Комплект технологической документации по оптической контактной литографии
Основные параметры литографических процессов. Фоторезисты, фотошаблоны и контактная фотолитография. Дефекты при проведении процесса контактной фотолитографии. Рентгеновская литография и электронно-лучевая. Выбор и описание технологического оборудования.
Рубрика | Производство и технологии |
Вид | дипломная работа |
Язык | немецкий |
Дата добавления | 11.08.2015 |
Размер файла | 3,3 M |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
3. После удаления фотомаски п. 11 описания технологического процесса, контроль рельефа в подложки проводим визуально под микроскопом. Контролируя рабочую поверхность на соответствие ее топологии и геометрии элементов плану. Контролируются следующие основные критерии качества: наличие каверн, разрывов и их количество, геометрические размеры элементов рельефа; неполное удаление фотомаски, искажение формы элементов рисунка, наличие сужений, утолщений и изменений глубины рисунка. При обнаружении того или иного дефекта в пленке фоторезиста проводят анализ возможных причин его появления. После этого составляют план мероприятий по доработке отдельных технологических операций.
1 |
I |
||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 ВТД |
|||||||||||
Пластина |
0 |
||||||||||||
С |
НПП |
Обозначение ДСЕ |
Наименование ДСЕ |
кп |
|||||||||
Ф |
НПП |
Обозначение комплекта ТД |
Наименование комплекта ТД |
листов |
|||||||||
Г |
Обозначение ТД |
Услов. обозн. |
Лист |
Листов |
Примечание |
||||||||
Ф 1 |
605124 Пластина 9 |
||||||||||||
Ф 2 |
605124 ТЛ Титульный лист 1 |
||||||||||||
Ф 3 |
605124 ВО Ведомость оборудования 1 |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
5 |
|||||||||||||
6 |
Сборочные единицы |
||||||||||||
7 |
|||||||||||||
С 8 |
605124 Пластина |
||||||||||||
Г 9 |
605124 МК 4 |
||||||||||||
Г 10 |
605124 ОК 1 |
||||||||||||
Г 11 |
605124 ОКУ 3 |
||||||||||||
12 |
|||||||||||||
13 |
|||||||||||||
14 |
|||||||||||||
15 |
|||||||||||||
16 |
|||||||||||||
17 |
|||||||||||||
18 |
|||||||||||||
19 |
|||||||||||||
20 |
|||||||||||||
21 |
|||||||||||||
22 |
|||||||||||||
23 |
|||||||||||||
24 |
|||||||||||||
25 |
|||||||||||||
26 |
|||||||||||||
27 |
|||||||||||||
28 |
|||||||||||||
29 |
|||||||||||||
30 |
|||||||||||||
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
ВТД /ВДП |
Ведомость технологической документации |
||||||||||||
2 |
1 |
||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 ВО |
|||||||||||
0 |
|||||||||||||
С |
НПП |
Обозначение ДСЕ |
Наименование ДСЕ |
кл |
|||||||||
В |
Цех |
уч. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
||||||||
Т |
опер. |
Обозначение ТО |
Кол |
Наименование ТО |
|||||||||
Д |
НПП |
Код, наименование оборудования |
|||||||||||
С 1 |
605124 Пластина |
||||||||||||
2 |
|||||||||||||
Т 3 |
ADT 976 Установка отмывки OSTEC |
||||||||||||
Д 4 |
EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC |
||||||||||||
Д 5 |
HP 150 Установка сушильная Sawatec |
||||||||||||
Д 6 |
EVG 620 Установка совмещения и экспонирования OSTEC |
||||||||||||
Т 7 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 8 |
ТУ 64-1-37-78 Пинцет ПС 160 3.О |
||||||||||||
Т 9 |
ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A |
||||||||||||
Т 10 |
ВТМ 4.189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
11 |
|||||||||||||
12 |
|||||||||||||
13 |
|||||||||||||
14 |
|||||||||||||
15 |
|||||||||||||
16 |
|||||||||||||
17 |
|||||||||||||
18 |
|||||||||||||
19 |
|||||||||||||
20 |
|||||||||||||
21 |
|||||||||||||
22 |
|||||||||||||
23 |
|||||||||||||
24 |
|||||||||||||
25 |
|||||||||||||
26 |
|||||||||||||
27 |
|||||||||||||
28 |
|||||||||||||
29 |
|||||||||||||
30 |
|||||||||||||
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
ВО/ВОБ |
Ведомость оборудования |
||||||||||||
3 |
1 |
||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 МК |
|||||||||||
В |
Цех |
УЧ. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
||||||||
Г |
Обозначение документа |
||||||||||||
Д |
Код, наименование оборудования |
||||||||||||
Е |
см |
проф |
Р |
УТ |
КР |
КОИД |
ЕН |
ОП |
К шт |
Тпз |
Т шт |
||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
||||||||||||
Н/М |
Обозначение, код |
ОПП |
ЕВ |
ЕН |
КИ |
Н. расх. |
|||||||
В 1 |
005 Очистка подложки |
||||||||||||
2 |
|||||||||||||
Г 3 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
Т 5 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 6 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 7 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
М 8 |
ОСТ 11.029.003 - 80 Вода деионизированная марки А |
||||||||||||
Н 9 |
Склад Л 8 12 |
||||||||||||
М 10 |
ГОСТ 9293-74 Азот газообразный |
||||||||||||
Н 11 |
Склад Л 8 6 |
||||||||||||
Д 12 |
ADT 976 Установку отмывки OSTEC |
||||||||||||
13 |
|||||||||||||
В 14 |
010 Контроль качества отмывки |
||||||||||||
15 |
|||||||||||||
Г 16 |
605124 ОК |
||||||||||||
17 |
|||||||||||||
Т 18 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 19 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 20 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 21 |
ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A |
||||||||||||
22 |
|||||||||||||
В 23 |
015 Нанесение фоторезиста |
||||||||||||
24 |
|||||||||||||
Г 25 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
26 |
|||||||||||||
Т 27 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 28 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 30 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
МК |
Маршрутная карта |
||||||||||||
2 |
|||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 МК |
|||||||||||
В |
Цех |
УЧ. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
||||||||
Г |
Обозначение документа |
||||||||||||
Д |
Код, наименование оборудования |
||||||||||||
Е |
см |
проф |
Р |
УТ |
КР |
КОИД |
ЕН |
ОП |
К шт |
Тпз |
Т шт |
||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
||||||||||||
Н/М |
Обозначение, код |
ОПП |
ЕВ |
ЕН |
КИ |
Н. расх. |
|||||||
М 1 |
ТУ 2378-005-29135749 Фоторезист ФП 383 |
||||||||||||
Н 2 |
Склад Л 1 5?10-3 |
||||||||||||
Д 3 |
EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
В 5 |
020 1я сушка |
||||||||||||
6 |
|||||||||||||
Г 7 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
8 |
|||||||||||||
Т 9 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 10 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 11 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 12 |
HP 150 Установка сушильная Sawatec |
||||||||||||
13 |
|||||||||||||
В 14 |
025 Совмещение и экспонирование |
||||||||||||
15 |
|||||||||||||
Г 16 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
17 |
|||||||||||||
Т 18 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 19 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 20 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 21 |
EVG 620 Установка совмещения и экспонирования OSTEC |
||||||||||||
22 |
|||||||||||||
В 23 |
030 Проявление фоторезиста |
||||||||||||
24 |
|||||||||||||
Г 25 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
26 |
|||||||||||||
Т 27 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 28 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 30 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
МК |
Маршрутная карта |
||||||||||||
3 |
|||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 МК |
|||||||||||
В |
Цех |
УЧ. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
||||||||
Г |
Обозначение документа |
||||||||||||
Д |
Код, наименование оборудования |
||||||||||||
Е |
см |
проф |
Р |
УТ |
КР |
КОИД |
ЕН |
ОП |
К шт |
Тпз |
Т шт |
||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
||||||||||||
Н/М |
Обозначение, код |
ОПП |
ЕВ |
ЕН |
КИ |
Н. расх. |
|||||||
М 1 |
ТУ 2378-007-29135749 Проявитель УПФ-1Б |
||||||||||||
Н 2 |
Склад Л 1 0.4 |
||||||||||||
Д 3 |
EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
В 5 |
035 2я сушка |
||||||||||||
6 |
|||||||||||||
Г 7 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
8 |
|||||||||||||
Т 9 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 10 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 11 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 12 |
HP 150 Установка сушильная Sawatec |
||||||||||||
13 |
|||||||||||||
В 14 |
040 Контроль рельефа рисунка фоторезиста |
||||||||||||
15 |
|||||||||||||
Г 16 |
605124 ОК |
||||||||||||
17 |
|||||||||||||
Т 18 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 19 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 20 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 21 |
ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A |
||||||||||||
22 |
|||||||||||||
В 23 |
045 Травление подложки |
||||||||||||
24 |
|||||||||||||
Г 25 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
26 |
|||||||||||||
Т 27 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 28 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 30 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
МК |
Маршрутная карта |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 МК |
|||||||||||
В |
Цех |
УЧ. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
||||||||
Г |
Обозначение документа |
||||||||||||
Д |
Код, наименование оборудования |
||||||||||||
Е |
см |
проф |
Р |
УТ |
КР |
КОИД |
ЕН |
ОП |
К шт |
Тпз |
Т шт |
||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
||||||||||||
Н/М |
Обозначение, код |
ОПП |
ЕВ |
ЕН |
КИ |
Н. расх. |
|||||||
М 1 |
Травитесь |
||||||||||||
Н 2 |
Склад Л 1 0.6 |
||||||||||||
Д 3 |
Установка травления |
||||||||||||
4 |
|||||||||||||
В 5 |
050 Снятие пленки фоторезиста |
||||||||||||
6 |
|||||||||||||
Г 7 |
605124 ОКУ |
||||||||||||
8 |
|||||||||||||
Т 9 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 10 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 11 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
М 12 |
ТУ 2378-008-29135749 Сниматель СПР-01Ф |
||||||||||||
Н 13 |
Склад Л 1 0.8 |
||||||||||||
Д 14 |
EVG 101 Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста OSTEC |
||||||||||||
15 |
|||||||||||||
В 16 |
055 Контроль рельефа рисунка подложки |
||||||||||||
17 |
|||||||||||||
Г 18 |
605124 ОК |
||||||||||||
19 |
|||||||||||||
Т 20 |
БАВнп-01 1,2(01) БОКС укрытие "Ламинар-С" |
||||||||||||
Т 21 |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 Пинцет ПС 160 30 |
||||||||||||
Т 22 |
ВТМ 4. 189. 017 Тара для хранения пластин |
||||||||||||
Д 23 |
ТУ 3-3.1210-75М Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A |
||||||||||||
24 |
|||||||||||||
25 |
|||||||||||||
26 |
|||||||||||||
27 |
|||||||||||||
28 |
|||||||||||||
30 |
|||||||||||||
Разраб. |
|||||||||||||
Н. контр. |
|||||||||||||
МК |
Маршрутная карта |
5 |
1 |
|||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 ОКУ |
||||||||
В |
Цех |
УЧ. |
РМ |
Опер. |
Код, наименование операции |
|||||
Г |
Обозначение документа |
|||||||||
Д |
Код, наименование оборудования |
|||||||||
Т |
Код, наименование технологической оснастки |
|||||||||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
|||||||||
О |
Содержание операции(перехода) |
ТО |
||||||||
В 1 |
Совмещение и экспонирование |
|||||||||
2 |
||||||||||
Г 3 |
605124 ОКУ |
|||||||||
4 |
||||||||||
Д 5 |
EVG620 Установку совмещения и экспонирования OSTEC |
|||||||||
6 |
||||||||||
Т 7 |
ТУ 64-1-37-78 Пинцет ПС 160 3.0 |
|||||||||
8 |
||||||||||
Т 9 |
ВТМ 4.189. 017 Тара для хранения пластин |
|||||||||
10 |
||||||||||
М 11 |
ТУ 25-05-1771-75 Вакуум |
|||||||||
12 |
||||||||||
М 13 |
ГОСТ 2874 - 82 Вода питьевая |
|||||||||
14 |
||||||||||
М 15 |
ГОСТ 18300 - 87 Спирт этиловый ректификованный технический |
|||||||||
16 |
||||||||||
М 17 |
ГОСТ 11680 - 76 Ткань хлопчатобумажная бязевой группы |
|||||||||
18 |
||||||||||
Л 19 |
605124 Пластины с операции |
|||||||||
20 |
||||||||||
21 |
||||||||||
22 |
||||||||||
23 |
||||||||||
24 |
||||||||||
25 |
||||||||||
26 |
||||||||||
27 |
||||||||||
28 |
||||||||||
Разраб. |
||||||||||
Н. контр. |
||||||||||
ОКУ |
Операционная карта универсальная |
2 |
||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 ОКУ |
||||||||
Т |
Код, наименование технологической оснастки |
|||||||||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
|||||||||
О |
Содержание операции (перехода) |
То |
||||||||
Настоящая технологическая операция предназначена для оптической контактной литографии. 1. К работе на данной технологической операции допускаются лица, прошедшие аттестацию. 2. Перед началом работы наладчику проверить срок аттестации оборудования, сделать отметку в журнале, при нарушении требований аттестации доложить руководителю подразделения. 3. Технологические одежда и принадлежности (халат, тапочки и шапочка). Работающих на данной операции должны соответствовать требованиям ГОСТ 12.4.103-83. 4. рабочее место содержать в соответствии с инструкцией. 5. Замерять запыленность ежедневно с записью в журнале. Запыленность не должна превышать 3,5 пылинки размером более 0,5 мкм на 1 литр воздуха. Если степень запыленности превышает норму, к работе не приступать, сообщить руководителю. На данную технологическую операцию требования электронной гигиены составляют: класс чистоты на рабочем месте - 100, класс чистоты в общем объеме помещения - 1000, температура -22 + 0,5 0C, влажность - 40 + 5%. 6. Протирать рабочее место салфетками, смоченными водой, не реже 3 раза в смену: перед началом работы, после обеденного перерыва и в конце смены. 7. Протирать наконечники пинцетов салфетками, смоченными спиртом в начале работы и через 2-3 часа работы. 8. Получить у руководителя по спирт и салфетки. Спирт хранить в бюксе, салфетки в стакане. 9. Получить подложку в таре с предыдущей операции - 1я сушка фоторезиста. Время межоперационного хранения подложек не должно превышать 2х часов. 10. При неисправностях оборудования остановить работу и сообщить руководителю подразделения 11. Включить установку совмещения и экспонирования OSTEC EVG620. 12. Включить подачу вакуума. 13. Проверить работу воздушной завесы 14. Загрузить подложку пинцетом в блок предварительного позиционирования установки. 15. Активировать функцию - подготовка к работе, загрузка 16. Визуально проконтролировать: предварительное позиционирование, транспортировку на манипулятор - соответствует ли положение подложки на столике, нарисованному рядом эскизу - устанавливает ли погрущик подложку в центр поворотного диска манипулятора 17. После установи закрыть крышку манипулятора. 18. Активировать функцию - автоматическая калибровка 19. При появление надписи колеровка выполнена приступать к совмещению 20. С помощью джойстика и монитора встроенного электронного микроскопа произвести совмещение: - сначала грубое совмещение строк и столбцов, - а затем точное совмещение по реперным знакам 21. В меню экспонирование выбрать соответствующую программу - номер программы взять у руководителя подразделения 22. Активировать функцию - экспонирование - Проконтролировать время по встроенному электронному секундомеру - Проконтролировать освещенность по встроенному люксметру - При снижение освещенности и появление соответствующей надписи на табло установки, остановить работу и сообщить руководителю подразделения о необходимости замены лампы осветителя. 23. При соблюдение параметров программы сделать отметку в журнале 24. Активировать функцию - разгрузка завершение работы 25. Забрать подложку пинцетом со столика, поместить в тару |
||||||||||
ОКУ |
Операционная карта универсальная |
|||||||||
3 |
||||||||||
МГОУ |
605124 |
605124 ОКУ |
||||||||
Т |
Код, наименование технологической оснастки |
|||||||||
Л/М |
Наименование детали, сб. единицы или материала |
|||||||||
О |
Содержание операции (перехода) |
То |
||||||||
26. Заполнить сопроводительный лист и рабочий журнал. 27. Отправить подложку на следующую операцию проявление фоторезиста 28. По окончании работы: - выключить установку; - перекрыть подачу вакуума; 29. При работе на установке соблюдать требования по электробезопасности, установленные инструкцией по ТБ. 30. Не приступать к работе на установке без получения общего инструктажа по технике безопасности, который проводится руководителем подразделения не реже одного раза в квартал с отметкой в журнале. 31. Прекратить немедленно работу и сообщить руководителю подразделения, если при соприкосновении с установкой ощущается воздействие электрического тока. 32. Ремонт и наладку установки производить только наладчику. 33. Оператору запрещается вскрывать электрические блоки установки. |
||||||||||
ОКУ |
Операционная карта универсальная |
4 |
1 |
||||||||
Разраб. |
МГОУ |
605124 |
605124 ОК |
||||||
Пров.. |
|||||||||
Утв. |
Кристал |
||||||||
Н. контр. |
|||||||||
Наименование операции |
Наименование, марка материала |
МД |
|||||||
Контроль рельефа рисунка фоторезиста |
|||||||||
Наименование оборудования |
То |
Тв |
Обозначение иот |
||||||
Микроскоп инспекционный Nikon Eclipse L200A |
|||||||||
Р |
Контролируемые параметры |
Код средств ТО |
Наименование средств ТО |
Объем и ПК |
То / Тв |
||||
01 |
Внешний вид изделия |
Микроскоп Nikon Eclipse L200A |
1. В процессе работы должна быть |
||||||
02 |
(чистота пленки фоторезиста, |
ТУ 3-3.1210- 75 |
отбракованна пластина в случае: |
||||||
03 |
наличие проколов, геометрические |
Пинцет ПС 160 30 |
- неполное удаление фоторезиста |
||||||
04 |
размеры элементов рельефа) |
ТУ 64 - 1 - 37 - 78 |
- наличие прополов и царапин на |
||||||
05 |
рабочей поверхности фоторезиста |
||||||||
06 |
- изменение геометрических размеров |
||||||||
07 |
рельефа (сужения, уширения, разрывы) |
||||||||
08 |
2. При обнаружении брака разрешается: |
||||||||
09 |
- снять пластину с производства |
||||||||
10 |
направить на повторную обработку |
||||||||
11 |
направить в изолятор брака |
||||||||
12 |
|||||||||
13 |
|||||||||
14 |
|||||||||
ОК |
Карта операционного контроля |
Заключение
Сутью литографического процесса является создание на поверхности подложки защитной фотомаски, своего рода трафарета для последующих процессов. Литография контактным способом, один из путей создания такого трафарета, имеющий свои плюсы и минусы. Не один из способов литографии не является универсальным, но вместе они покрывают весь спектр задач данной технологии.
В табл. 5 приведены результаты сравнения 3х типов литографических процессов. Реальная ширина экспонируемой линии, примерно в 4 раза превышает точность совмещения.
Таблица 2. Сравнение экспонирующего оборудования,
и соответствующих ему шаблонов и резистов.
Контакт |
Электронный луч |
Рентгеновское излучение |
||
Минимальный размер |
1 |
5 |
4 |
|
Производительность |
4 |
1 |
1 |
|
Стоимость и простота шаблона |
2 |
3 |
1 |
|
Чувствительность к рельефу |
2 |
4 |
4 |
|
Простота резиста и его стоимость |
4 |
1 |
1 |
|
Стоимость оборудования |
5 |
1 |
2 |
|
Простота управления |
5 |
4 |
3 |
|
Восприимчивость к дефектам |
1 |
4 |
4 |
|
Перспективы развития для субмикронной литографии |
1 |
5 |
3 |
|
Общий балл |
26 |
32 |
26 |
|
Место |
4 |
1 |
4 |
Ключом к высокопроизводительной и качественной литографии являются высококачественные стойкие шаблоны, которые способны выдерживать термические и механические напряжения. Возможность изготовления маски с резкостью края лучше чем 1/10 воспроизводимого размера, обеспечения достаточной плоскости шаблона и сохранения ее, а также рисунка неизменным во время экспонирования.
Список литературы
1. А. И. Курносов, В. В. Юдин - Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем 1986 г.
2. Ю. В. Панфилов Оборудование производства интегральных микросхем и промышленные роботы.
3. ЗАО "Фраст-М" каталог фоторезистов.
4. ЗАО "Фраст-М" фоторезист позитивный ФП-383 ТУ 2378-005-29135749-2007 характеристики и применение.
5. Ostec micro каталог продукции - установки для литографических процессов.
6. Установка отмывки полупроводниковых пластин Ostec ADT 976 руководство по эксплуатации.
7. Установка нанесения, проявления и снятия фоторезиста Ostec EVG®101 руководство по эксплуатации.
8. Установка прецизионного двухстороннего совмещения и экспонирования Ostec EVG620 руководство по эксплуатации.
9. Nikon каталог продукции - Микроскопы для исследования полупроводниковых пластин.
10. Прямой моторизированный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200А руководство по эксплуатации.
11. Sawatec каталог продукции - температурные установки.
Установка сушильная Sawatec HP 150 руководство по эксплуатации
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Современные литографические процессы в технологии ППП и ИС. Фоторезисты и фотошаблоны, дефекты при проведении процесса контактной фотолитографии. Сущность бесконтактной, рентгеновской и электронно-лучевой литографии, оценка технологического процесса.
курсовая работа [4,9 M], добавлен 12.06.2010Возможности литографии высокого разрешения как универсального способа получения изображения элементом микросхемы на кристалле полупроводника. Основные виды литографии, их характеристика и применение. Фотолитография, рентгеновская и электронная литография.
презентация [369,7 K], добавлен 26.08.2013Принцип контактной электрической сварки. Основные виды электрической контактной сварки: стыковая сопротивлением и точечная; последовательность операций. Технология электрической контактной сварки и подготовка заготовок. Получение стыкового соединения.
контрольная работа [499,4 K], добавлен 25.11.2012Сущность и классификация методов контактной сварки по форме сварного соединения, роду сварочного тока и характеру протекания производственного процесса. Оценка преимуществ и недостатков контактной сварки, используемое в ней оборудование и материалы.
презентация [1,0 M], добавлен 04.07.2014Основы теории и технологии контактной точечной сварки. Процессы, протекающие при контактной точечной сварке: деформирования свариваемых деталей; формирования механических и электрических контактов, электрической проводимости зоны сварки; нагрева металла.
учебное пособие [8,4 M], добавлен 21.03.2008Сущность плазмохимического травления. Факторы, определяющие технологические параметры процесса плазменного травления. Внешний вид установки LAM690. Аттестация оборудования, виды брака и их причины. Операции фотолитографии по стандартной технологии.
дипломная работа [4,8 M], добавлен 08.07.2014Основные виды контактной сварки. Конструктивные элементы машин для контактной сварки. Классификация и обозначение контактных машин, предназначенных для сварки деталей. Система охлаждения многоэлектродных машин. Расчет режима точечной сварки стали 09Г2С.
контрольная работа [1,1 M], добавлен 05.09.2012Молекулярно-лучевая эпитаксия как эпитаксиальный рост в условиях сверхвысокого вакуума. Характеристика видов электронных микроскопов, анализ сфер применения. Рассмотрение составных частей установки ионной имплантации. Особенности электронной литографии.
реферат [1,0 M], добавлен 06.05.2014Разработка плана контактной сети перегона, определение объемов строительных работ. Выбор технических средств для сооружения опор. Расчет количества "окон" для сооружения опор контактной сети методом с пути. Разработка графика работы установочного поезда.
курсовая работа [631,0 K], добавлен 19.07.2011Технология электронно-лучевой обработки конструкционных материалов. Электронно-лучевая плавка и сварка металлов. Лазерная обработка материалов и отверстий. Ионно-лучевая обработка материалов. Ионно-лучевые методы осаждения покрытий и ионная литография.
реферат [1,3 M], добавлен 23.06.2009Структура управления предприятием. Характеристика основного и вспомогательного оборудования. Основные параметры полуфабрикатов и основного продукта по технической документации. Регулирование режимов технологического процесса и контроль параметров работы.
отчет по практике [1,1 M], добавлен 11.03.2015Структура процессов и документации технологической части самолетостроения. Конструктивно-технологический анализ кронштейна, выбор схемы базирования и закрепления. Химический состав стали, выбор заготовки и технологического процесса производства детали.
курсовая работа [2,5 M], добавлен 26.12.2010Характеристика контактной сварки и соединения деталей. Конструкция изделия и условия его работы. Характеристика материала и оценка его свариваемости. Расчет режимов сварки, проектирование сварочного контура машины и техническое нормирование работ.
курсовая работа [136,8 K], добавлен 15.06.2009Методика разработки технологической схемы производства силикатного кирпича и общее описание технологического процесса. Содержание материального баланса завода. Порядок формирования технологической карты производственного процесса на исследуемом заводе.
контрольная работа [35,6 K], добавлен 10.01.2013Анализ процессов и устройств для сборки и монтажа, технологичности конструкции изделия. Разработка технологической схемы сборки, вариантов маршрутной технологии, выбор технологического оборудования и оснастки. Проектирование технологического процесса.
курсовая работа [340,2 K], добавлен 01.12.2009Анализ конструкции детали "Зубчатое колесо", выбор заготовки и метода ее получения. Оценка нужного оборудования и технологической оснастки. Определение операций механической обработки по переходам, их нормирование. Разработка технологической документации.
курсовая работа [179,9 K], добавлен 03.04.2012Исследование особенностей конструкции металлической стойки опор контактной сети. Анализ влияния элементов на свариваемость. Организация рабочего места сварщика. Характеристика сварочного оборудования. Расчет режимов сварки. Дефекты сварных соединений.
реферат [289,2 K], добавлен 20.07.2015Характеристика технологического процесса производства хлеба пшеничного. Анализ нормативной документации на производимую продукцию. Расчет экономической эффективности за счет внедрения инновационного оборудования. Применение метода "Бенчмаркинга".
дипломная работа [1,1 M], добавлен 13.02.2012Разработка маршрутного технологического процесса изготовления детали "корпус водила нижнего". Описание технологической операции для фрезерования пазов. Выбор оборудования и режущего инструмента для данной операции. Расчет параметров режима резания.
курсовая работа [2,3 M], добавлен 15.12.2014Назначение и описание детали "остов якоря", точностные характеристики ее поверхности. Выбор станочного оборудования и режущих инструментов. Описание технологического процесса, программа обработки детали. Расчет режимов резания, контроль качества.
курсовая работа [52,3 K], добавлен 29.07.2012