Расчет среднего арифметического погрешностей измерения. Оптические характеристики измерительного микроскопа

Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.

Рубрика Физика и энергетика
Вид контрольная работа
Язык русский
Дата добавления 16.09.2013
Размер файла 503,3 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Филиал федерального государственного бюджетного образовательного учреждения

высшего профессионального образования

«Национальный исследовательский

университет «МЭИ» в г. Смоленске

Расчетное задание

по дисциплине "Оптические измерения"

Преподаватель: Гавриленков В.А.

Группа: ОЭС-10

Вариант: 1

Студент: Горбунов И.В.

Смоленск 2013

1. Условие

Задание 1

В табл. 2 приведены результаты многократных измерений величины х.

1. При заданном числе измерений m1 и интервалов m2 по х построить кумулятивную кривую и гистограмму распределения результатов измерений.

2. Вычислить среднее арифметическое хср, погрешность k-го измерения дк и среднее квадратическое отклонение у.

3. При том же числе интервалов построить гистограмму распределения случайных погрешностей.

4. Вычислить на интервале у < д < у значения функции Гаусса Y(у, дк) и построить ее на том же рисунке, что и распределение погрешности.

6. Сделать выводы.

Задание 2

Вывести формулу для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений величины Y. Вычислить погрешность.

Заданная зависимость:

.

Задание 3

Нарисовать оптическую схему и вычислить оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа: видимое увеличение, диапазон измерений, чувствительность, вероятностную составляющую инструментальной погрешности и др. Исходные данные представлены в табл. 1.

Таблица 1 Исходные данные

Тип ОИП

f'об, мм

f'ок, мм

Dпд, мм

Дшк, мм

Д, мм

Измерительный микроскоп

34

12,5

20

0,01

120

2. Решение

погрешность оптический измерительный микроскоп

Задание 1

1. Результаты многократных измерений величины х расположим в порядке возрастания (табл.2). Разобьем полученное множество измерений на m2=7 равных интервалов с шагом:

(1.1)

Определяем границы интервалов:

мм;

мм;

мм;

мм;

мм;

мм;

мм;

Подсчитаем число попаданий результатов измерений в каждый интервал:

(1.2)

Распределение результатов измерения по интервалам сведем в табл. 1.1.

Таблица 1.1 Распределение результатов измерения по интервалам

инт

Измеренная величина (xk)

Число повторений (mk)

Число попаданий в интервал (mj)

1

1

1,01100

1

5

2

1,01128

1

3

1,01145

1

4

1,01155

1

5

1,01165

1

6

2

1,01180

2

6

7

1,01202

2

8

1,01210

2

9

3

1,01235

2

10

10

1,01251

2

11

1,01269

3

12

1,01280

1

13

1,01297

2

14

4

1,01310

2

7

15

1,01327

2

16

1,01344

1

17

1,01353

1

18

1,01368

1

19

5

1,01383

1

2

20

1,01428

1

21

6

1,01447

1

1

22

7

1,01571

1

1

По результатам таблицы 2 построили кумулятивную кривую (рис.1) и гистограмму распределения результатов измерений по интервалам (рис.2).

Рис. 1. Кумулятивная кривая распределения результатов измерений

Рис.2. Гистограмма распределения результатов измерений по интервалам

2. Вычислили среднее арифметическое значение:

,(1.3)

где xк - к-ое значение исследуемой величины x, mк - число повторений значения xк.

В результате расчета получили xср = 1,01306 мм (без учёта возможных промахов).

Рассчитали погрешность k-ого измерения к как разность k-ого и среднего значений величины x.

Пример расчета погрешности: .

Вычислили среднее квадратическое отклонение:

,(1.4)

где - количество проведенных измерений.

В результате вычисления получили:

= 0,00220 мм.

3 =0,00660 мм.

Одно из значений д20=0,01090 мм превышает 3 = 0,00660 мм, следовательно, значение x11=1,02396 мм является промахом.

Уточним значения xср, и 3 без учета промаха:

xср=1,01272 мм.

= 0,00109 мм.

3 =0,00326 мм.

Результаты вычислений xср, к и свели в табл. 1.2.

Вычислили среднее квадратическое отклонение среднего арифметического:

;(1.5)

В результате расчета получили: S=0,00058 мм.

Надежность измерений P = 90%. Число измерений m = 32. Данной вероятности соответствует коэффициент Стьюдента Ts = 1,6930. Используя его, определили значение вероятной погрешности:

, (1.6)

мм.

Таким образом, результирующее значение x:

Таблица 1.2 Результаты вычислений Xср, к и

xк, мм

mк

к, мм

Y(,k)

Y(,k)/Y(,k)макс

Примечание

1

1,01100

1

-0,00206

41,93313

0,28626

xср=1,01272 мм

=0,00109 мм

мм.

Y(,k)макс=146,54 при к=0

2

1,01128

1

-0,00178

60,98666

0,41633

3

1,01145

1

-0,00161

74,11764

0,50597

4

1,01155

1

-0,00151

82,18020

0,56101

5

1,01165

1

-0,00141

90,35065

0,61679

6

1,01180

2

-0,00126

102,51197

0,69981

7

1,01202

2

-0,00104

119,18664

0,81364

8

1,01210

2

-0,00096

124,62662

0,85077

9

1,01235

2

-0,00071

138,35574

0,94450

10

1,01251

2

-0,00055

143,86960

0,98214

11

1,01269

3

-0,00037

146,48626

1,00000

xк, мм

mк

к, мм

Y(,k)

Y(,k)/Y(,k)макс

Примечание

12

1,01280

1

-0,00026

146,11962

0,99750

13

1,01297

2

-0,00009

142,64761

0,97380

14

1,01310

2

0,00004

137,75231

0,94038

15

1,01327

2

0,00021

128,78908

0,87919

16

1,01344

1

0,00038

117,49505

0,80209

17

1,01353

1

0,00047

110,81796

0,75651

18

1,01368

1

0,00062

98,99979

0,67583

19

1,01383

1

0,00077

86,77108

0,59235

20

1,02396

1

0,01090

52,10705

0,35571

21

1,01428

1

0,00122

39,90246

0,27240

22

1,01447

1

0,00141

3,29774

0,02251

23

1,01571

1

0,00265

41,93313

0,28626

3. При том же числе интервалов построили гистограмму распределения случайных погрешностей по интервалам (рис.3).

Для построения гистограммы распределения случайных погрешностей k привели значения погрешности в относительных единицах m/mмакс в табл.1.3.

Таблица 1.3 К построению гистограммы распределения случайных погрешностей по интервалам

инт

к, мм

Число повторений (mk)

Число попаданий в интервал (mj)

m/mмакс

1

-0,00172

1

5

0,500

-0,00144

1

-0,00127

1

-0,00117

1

-0,00107

1

2

-0,00092

2

6

0,600

-0,00070

2

-0,00062

2

3

-0,00037

2

10

1,000

-0,00021

2

-0,00003

3

0,00008

1

0,00025

2

4

0,00038

2

7

0,700

0,00055

2

0,00072

1

0,00081

1

0,00096

1

5

0,00111

1

2

0,200

0,00156

1

6

0,00175

1

1

0,100

7

0,00299

1

1

0,100

4.Вычислили для точек k = ±у, ±2у, ±3у, значения функции Гаусса Y(у, дk), используя распределение Гаусса:

;(1.7)

Для построения зависимости Y(,k) привели значения функции Гаусса (относительные единицы Y(,k)/Y(,k)макс) в табл. 1.4.

Таблица 1.4 Результаты вычисления функции Гаусса

дk, мм

Y(,k), мм-1

Y(,k)/Y(,k)макс

0

146,54

1,00000

±0,00109

88,88

0,60652

±0,00218

19,83

0,13532

±0,00327

1,63

0,01112

По результатам таблицы построили на одном графике гистограмму распределения случайных погрешностей по интервалам и функцию Гаусса (рис.3).

Рис.3. Гистограмма распределения случайных погрешностей и функция Гаусса

В процессе выполнения расчётного задания были построены кумулятивная кривая и гистограмма распределения результатов измерения по интервалам, представленные на рис. 1 и рис. 2.

На основе данных табл. 3 были вычислены следующие величины:

- среднее значение xср = 1,01272;

- случайные погрешности каждого измерения;

- среднее квадратичное отклонение = 0,00109 мм;

- результирующее значение

В процессе выполнения расчётного задания была построена гистограмма распределения случайных погрешностей, приведённая на рисунке 3. Из этого рисунка видно, что максимум распределения случайных погрешностей расположен вблизи . На этом же рисунке представлен график функции , значения которой были рассчитаны по формуле Гаусса и представлены в табл. 1.4.

Задание 2

Вывести формулу для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений величины

.

Вычислить погрешность. Исходные данные представлены в табл. 2.1

Таблица 2.1 Исходные данные

Y = f(x1, х2, х3,...)

d, мм

f'k, мм

z', мм

?к, о. е

0

1000

20

0,01

Для оценки средней квадратической погрешности результата косвенных измерений воспользовались формулой:

(2.1)

Вычислили частные производные от данной функции:

Подставив вычисленные значения в формулу (2.1), получили:

Результирующее значение R записали в следующем виде:

,(2.2)

Задание 3

Нарисовать оптическую схему (рис 3.1), вычислить оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа - видимое увеличение, диапазон измеряемых величин, чувствительность, вероятностную составляющую погрешности и др. Исходные данные представлены в табл. 3.1

Таблица 3.1 Исходные данные

Вариант

Тип ОИП

f'об, мм

f'ок, мм

Dпд,, мм

Д, мм

Дшк, мм

1

Измерительный микроскоп

34

12,5

20

120

0,01

Рис. 3.1 Схема измерительного микроскопа в тонких компонентах

1. Расчёт оптических параметров измерительного микроскопа:

а) Вычислили линейное увеличение объектива:

,(3.1)

.

б) Вычислили видимое увеличение окуляра:

,(3.2)

.

в) Вычислили видимое увеличение микроскопа:

, (3.3)

.

г) Линейное поле микроскопа рассчитали по формуле:

, (3.4)

д) Угловое поле окуляра рассчитали по формуле:

,(3.5)

е) Рассчитали фокусное расстояние микроскопа:

(3.6)

ж) Расстояние от главной плоскости объектива до предметной плоскости:

(3.7)

з) Вычислили длину оптической системы:

(3.8)

и) Рассчитаем вынос выходного зрачка, используя формулу Ньютона:

(3.9)

2. Расчёт метрологических параметров измерительного микроскопа:

Определили количество делений в измерительном устройстве, которое совмещено с полевой диафрагмой:

(3.10)

Рассчитали цену деления шкалы:

,(3.11)

Вычислили вероятностную составляющую инструментальной погрешности показаний как половину цены деления шкалы:

(3.12)

Рассчитали чувствительность:

(3.13)

3. Расчет конструктивных параметров шкалы.

Рассчитали ширину штрихов:

(3.14)

Вычислили высоту коротких штрихов:

(3.15)

Рассчитали высоту длинных штрихов:

(3.17)

Результаты вычислений занесли в таблицу 3.2.

Изобразили часть шкалы измерительного микроскопа, воспользовавшись ее конструктивными параметрами (рис. 3.2).

а) б)

Рис. 3.2 а) Шкала измерительного микроскопа, совмещённая с полевой диафрагмой б) Фрагмент шкалы.

Таблица 3.2 Оптические и метрологические характеристики измерительного микроскопа

Оптические характеристики

Линейное увеличение объектива

Об,

-3,5

Видимое увеличение микроскопа

-70

Видимое увеличение окуляра

20

Фокусное расстояние микроскопа

, мм

-3,5

Линейное поле

2y, мм

5,7

Угловое поле окуляра

77,4

Вынос выходного зрачка

, мм

1,3

Расстояние от главной плоскости

объектива до предметной плоскости

, мм

43,7

Длина оптической системы

, мм

166,5

Метрологические характеристики

Интервал деления шкалы

шк, мм

0,01

Число делений шкалы

m, дел

1800

Цена деления шкалы

C, мм/дел

0,0029

Инструментальная погрешность

ин, мм

0,00145

Чувствительность

S, дел/мм

345

Конструктивные параметры

Высота коротких штрихов

h1, мм

0,02

Высота длинных штрихов

h2, мм

0,03

Ширина штрихов шкалы

шк, мм

0,001

Размещено на Allbest.ru

...

Подобные документы

  • Методика определения систематической составляющей погрешности вольтметра в точках 10 и 50 В. Вычисление значения статистики Фишера для двух значений напряжений. Расчет погрешности измерительного канала, каждого узла с учетом закона распределения.

    курсовая работа [669,2 K], добавлен 02.10.2013

  • Габаритный расчет оптической системы прибора. Обоснование компонентов микроскопа. Исследование оптический системы объектива на ЭВМ. Расчет конструктивных параметров. Числовая апертура объектива в пространстве. Оптические параметры окуляра Гюйгенса.

    курсовая работа [375,2 K], добавлен 19.03.2012

  • Разработка измерительного канала контроля физического параметра технологической установки: выбор технических средств измерения, расчет погрешности измерительного канала, дроссельного устройства, расходомерных диафрагм и автоматического потенциометра.

    курсовая работа [414,1 K], добавлен 07.03.2010

  • Расчет среднеарифметического значения и среднеквадратического отклонения результатов наблюдений. Расчет коэффициентов корреляции результатов, инструментальных погрешностей, среднего значения величины косвенного измерения, абсолютных коэффициентов влияния.

    курсовая работа [108,9 K], добавлен 08.01.2016

  • Разработка измерительного канала для контроля расхода воды через водогрейный котел: выбор диафрагмы, установка дифманометра, учет погрешностей измерения. Расчет схемы автоматического моста КСМ-4, работающего в паре с термометром сопротивления ТСМ (50).

    курсовая работа [1,1 M], добавлен 07.03.2010

  • Ознакомление с методами измерения показателя преломления с помощью микроскопа. Вычисление погрешности измерений для пластинок из обычного стекла и оргстекла. Угол отражения луча. Эффективность определения коэффициента преломления для твердого тела.

    лабораторная работа [134,3 K], добавлен 28.03.2014

  • Определение погрешностей средства измерений, реализация прибора в программной среде National Instruments, Labview. Перечень основных метрологических характеристик средства измерений. Мультиметр Ц4360, его внешний вид. Реализация виртуального прибора.

    курсовая работа [628,7 K], добавлен 09.04.2015

  • Анализ метрологических характеристик. Расчет среднеарифметического значения выходного напряжения в каждой точке входного. Проверка на однородность в каждой контрольной точке. Методы нахождения теоретической СХП и оценка степени ее достоверности.

    курсовая работа [799,7 K], добавлен 01.11.2013

  • Состав, принципы работы и назначение растрового электронного микроскопа РЭМН – 2 У4.1. Особенности восстановления рабочего вакуума в колонне растрового микроскопа. Функционирование диффузионного и форвакуумного насосов, датчиков для измерения вакуума.

    дипломная работа [4,1 M], добавлен 05.11.2009

  • Характер проявления и причины возникновения погрешностей в измерительной системе. Особенности статических и динамических погрешностей. Назначение электронного фазометра для измерения сдвига фаз между изменяющимися периодически электрическими колебаниями.

    реферат [639,8 K], добавлен 25.07.2012

  • Критерии грубых погрешностей. Интервальная оценка среднего квадратического отклонения. Обработка результатов косвенных и прямых видов измерений. Методика расчёта статистических характеристик погрешностей системы измерений. Определение класса точности.

    курсовая работа [112,5 K], добавлен 17.05.2015

  • Исследование характеристик и свойств диэлектрического тонкопленочного материала, помещенного между двумя металлическими обкладками одинаковых размеров, создавая своего рода тонкопленочный конденсатор. Вычисление среднего арифметического напряжения.

    лабораторная работа [197,3 K], добавлен 07.06.2015

  • Применение методов обработки сигналов и математической статистики для построения моделей изучаемых процессов. Природа ошибок, методы их идентификации. Качественное пояснение среднего и погрешностей как коридоров рассеяний. Прямые и косвенные измерения.

    реферат [92,7 K], добавлен 19.08.2015

  • Понятие и содержание, классификация погрешностей по форме представления, причине появления и характеру проявления и способам измерения. Погрешность измерения и принцип неопределенности Гейзенберга, методика и подходы к ее оценке в современных условиях.

    реферат [18,4 K], добавлен 09.01.2015

  • Понятие измерения в теплотехнике. Числовое значение измеряемой величины. Прямые и косвенные измерения, их методы и средства. Виды погрешностей измерений. Принцип действия стеклянных жидкостных термометров. Измерение уровня жидкостей, типы уровнемеров.

    курс лекций [1,1 M], добавлен 18.04.2013

  • Основные динамические характеристики средств измерения. Функционалы и параметры полных динамических характеристик. Весовая и переходная характеристики средств измерения. Зависимость выходного сигнала средств измерения от меняющихся во времени величин.

    презентация [127,3 K], добавлен 02.08.2012

  • Причины возникновения погрешностей и способы устранения недоучета электропотребления в автоматизированных системах контроля и учета электроэнергии. Предельные значения токовой и угловой погрешностей трансформаторов тока. Оценка экономического эффекта.

    статья [56,9 K], добавлен 28.05.2010

  • Прямые и косвенные виды измерения физических величин. Абсолютная, относительная, систематическая, случайная и средняя арифметическая погрешности, среднеквадратичное отклонение результата. Оценка погрешности при вычислениях, произведенных штангенциркулем.

    контрольная работа [86,1 K], добавлен 25.12.2010

  • Чертеж сужающего устройства и схема соединительных линий при измерении расхода пара. Датчики разности давления и образцового сопротивления. Расчет статических номинальных метрологических характеристик измерительного канала. Выбор аналогового коммутатора.

    курсовая работа [438,0 K], добавлен 13.04.2012

  • Измерения на основе магниторезистивного, тензорезистивного, терморезистивного и фоторезистивного эффектов. Источники погрешностей, ограничивающих точность измерений. Рассмотрение примеров технических устройств, основанных на резистивном эффекте.

    курсовая работа [607,9 K], добавлен 20.05.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.