Научные основы радиоволновых методов и средств неразрушающего контроля низкоимпедансных композиционных материалов

· вычислений, производимых при обработки результатов измерений.

Методическая неопределенность в главах 2-й и 3-й заключается в задании импедансных граничных условий, которые одновременно несут информацию о шероховатом рельефе измеряемого образца НКМ и о его свойствах. Для устранения методической неопределенности, связанной с ШП измеряемого образца в процессе контроля волноводным измерительным датчиком, вводится промежуточная шероховатая образцовая мера. Для волноводного резонаторного измерительного датчика на резонаторе бегущей волны методические неопределенности уменьшаются так же. Для открытого резонатора методические неопределенности, связанные с ШП измеряемого образца, так же устраняются или уменьшаются с помощью введения шероховатой образцовой меры.

Рис. 6 Зависимость диэлектрической проницаемости НКМ от коэффициента отражения: 1) - по традиционной методике (без промежуточных образцовых мер); 2) - с промежуточными образцовыми мерами: 1и 2 - интервалы погрешности в 0,5 град

В диэлькометрии измерение образцов диэлектрических материалов производилось без учета ШП, считая ее вклад пренебрежимо малым, так как значение традиционных диэлектриков не более 20. Значение НКМ до 1000 и выше, и вклад ШП уже соизмерим с инструментальной неопределенностью. ШП НКМ определяется внутренней структурой материала. Технологический процесс обработки измеряемого образца влияет на образование ШП. Контроль ШП изделий из НКМ является наиболее сложным из-за особенностей структуры НКМ. Например, структурными особенностями поверхности углеродных композиционных материалов являются: поры, усадочные раковины, ворс волокнистых наполнителей, зерна кокса крупностью до 3 мм, и т.д. ШП, в виде неоднородностей размерами от 0,5 мм до 3 мм. Например, в технической документации на изделия из углеродосодержащих НКМ параметр ШП обычно задается числовой характеристикой R_z, определение которой производится на основе профилограммы. ШП НКМ может колебаться от 1 мкм до 500 мкм, так что неопределенность измерения ШП будет определяться неопределенностью измерительного прибора. Образцы НКМ для измерения проходят проверку на соответствие плоскости поверхности по усредненному уровню ШП, по геометрическим размерам, по однородности, по отсутствию механических повреждений и т.д. Неопределенность изготовления образцов составляет 0,005 мм.

Анализ влияния ШП может производится как в радиолокации. Поверхность НКМ обладает большой проводимостью, поэтому на границе НКМ - свободное пространство используются граничные условия Щукина-Леонтовича, которые производят описание электромагнитного поля на поверхности тела, и описание характеристики ШП и свойства НКМ.

Для предварительной оценки используется другой способ представления ШП через промежуточный слой, в котором изменяется по градиенту в глубь материала. Такой способ предложен в процессе численной реализации. Шероховатый слой представляется как многослойная структура, в которой каждый слой имеет свое среднее значение . Особенностью этого способа является необходимость точного знания геометрии рельефа ШП для определения усредненного значения в каждом слое.

Обобщенная модель ШП на плоскости представляется как многослойная структура, считая каждый такой подслой структуры материала однородным и изотропным, коэффициент заполнения такого слоя НКМ подчиняется математическому закону. Такая структура позволяет произвести уточнение влияния ШП на коэффициент отражения для НКМ с ШП. С математической точки зрения, ШП состоящая из подслоев толщиной d_i, можно считать с усредненным значением . На рис.7 представлена математическая модель сложной ШП, которая разбивается на несколько подслоев, представляя ее в виде плоскопараллельной структуры. Каждый подслой такой структуры характеризуется разным коэффициентом заполнением слоя диэлектриком, а его считается усредненной по слою, при этом подслой считается однородным и изотропным.

Рис. 7 Математическая модель шероховатой поверхности

Количество слоев выбирается в зависимости от уровня ШП и таким образом, чтобы изменения происходило равномерно по выбранному дискрету . Отражение плоской волны от такой структуры рассчитывается через матрицу передачи, описывающей каждый подслой. Характеристика каждого слоя представляется матрицей передачи подслоя в зависимости от коэффициента заполнения НКМ подслоя. Так для подслоя i матрицы передачи M_i равна

, (13)

где k - волновое число, d_i - толщина i- подслоя, _i - диэлектрическая проницаемость i- подслоя. Обобщенная матрица всего шероховатого слоя представляется в виде произведения промежуточных матриц (13).

. (14)

Из общей матрицы находится коэффициент отражения электромагнитной волны от ШП НКМ и коэффициент прохождения через ШП НКМ по формуле (15)

, . (15)

Поэтому для точного определения плоскости отражения от ШП вводится определение для представления фазовых характеристик ШП через многослойную структуру. Введение местоположения плоскости отражения от ШП позволяет составить более простую математическую модель описания формирования фронта отраженной волны, отраженную от гладкой поверхности. Т.е. гладкая поверхность удаляется или приближается к источнику зондирующей волны на некоторую величину . Тогда шероховатый слой выражается как слой, имеющий некую усредненную величину по слою.

ШП НКМ изменяется от 1 мкм до 500 мкм, геометрия зависит от технологии изготовления НКМ (внутренней структуры) и способа механической обработки. По проделанному анализу образцов НКМ выявлено, что: разброс значений колеблется от 100 до 1500; высота ШП изменяется в пределах от 5 до 500 мкм. На основе многослойной структуры ШП проведено математическое моделирование нахождения комплексного коэффициента отражения R от различного уровня ШП. Законы распределения по ШП в зависимости от ее структуры могут иметь следующие законы распределения: линейный (a), степенной (^a) и показательный (). Про приведенным законам рассчитаны фазовые добавки от различного распределения по высоте слоя ШП, и при различных значениях tg. На рис.8 приведены фазовые зависимости от высоты ШП, условия входящие в расчет приведены в табл.1.

Полученные расчетные зависимости позволяют произвести корректировку измеренного значения комплексного коэффициента отражения. Процедура фазовой корректировки производится при проведении контроля измеряемого образца НКМ с ШП с использованием традиционного эталона. Следующим шагом производится измерение профиля ШП, путем измерения профилограмммы образца НКМ, и с ее помощью определяется уровень ШП. По измеренным данным (распределению и уровню ШП) находят соответствующее значение фазового сдвига, по значению которого производится уточнение результата комплексного коэффициента отражения от образца НКМ с ШП. В результате мы получаем величину комплексного коэффициента отражения от НКМ с гладкой поверхностью. Затем производим вычисления . Полученный результат будет откорректирован и иметь уменьшенную методическую неопределенность и может быть применен для предварительного контроля диэлектрических параметров НКМ.

Таблица 1

Рис. 8 Фазовые зависимости: а) при =8,2 мм; б) при =5,6 мм

Приведенным способом полностью устранить методическую неопределенность, образованную ШП образца, нельзя. Поэтому предлагается другой путь уменьшения методической неопределенности, путем введения новых промежуточных образцовых мер для компенсации этих составляющих методической неопределенности.

В пятой главе производится описание метрологической базы для обеспечения контроля НКМ, произведено описание измерительного оборудования и методик измерения.

По разработанной теории разработаны и изготовлены конструкции измерительных датчиков и требований к их изготовлению: волноводные и резонаторные с распределенным взаимодействием электромагнитной волны с измеряемым образцом НКМ в измерительном датчике.

На базе основных типов волноводов прямоугольного и круглого, разработаны практические конструкции волноводных датчиков на следующих типах волноводов: на прямоугольном рис.9 фото, на круглом, на волноводах сложных типов П- и Н-. Аналогичным образом разработаны практические конструкции резонаторных измерительных датчиков на основе: резонаторов бегущей волны, резонаторов стоячей волны, полуконфокальных резонаторов, коаксиальных резонаторов. Конструкции измерительных датчиков приведены с рекомендациями по их изготовлению и устранению технологических погрешностей.

Рис. 9 Фото. Конструкция волноводного датчика бегущей волны

В соответствии с конструкциями измерительных датчиков разработаны и усовершенствованы измерительные схемы, позволяющие производить контроль НКМ волноводными и резонаторными методами.

У традиционных эталонов для измерения НКМ имеются две проблемы, образующие неопределенности: первая - проводимость поверхности и вторая распределение и уровень ШП. Создание шероховатой образцовой меры производиться по технологии тонких пленок, тонкая пленка наносится на шероховатый образец НКМ. Проводимость тонкой пленки отличается от проводимости эталона. Для уточнения проводимости тонкой пленки на шероховатой образцовой мере вводится дополнительная образцовая мера - гладкая, представляющая собой традиционный эталон с нанесенной на него такой же тонкой проводящей пленкой. В результате получена промежуточная гладкая образцовая мера. Гладкая образцовая мера позволяет учесть проводимость нанесенной тонкой пленки на шероховатую поверхность измеряемого образца.

При создании рельефа поверхности шероховатой образцовой меры НКМ может происходить искажение поверхности рельефа по действительным высотам. Измерение ШП производится по средней высоте некоторого базового участка механическими или оптическими профилографами. Такое отражающее покрытие обеспечивает точность воспроизведения рельефа средне статистически. Оценка рельефа измеряемого образца и образцовой меры производится статистически по усредненному уровню ШП. Для увеличения точности изготовления таких образцовых мер используются технологии, позволяющие воспроизводить рельеф с высокой точностью, например снятие реплики, оттиска ШП по глубине достигается до 5 Е. О точности полученных образцовых мер судят по уровню разрешающей способности технологии его изготовления, кроме того, оценка достоверности образцовой меры зависит от жесткости предъявляемых требований, по которым она производится. Традиционно проверка точности изготовления шероховатой образцовой меры проверяется статистическими методами по усовершенствованной методике, позволяющей проверить не только точность передачи рельефа ШП, но и отражающие свойства ШП. Точность воспроизведения рабочих характеристик промежуточными образцовыми мерами по воспроизводимому рельефу составляет до 2%, по передаче отражательных характеристик - не более 5%.

Введение промежуточных образцовых мер в процессе контроля позволяет снизить инструментальную неопределенность, связанную с отличием ШП измеряемого образца НКМ и эталона, на - дополнительный фазовый набег, из-за отличия ШП измеряемого образца НКМ и эталона. В пятой главе подробно рассматриваются вопросы технологии их изготовления, проведения оценки качества изготовления новых образцовых мер. Приведена методика измерения ШП эталонов. Рассмотрены требования, предъявляемые к образцовым мерам и требования для проведения их аттестации.

Для измерительных датчиков разработаны методики проведения контроля НКМ волноводными и резонаторными измерительными датчиками на основе традиционных схем для радиоволновых методов неразрушающего контроля. Методика проведения контроля НКМ волноводными методами имеет отличия от методик для традиционных материалов, и выполняется в следующей последовательности:

1. подготовка и проверка образца НКМ к проведению контроля (проверка поверхности на соответствие плоскости, отсутствие дефектов поверхности, определение уровня ШП);

2. выбор традиционного эталона, гладкой и шероховатой образцовой меры по значениям проводимости, уровню ШП для проведения контроля образцов НКМ;

3. сборка, настройка и калибровка измерительной схемы с установленным в ней измерительным датчиком;

4. проведение измерений комплексного коэффициента отражения или прохождения от традиционного эталона, установленного в измерительный датчик;

5. проведение измерений комплексного коэффициента отражения или прохождения от гладкой образцовой меры, установленной в измерительный датчик;

6. проведение измерений комплексного коэффициента отражения или прохождения от шероховатой образцовой меры, установленной в измерительный датчик;

7. по измеренным значениям произвести и откорректировать значение комплексного коэффициента отражения или прохождения от традиционного эталона;

8. проведение измерений комплексного коэффициента отражения или прохождения от измеряемого образца НКМ, установленного в измерительный датчик;

9. по измеренным значениям произвести и откорректировать значение комплексного коэффициента отражения или прохождения от образца НКМ;

10. произвести вычисление НКМ по полученным расчетным соотношениям;

11. произвести вычисление итоговой неопределенности НКМ.

По аналогии производится корректировка методики проведения контроля диэлектрической проницаемости НКМ резонаторными методами.

По предложенной теории были изготовленные измерительные датчики, проведен контроль НКМ некоторых образцов. Полученные результаты были проверены другими методами, которые подтвердили достоверность полученных результатов.

В заключении подведены основные итоги работы. Созданы научно-обоснованные, методологические и технические решения общей проблемы разработки методов и средств контроля НКМ на СВЧ на базе радиоволновых измерительных датчиков, обладающих повышенной точностью измерения, позволяющих производить контроль образцов НКМ, имеющих шероховатую поверхность. Проведен анализ факторов, дающих большие неопределенности НКМ, и приведены решения по их устранению.

С помощью математических моделей измерительных датчиков обоснована возможность проведения контроля образцов НКМ на СВЧ, имеющих ШП. Исследованы вопросы неопределенностей, вызванные ШП, и разработаны методы по снижению и устранению их уровня.

Основные результаты диссертационной работы

1. На основе аналитических исследований измерения характеристик диэлектрических материалов на СВЧ разработаны методы контроля НКМ на СВЧ и для их обоснования и развития созданы теоретические модели:

- модели волноводных измерительных датчиков на базе прямоугольного волновода, использующих распределенное взаимодействие электромагнитной волны с измеряемым образцом НКМ, основанных на методе продольных волн;

- модели резонаторных измерительных датчиков, использующих распределенное взаимодействие электромагнитной волны с измеряемым образцом НКМ на базе резонатора бегущей волны, основанных на методе собственных волн;

- модели промежуточных образцовых мер для проведения контроля образцов НКМ на СВЧ, имеющих шероховатую поверхность.

2. Разработаны и исследованы модели конструкций измерительных волноводных датчиков на волноводах других типов (круглого, П-, Н- типа) для контроля НКМ на СВЧ, позволяющие производить контроль с высокой точностью.

3. Разработаны модели новых конструкций резонаторных измерительных датчиков на основе объемных и открытых резонаторов для контроля диэлектрических параметров НКМ с повышенной точностью.

4. Разработаны новые конструкции измерительных датчиков для контроля НКМ на СВЧ, в которых реализуется распределенное взаимодействие электромагнитной волны с образцом НКМ, позволяющее производить накопление и усреднение измерительной информации. Разработаны методы по их изготовлению.

5. Разработаны промежуточные образцовые меры, которые используются в процессе контроля образцов НКМ на СВЧ, имеющие шероховатую поверхность, а также для уменьшения величины неопределенности, образованной шероховатой поверхностью и проводимостью поверхности образца.

6. Разработана модель шероховатой поверхности НКМ для более точного определения НКМ.

7. Разработаны методики контроля НКМ с помощью новых конструкций измерительных датчиков с использованием промежуточных образцовых мер.

8. Проведена оценка итоговой неопределенности, получаемой в процессе контроля НКМ. По проведенному анализу предложены меры и методы по их устранению или уменьшению.

9. Проведены практические измерения и контроль НКМ ряда материалов, имеющих шероховатую поверхность, в результате которых получены значения НКМ с высокой точностью. Методика контроля НКМ внедрена на ФНПЦ ОАО «НПО «Марс» г. Ульяновска

10. Разработанные методы могут использоваться в диэлькометрии для измерения диэлектрической проницаемости композиционных диэлектрических материалов, имеющих шероховатую поверхность.

Основные результаты диссертации изложены в следующих работах

Научная монография:

1. Дмитриенко, Г.В. Приборы и методы контроля комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2007. 173 с.

Статьи в ведущих рецензируемых научных журналах, выпускаемых в Российской Федерации, которые рекомендованы ВАК для опубликования основных научных результатов:

2. Дмитриенко, Г.В. Метод измерения комплексного коэффициента отражения низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ с использованием промежуточных эталонов. / Г.В. Дмитриенко // Метрология. 2008. №4. С. 31-38.

3. Дмитриенко, Г.В., Анисимов, В.Г. Контроль параметров низкоимпедансных композиционных материалов волноводным датчиком. / Г.В. Дмитриенко, В.Г. Анисимов // Метрология. 2008. №11. С. 24-30.

4. Дмитриенко, Г.В., Анисимов, В.Г. Измерение диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ / Г.В. Дмитриенко, В.Г. Анисимов //Измерительная техника. 2009. № 2. С. 44-48.

5. G. V. Dmitrienko and V. G. Anisimov Measurement of the permittivity of low-impedance composite materials at microwave frequencies / G. V. Dmitrienko and V. G. Anisimov // Translated from Izmeritel'naya Tekhnika, No. 2, pp. 44-48, February, 2009.

6. Дмитриенко, Г.В., Федотов, Л.В. Математическая модель шероховатости поверхности для контроля качества изготовления низкоимпедансных композиционных материалов / Г.В. Дмитриенко, Л.В. Федотов //Качество, инновации, образование. 2009. №9. С.

7. Дмитриенко, Г.В. Проектирование средств контроля качества низкоимпедансных композиционных материалов на основе синтеза конструкций измерительных датчиков / Г.В. Дмитриенко //Качество, инновации, образование. 2009. №9. С.

8. Дмитриенко, Г.В., Федотов, Л.В. Процесс контроля качества низкоимпедансных композиционного материалов на СВЧ / Г.В. Дмитриенко, Л.В. Федотов //Качество, инновации, образование - 2009. №10. С.

9. Дмитриенко, Г.В. Оценка эффективности защитных свойств низкоимпедансных материалов на основе волноводного датчика на СВЧ / Г.В. Дмитриенко //Качество, инновации, образование - 2009. №10. С.

Статьи в научно-технических журналах.

10. Дмитриенко, Г.В. Методы и устройства измерения низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ. / Г.В. Дмитриенко // Автоматизация процессов управления. 2005. №1. С. 87-90.

Статьи в сборниках научных трудов институтов и университетов:

11. Дмитриенко, Г.В., Трефилов Н.А. Способы измерения температурной зависимости комплексной диэлектрической проницаемости углепластиков. / Г.В. Дмитриенко, Н.А. Трефилов // Ноосферные знания и технологии: РАЕН Труды Ульяновского научного центра: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 1999. Т.2, вып.1, С. 100-102.

12. Дмитриенко, Г.В. Математическая модель радиоволнового датчика с материалом типа углепластика при СВЧ нагреве. / Г.В. Дмитриенко, Н.А. Трефилов, // Вестник УлГТУ: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ. 1999. №2. С. 62-67.

13. Дмитриенко, Г.В. Исследование рассеяния электромагнитных волн на импедансной поверхности. / Г.В. Дмитриенко // Вестник УлГТУ: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ. №1. 2000. С. 42-45.

14. Дмитриенко, Г.В. Взаимодействие электромагнитной волны с шероховатой импедансной поверхностью. / Г.В. Дмитриенко // Электронная техника: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, - 2001. С. 122-126.

15. Дмитриенко, Г.В. Применение микроволнового нагрева для измерения температурных зависимостей радиотехнических характеристик углепластиков в условиях близких к эксплуатационным. / Г.В. Дмитриенко // Электронная техника: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2002. С. 70-73.

16. Дмитриенко, Г.В. Использование промежуточных эталонных короткозамыкателей для повышения точности измерения диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ. / Г.В. Дмитриенко // Современные проблемы проектирования, производства и эксплуатации радиотехнических систем: сб. науч. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2006. вып. 5. С. 102-107.

17. Дмитриенко, Г.В. Методы и средства измерения диэлектрических параметров низкоимпедансных материалов на СВЧ. / Г.В. Дмитриенко // Наука и технологии. Труды XXVII Российской школы, посвященной 150-летию К.Э. Циолковского, 100-летию С.П. Королева и 60-летию Государственного ракетного центра «КБ им. академика В.П. Макеева» (26-28 июня 2007года, г. Миасс). Москва: 2007. С. 92-100.

Тезисы докладов на научно-технических конференциях:

18. Дмитриенко, Г.В. Исследование температурных зависимостей диэлектрической проницаемости импедансных сред с помощью волноводых датчиков. / Г.В. Дмитриенко // Методы и средства измерений физических величин РНТК. Тез.докл. Н.Новгород: Изд-во НГТУ, 1998. часть 1, С. 19.

19. Дмитриенко, Г.В. Измерение характеристик композиционных материалов на основе волноводного датчика методом малых возмущений./ Дмитриенко, Г.В., Трефилов, Н.А. // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники. Школы-семинара проводимой в рамках Федеральной целевой программы “Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы”: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 1999. С. 20-22.

20. Дмитриенко, Г.В. Измерение характеристик композиционных материалов на основе резонаторного датчика. Актуальные проблемы физической и функциональной электроники. / Г.В. Дмитриенко, Н.А. Трефилов Школы-семинара проводимой в рамках Федеральной целевой программы “Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы”: тез. докл. - Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 1999. С. 22-24.

21. Дмитриенко, Г.В. Уменьшение методической погрешности измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов. / Г.В. Дмитриенко, Н.А. Трефилов, А.В.Скрынников // Оптические, радиоволновые и тепловые методы и средства контроля качества материалов, промышленных изделий и окружающей среды. VIII международной НТК: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2000. С. 175-177.

22. Дмитриенко, Г.В. Уточнение математической модели измерения диэлектрических характеристик композиционных материалов типа углепластиков. / Г.В. Дмитриенко, А.В. Скрынников // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники. Школы-семинара проводимой в рамках Федеральной целевой программы “Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы”: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2000. С. 31-32.

23. Дмитриенко, Г.В. Измерение радиотехнических характеристик композиционных материалов. / Г.В. Дмитриенко // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники. Школы-семинара проводимой в рамках Федеральной целевой программы “Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы”: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2000. С. 32-33.

24. Дмитриенко, Г.В. Совершенствование образцовых мер для измерения радиотехнических параметров углерод-углеродных композиционных материалов. / Г.В. Дмитриенко // Современные проблемы создания и эксплуатации радиотехнических систем: труды третьей Всероссийской НПК. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, ФГУП УМЗ, 2001. С. 41.

25. Дмитриенко, Г.В. Проблемы измерения радиотехнических параметров углерод-углеродных композиционных материалов. / Г.В. Дмитриенко // Современные проблемы создания и эксплуатации радиотехнических систем: труды третьей Всеросийской НПК. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, ФГУП УМЗ, 2001. С. 44-46.

26. Дмитриенко, Г.В. Методика выполнения измерений комплексной диэлектрической проницаемости углепластиков на СВЧ. / Г.В. Дмитриенко // НПК “Многофункциональные радио электронные комплексы перспективных материальных аппаратов”: тез. докл. С-Пб: Изд-во СП-б, Холдинговая компания “Ленинец”, 2001. С. 24.

27. Дмитриенко, Г.В. Проблемы измерений параметров композиционных материалов в миллиметровом диапазоне длин волн./ Г.В. Дмитриенко // ХХХV НТК УлГТУ: тез.докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2001. ч. 2. С. 31-32.

28. Дмитриенко, Г.В. Математическая модель эталона для радиоволновых измерений./ Г.В. Дмитриенко // ХХХV НТК УлГТУ: тез.докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2001. ч. 2. С. 30-31.

29. Дмитриенко, Г.В. Фазовые измерения параметров углепластиков с использованием измерительных линий. / Г.В. Дмитриенко // ХХХVI НТК УлГТУ “Вузовская наука в современных условиях”: тез.докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2002. ч. 2. С. 21.

30. Дмитриенко, Г.В. Способ измерения диэлектрических материалов, имеющих шероховатую поверхность. / Г.В. Дмитриенко // ХХХVII НТК УлГТУ: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2003. ч. 1. С. 74-75.

31. Дмитриенко, Г.В. Требования предъявляемые к шероховатым эталонам при измерении диэлектрических параметров НКМ./ Г.В. Дмитриенко // ХХХVIII НТК УлГТУ: тез. докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2004. ч. 1. С. 78.

32. Дмитриенко, Г.В. Конструкции измерительных резонаторных датчиков для измерения диэлектрических параметров НКМ / Г.В. Дмитриенко // ХХХVIII НТК УлГТУ: тез.докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2004. ч. 1. С. 79.

33. Дмитриенко, Г.В. Измерение комплексной диэлектрической проницаемости волноводными и резонаторными методами./ Г.В. Дмитриенко // Физика и технические приложения волновых процессов III международной НТК: тез. докл. и сообщений. Волгоград: Изд-во Волгодрад, 2004. С. 238.

34. Дмитриенко, Г.В. Измерения диэлектрических параметров НКМ на основе волноводных резонаторов. / Г.В. Дмитриенко // Оптические, радиоволновые и тепловые методы и средства контроля качества материалов, промышленных изделий и окружающей среды. IX международной НТК: сб. научн. трудов. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2004. С. 173- 174.

35. Дмитриенко, Г.В. Учет инструментальной погрешности измерения комплексной диэлектрической проницаемости образцов диэлектриков с шероховатой поверхностью. / Г.В. Дмитриенко // 41 НТК УлГТУ: тез.докл. Ульяновск: Изд-во УлГТУ, 2007. С. 94.

36. Дмитриенко, Г.В. Методы и средства измерения и контроля комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на СВЧ. / Г.В. Дмитриенко // Наука и технологии. Секция 1. Неоднородные материалы и конструкции. XXVII Российской школы, посвященной 150-летию К.Э. Циолковского, 100-летию С.П. Королева и 60-летию Государственного ракетного центра «КБ им. академика В.П. Макеева» (26-28 июня 2007года, г. Миасс): сб. кратких сообщений. Екатеринбург, 2007. С. 64-66.

Патенты на изобретения:

37. Патент № 2194285 РФ МКИ⁷ G01 R 27/04. Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 13.03.2001; опубл. 10.12.2002, Бюл. № 34.

38. Патент № 2199760 РФ МКИ⁷ G01 R 27/04, 27/06. Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости сильно поглощающих материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 13.03.2001; опубл. 27.02.2003, Бюл. №6.

39. Патент № 2231078 РФ МКИ⁷ G01 R 27/04. Способ измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов на СВЧ и устройство для его осуществления / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 15.12.2002; опубл. 20.06.2004, Бюл. №17.

40. Патент № 2234103 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В. заявлено 12.05.2003; опубл. 10.08.2004, Бюл. №22.

41. Патент № 2247399 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 20.01.2004; опубл. 27.02.2005, Бюл. №6.

42. Патент № 2247400 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Устройство для измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 20.01.2004; опубл. 27.02.2005, Бюл. №6.

43. Патент № 2253123 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных материалов на СВЧ и устройство для его осуществления / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 05.03.2004; опубл. 27.05.2005, Бюл. №15.

44. Патент № 2228535 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих композиционных материалов при нагреве / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 26.11.2002; опубл. 10.05.2004, Бюл. №13.

45. Патент № 2321010 РФ МКИ⁷ G01 R 27/26. Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 08.08.2006; опубл. 27.03.2008, Бюл. №9.

46. Патент № 2326392 РФ МКИ⁷ G01 R 27/04. Устройство для определения параметров низкоимпедансных материалов на СВЧ с помощью коаксиального резонатора / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 09.01.2007; опубл. 10.06.2008, Бюл. №16.

47. Патент № 2328008 РФ МКИ⁷ G01 R 27/28. Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ / Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. заявлено 08.08.2006; опубл. 27.06.2008, Бюл. №18.

48. Дмитриенко, Г.В. Методы и средства измерения комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов: дис. … канд. техн. наук: 05.11.01. Ульяновск, 1999. 196 с.

Размещено на Allbest.ru