Нанесение тонкой пленки TiO2 методом центрифугирования с использованием лазерного отжига

Использование тонких пленок TiO2 в качестве прозрачного слоя n-типа проводимости в перовскитовых солнечных элементах. Влияние лазерного отжига на размер зерна в пленке и скорости центрифугирования на её толщину. Условия трансформации анатазы в рутил.

Рубрика Производство и технологии
Вид статья
Язык русский
Дата добавления 29.07.2017
Размер файла 2,8 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Южный федеральный университет

Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения

Нанесение тонкой пленки TiO2 методом центрифугирования с использованием лазерного отжига

А.В. Саенко, В.В. Бесполудин

Аннотация

Тонкие пленки TiO2 широко используются в качестве прозрачного слоя n-типа проводимости в перовскитовых солнечных элементах. Нанокристаллические пленки TiO2 наносились на поверхность стеклянных подложек, покрытых оксидом олова с фтором (FTO), методом центрифугирования и последующего лазерного отжига излучением с длиной волны 1064 нм. Исследовалось влияние лазерного отжига на размер зерна в пленке TiO2 и скорости центрифугирования на её толщину. Установлено, что диаметр зерна в полученных пленках TiO2 составляет в среднем 17-64 нм при мощности лазерного отжига 30-70 Вт. Получено, что толщина пленок TiO2 изменяется в диапазоне 72-124 нм от скорости центрифугирования. Оптимальные параметры тонкой пленки TiO2, полученной с использованием лазерного отжига, могут способствовать повышению коэффициента полезного действия перовскитовых солнечных элементов.

Ключевые слова: тонкая пленка, TiO2, центрифугирование, лазерный отжиг, морфология поверхности, толщина.

В последнее время интенсивно исследуются нанокристаллические тонкие пленки диоксида титана (TiO2), что связано большим потенциалом данного материала в области солнечной энергетики, фотокатализа и др. Сплошные (не пористые) пленки TiO2 широко используются в качестве прозрачного материала n-типа проводимости и дырочного блокирующего слоя в перовскитовых солнечных элементах. Данные элементы являются наиболее исследуемыми и перспективными, в частности благодаря стремительному увеличению коэффициента полезного действия (КПД) от 3,8 % до 19,3 % за последние 5 лет [1, 2]. Существенным для перовскитовых солнечных элементов является формирование пленки TiO2 с низким уровнем пор (трещин) нанометрового размера, что способствует снижению рекомбинационных потерь и повышению КПД.

В данной работе представлен метод нанесения сплошной тонкой пленки TiO2 для применения в перовскитовых солнечных элементах, включающий центрифугирование прекурсора TiO2 с последующим лазерным отжигом излучением с длиной волны 1064 нм. Проведено исследование влияния лазерного отжига на размер зерна в пленке TiO2 и скорости центрифугирования на её толщину.

Лазерный отжиг является постоянно растущей новой технологией, находящей все более широкое применение в микро- и наноэлектронике. Лазерный отжиг может приводить к улучшению степени кристалличности, более низкой шероховатости поверхности, большему размеру зерна, лучшей однородности, уменьшению центров рекомбинации, а также повышению уплотнённости (сплошности) [3]. Таким образом, эффективно подобранные параметры лазерного излучения могут способствовать улучшению характеристик солнечных элементов.

Описание эксперимента. Однородные сплошные пленки TiO2 наносились на стеклянные подложки, покрытые оксидом олова с фтором (FTO, Sigma-Aldrich), центрифугированием (SpinNXG-P1) 0,15 M раствора титана диизопропоксид бис(ацетилацетонат) (Sigma-Aldrich) в этаноле со скоростью 3000 об/мин. в течение 30 сек. [4, 5]. Затем пленки сушились в термошкафу при 120 °С в течении 5 мин. и подвергались лазерному отжигу для её кристаллизации.

Лазерный отжиг осуществлялся с помощью системы LIMO 100-532/1064, включающей высокомощный инфракрасный лазер с длиной волны 1064 нм (Nd:YAG лазер, 110 Вт), двухкоординатный сканер, нагревательный элемент и управляющий компьютер. В процессе отжига лазерный луч перемещался по поверхности пленки TiO2 с помощью гальванометров сканера. Пленка подвергалась лазерному отжигу при мощности излучения 30, 50 и 70 Вт и времени воздействия 60-90 сек., что соответствует температуре на её поверхности 400-540 °С [6, 7]. Для солнечных элементов предпочтительной является кристаллическая фаза анатаза TiO2, поскольку перенос электронов в ней происходит быстрее, чем в фазе рутила. При этом фаза анатаза необратимо трансформируется в рутил при температурах свыше 500 °C [2, 8]. Необходимо отметить, что стеклянная подложка с пленкой TiO2 предварительно нагревалась до 300 °С для предотвращения термического удара во время лазерного отжига.

Для исследования толщины нанокристаллической пленки TiO2 от скорости центрифугирования (2000-5000 об/мин. в течение 30 сек.) процесс лазерного отжига осуществлялся при мощности излучения 50 Вт, что соответствует температуре на поверхности пленки TiO2 порядка 470 °С [6].

Морфология поверхности и толщина пленки TiO2 исследовалась с помощью растровой электронной микроскопии (РЭМ) на микроскопе Nova Nanolab 600.

На рис. 1 представлены РЭМ-изображения морфологии поверхности пленок TiO2 в зависимости от мощности лазерного отжига (30, 50 и 70 Вт).

Рис. 1. РЭМ-изображения морфологии поверхности пленок TiO2

Показано, что увеличение мощности лазерного отжига приводит к укрупнению размера зерна TiO2. Так при мощности 30 Вт средний размер зерна составляет 17 нм, при 50 Вт - 23 нм, а при 70 Вт - 64 нм. При мощности 70 Вт наблюдается значительный рост размера зерна и усиление рельефности предположительно за счет коалесценции [9, 10].

На рис. 2 представлены РЭМ-изображения поперечного сечения пленок TiO2 в зависимости от скорости центрифугирования (2000, 3000 и 5000 об/мин.) и мощности лазерного отжига 50 Вт. Установлено, что толщина сплошной пленки TiO2 изменяется от 124 нм до 72 нм от скорости центрифугирования.

пленка отжиг центрифугирование солнечный

Рис. 2. Поперечное сечение пленок TiO2 на FTO/стеклянной подложке

Толщина сплошной пленки TiO2 оказывает существенное влияние на характеристики солнечного элемента [1]. Слишком толстая пленка повышает сопротивление переносу заряда за счет увеличения расстояния проходимого электронами от пленки перовскита к FTO. Кроме того, более толстая сплошная пленка TiO2 уменьшает поглощение света пленкой перовскита. В свою очередь, слишком тонкая пленка TiO2 может не полностью покрывать FTO, что приводит к нежелательному контакту пленки перовскита с FTO и значительному возрастанию рекомбинации зарядов. Следовательно, сплошная (не пористая) пленка TiO2 с оптимальной толщиной может способствовать более высокому КПД.

Проведенные исследования РЭМ-изображений показали, что слишком тонкие пленки TiO2 (толщина меньше 90 нм) могут образовывать некоторые поры (рис. 2), в то время как более толстые пленки (толщина больше 110 нм) могут приводить к образованию трещин на поверхности (рис 3). Таким образом, оптимальная толщина сплошной пленки TiO2 находится около 100 нм, где поверхность пленки более равномерная (рис. 2).

Рис. 3. РЭМ-изображение морфологии поверхности пленки TiO2 толщиной 124 нм

Вывод

Таким образом, в работе представлен относительно простой и быстрый метод нанесения сплошной пленки TiO2 с использованием инфракрасного лазерного излучения для применения в перовскитовых солнечных элементах. Метод лазерного отжига приводит к значительному снижению времени (до нескольких минут) и более низкой температуре подложки (300 °С) по сравнению с обычным отжигом в муфельной печи (для кристаллизации TiO2 в форму анатаза требуется до 3 часов при температурах 400-500 °С [2]).

Установлено, что диаметр зерна в полученных пленках TiO2 составляет в среднем 17-64 нм при мощности лазерного отжига 30-70 Вт. Получено, что толщина пленок TiO2 изменяется в диапазоне 72-124 нм от скорости центрифугирования 2000-3000 об/мин. Анализ РЭМ-изображений показал, что оптимальная толщина сплошной пленки TiO2 составляет около 100 нм. Таким образом, оптимальные параметры тонкой пленки TiO2, полученной с использованием лазерного отжига, могут способствовать повышению КПД перовскитовых солнечных элементов.

Результаты получены с использованием оборудования НОЦ «Лазерные технологии», ЦКП и НОЦ «Нанотехнологии» Института нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного федерального университета (г. Таганрог).

Литература

1. Hyun Suk Jung, Nam-Gyu Park. Perovskite Solar Cells: From Materials to Devices // Small, 2015. Vol. 11. № 1. pp. 10-25.

2. Пугачевский М.А. Морфологические и фазовые изменения аблированных частиц TiO2 при термическом отжиге // Письма в ЖТФ, 2012. Т. 38. Вып. 7. С. 56-63.

3. G. Mincuzzi, A.L. Palma, A. Di Carlo, T.M. Brown. Laser Processing in the Manufacture of Dye-Sensitized and Perovskite Solar Cell Technologies // ChemElectroChem, 2016. Vol. 3. pp. 9-30.

4. N. Avci, P.F. Smet, H. Poelman, N. Van de Velde, K. De Buysser, I. Van Driessche, D. Poelman. Characterization of TiO2 powders and thin films prepared by non-aqueous sol-gel techniques // J. Sol-Gel Sci. Tech., 2009. Vol. 6. pp. 11-18.

5. M. M. Tavakoli, L. Gu, Y. Gao, C. Reckmeier, J. He, A. L. Rogach, Y. Yao,

Z. Fan. Fabrication of efficient planar perovskite solar cells using a one-step chemical vapor deposition method // Scientific Reports, 2015. Vol. 5. pp. 1-9.

6. Саенко А.В., Малюков С.П., Клунникова Ю.В., Бесполудин В.В., Бондарчук Д.А. Моделирование процесса лазерного отжига пленки TiO2 для применения в солнечных элементах // Инженерный вестник Дона. 2016. № 1. URL: ivdon.ru/ru/magazine/archive/n1y2016/3517.

7. Malyukov S.P., Sayenko A.V., Kirichenko I.A. Laser Sintering of a TiO2 Nanoporous Film on a Flexible Substrate for Application in Solar Cells // Semiconductors, 2016. Vol. 50. № 9. pp. 1198-1202.

8. N.-G. Park, J. van de Lagemaat, A. J. Frank. Comparison of Dye-Sensitized Rutile- and Anatase-Based TiO2 Solar Cells // J. Phys. Chem. B, 2000. Vol. 104. pp. 8989-8994.

9. Малюков С.П., Саенко А.В. Управление толщиной и пористостью пленки TiO2 в процессе лазерной обработки // Известия ЮФУ. Технические науки, 2016. № 4. С. 15-22.

10. Саенко А.В., Ковалев А.В., Бесполудин В.В., Прилипко А.А. Исследование морфологии поверхности и электропроводности пленок кремния после лазерного отжига // Инженерный вестник Дона. 2016. № 1. URL: ivdon.ru/ru/magazine/archive/n1y2016/3516.

Размещено на Allbest.ru

...

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.