Расчет среднего арифметического погрешностей измерения. Оптические характеристики измерительного микроскопа
Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.
Рубрика | Физика и энергетика |
Вид | контрольная работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 16.09.2013 |
Размер файла | 503,3 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Филиал федерального государственного бюджетного образовательного учреждения
высшего профессионального образования
«Национальный исследовательский
университет «МЭИ» в г. Смоленске
Расчетное задание
по дисциплине "Оптические измерения"
Преподаватель: Гавриленков В.А.
Группа: ОЭС-10
Вариант: 1
Студент: Горбунов И.В.
Смоленск 2013
1. Условие
Задание 1
В табл. 2 приведены результаты многократных измерений величины х.
1. При заданном числе измерений m1 и интервалов m2 по х построить кумулятивную кривую и гистограмму распределения результатов измерений.
2. Вычислить среднее арифметическое хср, погрешность k-го измерения дк и среднее квадратическое отклонение у.
3. При том же числе интервалов построить гистограмму распределения случайных погрешностей.
4. Вычислить на интервале -Зу < д < +Зу значения функции Гаусса Y(у, дк) и построить ее на том же рисунке, что и распределение погрешности.
6. Сделать выводы.
Задание 2
Вывести формулу для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений величины Y. Вычислить погрешность.
Заданная зависимость:
.
Задание 3
Нарисовать оптическую схему и вычислить оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа: видимое увеличение, диапазон измерений, чувствительность, вероятностную составляющую инструментальной погрешности и др. Исходные данные представлены в табл. 1.
Таблица 1 Исходные данные
Тип ОИП |
f'об, мм |
f'ок, мм |
Dпд, мм |
Дшк, мм |
Д, мм |
|
Измерительный микроскоп |
34 |
12,5 |
20 |
0,01 |
120 |
2. Решение
погрешность оптический измерительный микроскоп
Задание 1
1. Результаты многократных измерений величины х расположим в порядке возрастания (табл.2). Разобьем полученное множество измерений на m2=7 равных интервалов с шагом:
(1.1)
Определяем границы интервалов:
мм;
мм;
мм;
мм;
мм;
мм;
мм;
Подсчитаем число попаданий результатов измерений в каждый интервал:
(1.2)
Распределение результатов измерения по интервалам сведем в табл. 1.1.
Таблица 1.1 Распределение результатов измерения по интервалам
№ |
№инт |
Измеренная величина (xk) |
Число повторений (mk) |
Число попаданий в интервал (mj) |
|
1 |
1 |
1,01100 |
1 |
5 |
|
2 |
1,01128 |
1 |
|||
3 |
1,01145 |
1 |
|||
4 |
1,01155 |
1 |
|||
5 |
1,01165 |
1 |
|||
6 |
2 |
1,01180 |
2 |
6 |
|
7 |
1,01202 |
2 |
|||
8 |
1,01210 |
2 |
|||
9 |
3 |
1,01235 |
2 |
10 |
|
10 |
1,01251 |
2 |
|||
11 |
1,01269 |
3 |
|||
12 |
1,01280 |
1 |
|||
13 |
1,01297 |
2 |
|||
14 |
4 |
1,01310 |
2 |
7 |
|
15 |
1,01327 |
2 |
|||
16 |
1,01344 |
1 |
|||
17 |
1,01353 |
1 |
|||
18 |
1,01368 |
1 |
|||
19 |
5 |
1,01383 |
1 |
2 |
|
20 |
1,01428 |
1 |
|||
21 |
6 |
1,01447 |
1 |
1 |
|
22 |
7 |
1,01571 |
1 |
1 |
По результатам таблицы 2 построили кумулятивную кривую (рис.1) и гистограмму распределения результатов измерений по интервалам (рис.2).
Рис. 1. Кумулятивная кривая распределения результатов измерений
Рис.2. Гистограмма распределения результатов измерений по интервалам
2. Вычислили среднее арифметическое значение:
,(1.3)
где xк - к-ое значение исследуемой величины x, mк - число повторений значения xк.
В результате расчета получили xср = 1,01306 мм (без учёта возможных промахов).
Рассчитали погрешность k-ого измерения к как разность k-ого и среднего значений величины x.
Пример расчета погрешности: .
Вычислили среднее квадратическое отклонение:
,(1.4)
где - количество проведенных измерений.
В результате вычисления получили:
= 0,00220 мм.
3 =0,00660 мм.
Одно из значений д20=0,01090 мм превышает 3 = 0,00660 мм, следовательно, значение x11=1,02396 мм является промахом.
Уточним значения xср, и 3 без учета промаха:
xср=1,01272 мм.
= 0,00109 мм.
3 =0,00326 мм.
Результаты вычислений xср, к и свели в табл. 1.2.
Вычислили среднее квадратическое отклонение среднего арифметического:
;(1.5)
В результате расчета получили: S=0,00058 мм.
Надежность измерений P = 90%. Число измерений m = 32. Данной вероятности соответствует коэффициент Стьюдента Ts = 1,6930. Используя его, определили значение вероятной погрешности:
, (1.6)
мм.
Таким образом, результирующее значение x:
Таблица 1.2 Результаты вычислений Xср, к и
№ |
xк, мм |
mк |
к, мм |
Y(,k) |
Y(,k)/Y(,k)макс |
Примечание |
|
1 |
1,01100 |
1 |
-0,00206 |
41,93313 |
0,28626 |
xср=1,01272 мм =0,00109 мм мм. Y(,k)макс=146,54 при к=0 |
|
2 |
1,01128 |
1 |
-0,00178 |
60,98666 |
0,41633 |
||
3 |
1,01145 |
1 |
-0,00161 |
74,11764 |
0,50597 |
||
4 |
1,01155 |
1 |
-0,00151 |
82,18020 |
0,56101 |
||
5 |
1,01165 |
1 |
-0,00141 |
90,35065 |
0,61679 |
||
6 |
1,01180 |
2 |
-0,00126 |
102,51197 |
0,69981 |
||
7 |
1,01202 |
2 |
-0,00104 |
119,18664 |
0,81364 |
||
8 |
1,01210 |
2 |
-0,00096 |
124,62662 |
0,85077 |
||
9 |
1,01235 |
2 |
-0,00071 |
138,35574 |
0,94450 |
||
10 |
1,01251 |
2 |
-0,00055 |
143,86960 |
0,98214 |
||
11 |
1,01269 |
3 |
-0,00037 |
146,48626 |
1,00000 |
||
№ |
xк, мм |
mк |
к, мм |
Y(,k) |
Y(,k)/Y(,k)макс |
Примечание |
|
12 |
1,01280 |
1 |
-0,00026 |
146,11962 |
0,99750 |
||
13 |
1,01297 |
2 |
-0,00009 |
142,64761 |
0,97380 |
||
14 |
1,01310 |
2 |
0,00004 |
137,75231 |
0,94038 |
||
15 |
1,01327 |
2 |
0,00021 |
128,78908 |
0,87919 |
||
16 |
1,01344 |
1 |
0,00038 |
117,49505 |
0,80209 |
||
17 |
1,01353 |
1 |
0,00047 |
110,81796 |
0,75651 |
||
18 |
1,01368 |
1 |
0,00062 |
98,99979 |
0,67583 |
||
19 |
1,01383 |
1 |
0,00077 |
86,77108 |
0,59235 |
||
20 |
1,02396 |
1 |
0,01090 |
52,10705 |
0,35571 |
||
21 |
1,01428 |
1 |
0,00122 |
39,90246 |
0,27240 |
||
22 |
1,01447 |
1 |
0,00141 |
3,29774 |
0,02251 |
||
23 |
1,01571 |
1 |
0,00265 |
41,93313 |
0,28626 |
3. При том же числе интервалов построили гистограмму распределения случайных погрешностей по интервалам (рис.3).
Для построения гистограммы распределения случайных погрешностей k привели значения погрешности в относительных единицах m/mмакс в табл.1.3.
Таблица 1.3 К построению гистограммы распределения случайных погрешностей по интервалам
№инт |
к, мм |
Число повторений (mk) |
Число попаданий в интервал (mj) |
m/mмакс |
|
1 |
-0,00172 |
1 |
5 |
0,500 |
|
-0,00144 |
1 |
||||
-0,00127 |
1 |
||||
-0,00117 |
1 |
||||
-0,00107 |
1 |
||||
2 |
-0,00092 |
2 |
6 |
0,600 |
|
-0,00070 |
2 |
||||
-0,00062 |
2 |
||||
3 |
-0,00037 |
2 |
10 |
1,000 |
|
-0,00021 |
2 |
||||
-0,00003 |
3 |
||||
0,00008 |
1 |
||||
0,00025 |
2 |
||||
4 |
0,00038 |
2 |
7 |
0,700 |
|
0,00055 |
2 |
||||
0,00072 |
1 |
||||
0,00081 |
1 |
||||
0,00096 |
1 |
||||
5 |
0,00111 |
1 |
2 |
0,200 |
|
0,00156 |
1 |
||||
6 |
0,00175 |
1 |
1 |
0,100 |
|
7 |
0,00299 |
1 |
1 |
0,100 |
4.Вычислили для точек k = ±у, ±2у, ±3у, значения функции Гаусса Y(у, дk), используя распределение Гаусса:
;(1.7)
Для построения зависимости Y(,k) привели значения функции Гаусса (относительные единицы Y(,k)/Y(,k)макс) в табл. 1.4.
Таблица 1.4 Результаты вычисления функции Гаусса
дk, мм |
Y(,k), мм-1 |
Y(,k)/Y(,k)макс |
|
0 |
146,54 |
1,00000 |
|
±0,00109 |
88,88 |
0,60652 |
|
±0,00218 |
19,83 |
0,13532 |
|
±0,00327 |
1,63 |
0,01112 |
По результатам таблицы построили на одном графике гистограмму распределения случайных погрешностей по интервалам и функцию Гаусса (рис.3).
Рис.3. Гистограмма распределения случайных погрешностей и функция Гаусса
В процессе выполнения расчётного задания были построены кумулятивная кривая и гистограмма распределения результатов измерения по интервалам, представленные на рис. 1 и рис. 2.
На основе данных табл. 3 были вычислены следующие величины:
- среднее значение xср = 1,01272;
- случайные погрешности каждого измерения;
- среднее квадратичное отклонение = 0,00109 мм;
- результирующее значение
В процессе выполнения расчётного задания была построена гистограмма распределения случайных погрешностей, приведённая на рисунке 3. Из этого рисунка видно, что максимум распределения случайных погрешностей расположен вблизи . На этом же рисунке представлен график функции , значения которой были рассчитаны по формуле Гаусса и представлены в табл. 1.4.
Задание 2
Вывести формулу для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений величины
.
Вычислить погрешность. Исходные данные представлены в табл. 2.1
Таблица 2.1 Исходные данные
Y = f(x1, х2, х3,...) |
d, мм |
f'k, мм |
z', мм |
?к, о. е |
|
0 |
1000 |
20 |
0,01 |
Для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений воспользовались формулой:
(2.1)
Вычислили частные производные от данной функции:
Подставив вычисленные значения в формулу (2.1), получили:
Результирующее значение R записали в следующем виде:
,(2.2)
Задание 3
Нарисовать оптическую схему (рис 3.1), вычислить оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа - видимое увеличение, диапазон измеряемых величин, чувствительность, вероятностную составляющую погрешности и др. Исходные данные представлены в табл. 3.1
Таблица 3.1 Исходные данные
Вариант |
Тип ОИП |
f'об, мм |
f'ок, мм |
Dпд,, мм |
Д, мм |
Дшк, мм |
|
1 |
Измерительный микроскоп |
34 |
12,5 |
20 |
120 |
0,01 |
Рис. 3.1 Схема измерительного микроскопа в тонких компонентах
1. Расчёт оптических параметров измерительного микроскопа:
а) Вычислили линейное увеличение объектива:
,(3.1)
.
б) Вычислили видимое увеличение окуляра:
,(3.2)
.
в) Вычислили видимое увеличение микроскопа:
, (3.3)
.
г) Линейное поле микроскопа рассчитали по формуле:
, (3.4)
д) Угловое поле окуляра рассчитали по формуле:
,(3.5)
е) Рассчитали фокусное расстояние микроскопа:
(3.6)
ж) Расстояние от главной плоскости объектива до предметной плоскости:
(3.7)
з) Вычислили длину оптической системы:
(3.8)
и) Рассчитаем вынос выходного зрачка, используя формулу Ньютона:
(3.9)
2. Расчёт метрологических параметров измерительного микроскопа:
Определили количество делений в измерительном устройстве, которое совмещено с полевой диафрагмой:
(3.10)
Рассчитали цену деления шкалы:
,(3.11)
Вычислили вероятностную составляющую инструментальной погрешности показаний как половину цены деления шкалы:
(3.12)
Рассчитали чувствительность:
(3.13)
3. Расчет конструктивных параметров шкалы.
Рассчитали ширину штрихов:
(3.14)
Вычислили высоту коротких штрихов:
(3.15)
Рассчитали высоту длинных штрихов:
(3.17)
Результаты вычислений занесли в таблицу 3.2.
Изобразили часть шкалы измерительного микроскопа, воспользовавшись ее конструктивными параметрами (рис. 3.2).
а) б)
Рис. 3.2 а) Шкала измерительного микроскопа, совмещённая с полевой диафрагмой б) Фрагмент шкалы.
Таблица 3.2 Оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа
Оптические характеристики |
|||
Линейное увеличение объектива |
Об, |
-3,5 |
|
Видимое увеличение микроскопа |
-70 |
||
Видимое увеличение окуляра |
20 |
||
Фокусное расстояние микроскопа |
, мм |
-3,5 |
|
Линейное поле |
2y, мм |
5,7 |
|
Угловое поле окуляра |
77,4 |
||
Вынос выходного зрачка |
, мм |
1,3 |
|
Расстояние от главной плоскости объектива до предметной плоскости |
, мм |
43,7 |
|
Длина оптической системы |
, мм |
166,5 |
|
Метрологические характеристики |
|||
Интервал деления шкалы |
шк, мм |
0,01 |
|
Число делений шкалы |
m, дел |
1800 |
|
Цена деления шкалы |
C, мм/дел |
0,0029 |
|
Инструментальная погрешность |
ин, мм |
0,00145 |
|
Чувствительность |
S, дел/мм |
345 |
|
Конструктивные параметры |
|||
Высота коротких штрихов |
h1, мм |
0,02 |
|
Высота длинных штрихов |
h2, мм |
0,03 |
|
Ширина штрихов шкалы |
шк, мм |
0,001 |
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Методика определения систематической составляющей погрешности вольтметра в точках 10 и 50 В. Вычисление значения статистики Фишера для двух значений напряжений. Расчет погрешности измерительного канала, каждого узла с учетом закона распределения.
курсовая работа [669,2 K], добавлен 02.10.2013Габаритный расчет оптической системы прибора. Обоснование компонентов микроскопа. Исследование оптический системы объектива на ЭВМ. Расчет конструктивных параметров. Числовая апертура объектива в пространстве. Оптические параметры окуляра Гюйгенса.
курсовая работа [375,2 K], добавлен 19.03.2012Разработка измерительного канала контроля физического параметра технологической установки: выбор технических средств измерения, расчет погрешности измерительного канала, дроссельного устройства, расходомерных диафрагм и автоматического потенциометра.
курсовая работа [414,1 K], добавлен 07.03.2010Расчет среднеарифметического значения и среднеквадратического отклонения результатов наблюдений. Расчет коэффициентов корреляции результатов, инструментальных погрешностей, среднего значения величины косвенного измерения, абсолютных коэффициентов влияния.
курсовая работа [108,9 K], добавлен 08.01.2016Разработка измерительного канала для контроля расхода воды через водогрейный котел: выбор диафрагмы, установка дифманометра, учет погрешностей измерения. Расчет схемы автоматического моста КСМ-4, работающего в паре с термометром сопротивления ТСМ (50).
курсовая работа [1,1 M], добавлен 07.03.2010Ознакомление с методами измерения показателя преломления с помощью микроскопа. Вычисление погрешности измерений для пластинок из обычного стекла и оргстекла. Угол отражения луча. Эффективность определения коэффициента преломления для твердого тела.
лабораторная работа [134,3 K], добавлен 28.03.2014Определение погрешностей средства измерений, реализация прибора в программной среде National Instruments, Labview. Перечень основных метрологических характеристик средства измерений. Мультиметр Ц4360, его внешний вид. Реализация виртуального прибора.
курсовая работа [628,7 K], добавлен 09.04.2015Анализ метрологических характеристик. Расчет среднеарифметического значения выходного напряжения в каждой точке входного. Проверка на однородность в каждой контрольной точке. Методы нахождения теоретической СХП и оценка степени ее достоверности.
курсовая работа [799,7 K], добавлен 01.11.2013Состав, принципы работы и назначение растрового электронного микроскопа РЭМН – 2 У4.1. Особенности восстановления рабочего вакуума в колонне растрового микроскопа. Функционирование диффузионного и форвакуумного насосов, датчиков для измерения вакуума.
дипломная работа [4,1 M], добавлен 05.11.2009Характер проявления и причины возникновения погрешностей в измерительной системе. Особенности статических и динамических погрешностей. Назначение электронного фазометра для измерения сдвига фаз между изменяющимися периодически электрическими колебаниями.
реферат [639,8 K], добавлен 25.07.2012Критерии грубых погрешностей. Интервальная оценка среднего квадратического отклонения. Обработка результатов косвенных и прямых видов измерений. Методика расчёта статистических характеристик погрешностей системы измерений. Определение класса точности.
курсовая работа [112,5 K], добавлен 17.05.2015Исследование характеристик и свойств диэлектрического тонкопленочного материала, помещенного между двумя металлическими обкладками одинаковых размеров, создавая своего рода тонкопленочный конденсатор. Вычисление среднего арифметического напряжения.
лабораторная работа [197,3 K], добавлен 07.06.2015Применение методов обработки сигналов и математической статистики для построения моделей изучаемых процессов. Природа ошибок, методы их идентификации. Качественное пояснение среднего и погрешностей как коридоров рассеяний. Прямые и косвенные измерения.
реферат [92,7 K], добавлен 19.08.2015Понятие и содержание, классификация погрешностей по форме представления, причине появления и характеру проявления и способам измерения. Погрешность измерения и принцип неопределенности Гейзенберга, методика и подходы к ее оценке в современных условиях.
реферат [18,4 K], добавлен 09.01.2015Понятие измерения в теплотехнике. Числовое значение измеряемой величины. Прямые и косвенные измерения, их методы и средства. Виды погрешностей измерений. Принцип действия стеклянных жидкостных термометров. Измерение уровня жидкостей, типы уровнемеров.
курс лекций [1,1 M], добавлен 18.04.2013Основные динамические характеристики средств измерения. Функционалы и параметры полных динамических характеристик. Весовая и переходная характеристики средств измерения. Зависимость выходного сигнала средств измерения от меняющихся во времени величин.
презентация [127,3 K], добавлен 02.08.2012Причины возникновения погрешностей и способы устранения недоучета электропотребления в автоматизированных системах контроля и учета электроэнергии. Предельные значения токовой и угловой погрешностей трансформаторов тока. Оценка экономического эффекта.
статья [56,9 K], добавлен 28.05.2010Прямые и косвенные виды измерения физических величин. Абсолютная, относительная, систематическая, случайная и средняя арифметическая погрешности, среднеквадратичное отклонение результата. Оценка погрешности при вычислениях, произведенных штангенциркулем.
контрольная работа [86,1 K], добавлен 25.12.2010Чертеж сужающего устройства и схема соединительных линий при измерении расхода пара. Датчики разности давления и образцового сопротивления. Расчет статических номинальных метрологических характеристик измерительного канала. Выбор аналогового коммутатора.
курсовая работа [438,0 K], добавлен 13.04.2012Измерения на основе магниторезистивного, тензорезистивного, терморезистивного и фоторезистивного эффектов. Источники погрешностей, ограничивающих точность измерений. Рассмотрение примеров технических устройств, основанных на резистивном эффекте.
курсовая работа [607,9 K], добавлен 20.05.2015