечной сварке: деформирования свариваемых деталей; формирования механических и электрических контактов, электрической проводимости зоны сварки; нагрева металла.

    учебное пособие [8,4 M], добавлен 21.03.2008

  • Сущность плазмохимического травления. Факторы, определяющие технологические параметры процесса плазменного травления. Внешний вид установки LAM690. Аттестация оборудования, виды брака и их причины. Операции фотолитографии по стандартной технологии.

    дипломная работа [4,8 M], добавлен 08.07.2014

  • Основные виды контактной сварки. Конструктивные элементы машин для контактной сварки. Классификация и обозначение контактных машин, предназначенных для сварки деталей. Система охлаждения многоэлектродных машин. Расчет режима точечной сварки стали 09Г2С.

    контрольная работа [1,1 M], добавлен 05.09.2012

  • Молекулярно-лучевая эпитаксия как эпитаксиальный рост в условиях сверхвысокого вакуума. Характеристика видов электронных микроскопов, анализ сфер применения. Рассмотрение составных частей установки ионной имплантации. Особенности электронной литографии.

    реферат [1,0 M], добавлен 06.05.2014

  • Разработка плана контактной сети перегона, определение объемов строительных работ. Выбор технических средств для сооружения опор. Расчет количества "окон" для сооружения опор контактной сети методом с пути. Разработка графика работы установочного поезда.

    курсовая работа [631,0 K], добавлен 19.07.2011

  • Технология электронно-лучевой обработки конструкционных материалов. Электронно-лучевая плавка и сварка металлов. Лазерная обработка материалов и отверстий. Ионно-лучевая обработка материалов. Ионно-лучевые методы осаждения покрытий и ионная литография.

    реферат [1,3 M], добавлен 23.06.2009

  • Структура управления предприятием. Характеристика основного и вспомогательного оборудования. Основные параметры полуфабрикатов и основного продукта по технической документации. Регулирование режимов технологического процесса и контроль параметров работы.

    отчет по практике [1,1 M], добавлен 11.03.2015

  • Структура процессов и документации технологической части самолетостроения. Конструктивно-технологический анализ кронштейна, выбор схемы базирования и закрепления. Химический состав стали, выбор заготовки и технологического процесса производства детали.

    курсовая работа [2,5 M], добавлен 26.12.2010

  • Характеристика контактной сварки и соединения деталей. Конструкция изделия и условия его работы. Характеристика материала и оценка его свариваемости. Расчет режимов сварки, проектирование сварочного контура машины и техническое нормирование работ.

    курсовая работа [136,8 K], добавлен 15.06.2009

  • Методика разработки технологической схемы производства силикатного кирпича и общее описание технологического процесса. Содержание материального баланса завода. Порядок формирования технологической карты производственного процесса на исследуемом заводе.

    контрольная работа [35,6 K], добавлен 10.01.2013

  • Анализ процессов и устройств для сборки и монтажа, технологичности конструкции изделия. Разработка технологической схемы сборки, вариантов маршрутной технологии, выбор технологического оборудования и оснастки. Проектирование технологического процесса.

    курсовая работа [340,2 K], добавлен 01.12.2009

  • Анализ конструкции детали "Зубчатое колесо", выбор заготовки и метода ее получения. Оценка нужного оборудования и технологической оснастки. Определение операций механической обработки по переходам, их нормирование. Разработка технологической документации.

    курсовая работа [179,9 K], добавлен 03.04.2012

  • Исследование особенностей конструкции металлической стойки опор контактной сети. Анализ влияния элементов на свариваемость. Организация рабочего места сварщика. Характеристика сварочного оборудования. Расчет режимов сварки. Дефекты сварных соединений.

    реферат [289,2 K], добавлен 20.07.2015

  • Характеристика технологического процесса производства хлеба пшеничного. Анализ нормативной документации на производимую продукцию. Расчет экономической эффективности за счет внедрения инновационного оборудования. Применение метода "Бенчмаркинга".

    дипломная работа [1,1 M], добавлен 13.02.2012

  • Разработка маршрутного технологического процесса изготовления детали "корпус водила нижнего". Описание технологической операции для фрезерования пазов. Выбор оборудования и режущего инструмента для данной операции. Расчет параметров режима резания.

    курсовая работа [2,3 M], добавлен 15.12.2014

  • Назначение и описание детали "остов якоря", точностные характеристики ее поверхности. Выбор станочного оборудования и режущих инструментов. Описание технологического процесса, программа обработки детали. Расчет режимов резания, контроль качества.

    курсовая работа [52,3 K], добавлен 29.07.2012

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.