Основыне понятия и принципы цитологии

Размещено на http://www.allbest.ru/

ЗАДАНИЯ

Ответы на задания 1, 3-5 необходимо прислать в электронном виде на адрес преподавателя в ИДО. Если оно будет зачтено, Вы узнаете из своего рейтинга или у методиста. Если оно не будет зачтено, его переправят Вам по электронной почте для доработки.

1. Определите суть следующих основных понятий (заполнить таблицу)

2. Изучите таблицу. Основные гистологические красители и реакции

микроскопия биопсия морфометрия

3. Определите суть следующих основных понятий

1. Разрешающая способность - свойство микроскопа давать раздельно изображение мелких деталей рассматриваемого предмета.

2. Увеличение микроскопа - Увеличение микроскопа общее является произведением увеличений объектива и окуляра. Если между объективом и окуляром есть дополнительная увеличивающая система, то общее увеличение микроскопа равно произведению значений увеличений всех оптических систем, включая промежуточные: объектива, окуляра, бинокулярной насадки, оптовара или проекционных систем.

4. Подготовьте ответы на следующие вопросы

Размещено на http://www.allbest.ru/

1. Строение электронного микроскопа. Световой микроскоп: 1 - основание; 2 - тубосодержатель; 3 - тубус;

4 - коробка механизма микроподачи; 5 - револьверное устройство; 6 - предметный столик; 7 - макровинт; 8 - микровинт; 10 - окуляр; 11 - объективы; 12 - конденсор с диафрагмой; 13 - зеркало

4. Разновидности световой и электронной микроскопии, области применения

Обычный световой микроскоп (см.) используется в тех случаях, когда структуры объекта достаточно контрастны и хорошо различимы. Световая микроскопия позволяет получить увеличенное и подвижное изображение, провести микрофото- и киносъемку, длительно наблюдать один и тот же объект. В тех случаях, когда объекты микроскопии недостаточно контрастны, для их изучения применяют специальные методы световой микроскопии.

1. Микроскопия в темном поле (и ее разновидность - ультрамикроскопия) основана на том, что мельчайшие частицы, лежащие за пределами разрешающей способности микроскопа, становятся видимыми в лучах, идущих под таким большим углом, что в объектив они непосредственно не попадают (мощный пучок бокового света). В объектив попадает только свет, отраженный от этих частиц; при этом они выглядят светящимися точками на темном фоне.

2. Фазово-контрастная микроскопия позволяет резко повысить контрастность изображения объекта. Принцип метода состоит в выявлении сдвигов фазы световых колебаний, которые возникают, когда свет проходит сквозь структуру, имеющую показатель преломления, отличающийся от показателя преломления окружающей среды. Фазовые сдвиги глазом непосредственно не улавливаются, но в специальном фазово-контрастном микроскопе структуры, имеющие более высокий показатель преломления (даже совершенно прозрачные), оказываются более темными (или более светлыми в зависимости от конструкции прибора), чем окружающий фон.

Подобного рода картина наблюдается и при так называемой амплитудно-контрастной или аноптральной микроскопии.

3. Ультрафиолетовая микроскопия, основанная на способности некоторых веществ избирательно поглощать ультрафиолетовые лучи с определенной длиной волны, принципиально почти ничем не отличается от обычной световой микроскопии и осуществляется при помощи микроскопов с кварцевой или отражательной (зеркальной) оптикой. Изображение рассматривается на флюоресцирующем экране визуально, а также фотографируется. Микроскопирование объектов позволяет выявить исследуемые вещества, не применяя окрашивания.

Флюоресцентная (люминесцентная) микроскопия позволяет изучать как собственную (первичную) флюоресценцию ряда веществ, так и вторичную флюоресценцию, вызванную окрашиванием клеточных структур специальными красителями - флюорохромами. Принцип метода состоит в том, что некоторые вещества при световом облучении начинают светиться сами. Для возбуждения флюоресценции в видимой части спектра обычно пользуются синим светом или ультрафиолетовыми лучами.

Многие вещества, не флюоресцирующие в видимой области (в особенностинуклеиновые кислоты), при освещении ультрафиолетовыми лучами начинают флюоресцировать и могут выявляться без применения флюорохромов. К вторичной флюоресценции относится иммунофлюоресценция, основанная на взаимодействии иммунного белка с флюорохромами.

В качестве объектов исследований электронная микроскопия использует в основном твёрдые тела. Образцы толщиной от 1 нм до 10 мкм (тонкие плёнки, фольга, срезы и т. п.) изучаются в просвечивающих электронных микроскопах (ПЭМ), в которых электроны с энергиями от 1 кэв до 5 Мэв проходят сквозь объект. Непросвечивающие электронные микроскопы: растровые (РЭМ), зеркальные, ионные и электронные проекторы исследуют структуру массивных тел толщиной существенно больше 1 мкм.

Можно изучать порошки, микрокристаллы, частицы аэрозолей и т. д., нанеся их на подложку: тонкую плёнку для исследования в ПЭМ или массивную подложку для исследовании в РЭМ.

В дальнейших разжелах описаны некоторые методы электронной микроскопии.

С помощью специальных газовых микрокамер - приставок к просвечивающему или растровому электронному микроскопу - можно изучать жидкие и газообразные объекты, неустойчивые к воздействию высокого вакуума, в том числе влажные биологические препараты. Радиационное воздействие облучающего электронного пучка довольно велико, поэтому при исследовании биологических, полупроводниковых, полимерных и т. п. объектов необходимо тщательно выбирать режим работы электронного микроскопа, обеспечивающий минимальную дозу облучения.

Кроме статических объектов электронная микроскопия позволяет изучать различные процессы в динамике их развития: рост плёнок, деформацию кристаллов под действием переменной нагрузки, изменение структуры под влиянием электронного или ионного облучения и т. д. . Электрон имеет малую инерционность. Это дает возможность исследовать периодические во времени процессы, такие как перемагничивание тонких магнитных плёнок, переполяризацию сегнетоэлектриков, распространение ультразвуковых волн и т. д., применяя методы стробоскопической электронной микроскопии. Электронный пучок «освещает» образец импульсами, синхронными с подачей импульсного напряжения на образец, благодаря чему на экране прибора фиксируется определенная фаза процесса. Предельное временное разрешение при этом может составлять около 10-15 сек для просвечивающего электронного микроскопа (практически реализовано разрешение ~ 10-10 сек для просвечивающего и растрового электронного микроскопа).

Электронные микроскопы используются и в технологических целях (например, для изготовления микросхем методом фотолитографии).

К сожалению, электронная микроскопия ограничена в своих возможностях по исследованию и диагностике поверхности. Несмотря на огромные плюсы, которые она имеет, существует несколько неоспоримых недостатков. К таковым следует отнести, в первую очередь, необходимость достаточного вакуума для получения относительно хорошего разрешения, отсутствие возможности просмотра больших образцов, достижение атомного разрешения в критических для поверхности условиях, когда энергия пучка электронов достигает величины до 300 КэВ.

Решите ситуационные задачи

1. Какие виды микроскопии Вы выберите для изучения:

Ш органелл клетки-световая

Ш структуры поверхности клетки или органелл-электронная

Ш для выявления флуоресцентных объектов-световая

На лабораторном занятии студент изучил микропрепарат на малом увеличении микроскопа, а затем хотел рассмотреть интересующую его структуру при большом увеличении, но, несмотря на попытки сфокусировать изображение, четкости он не добился, а стекло препарата разбилось. Какие ошибки были допущены при изучении микропрепарата?

ОТВЕТ: при смене объективов необходимо слегка поднять тубусодержатель, произвести замену объективов, установить объектив большего увеличения на расстоянии не более 1 мм от покровного стекла, затем, вращая винт макроподачи на себя, найти изображение и скорректировать его винтом микроподачи.

Размещено на Allbest.ru