Процеси розсіяння світла нано- та мікроскопічними об’єктами в напівпровідниках та діелектриках
Формування поверхневого мікрорельєфу. Автокореляційні властивості поверхневого рельєфу. Розсіяння об'ємних і поверхневих електромагнітних хвиль наночастинками, мембранами і мезопористими діелектричними плівками. Застосування процесів розсіяння світла.
| Рубрика | Физика и энергетика |
| Вид | автореферат |
| Язык | украинский |
| Дата добавления | 10.08.2014 |
| Размер файла | 62,4 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
7) Показано, що аналіз просторового розподілу світла, розсіяного різними модами плоского хвилеводу, надає можливість дискримінації внеску в спостережуваний розподіл від зовнішнього і внутрішнього інтерфейсів хвилеводу. Розсіяння світла модами низького порядку переважно породжується розсіянням на зовнішньому інтерфейсі хвилеводу, тоді як мода вищого порядку зумовлює розсіяння на внутрішньому інтерфейсі.
8) Запропоновано високочутливий метод контролю забруднення поверхні шляхом вимірювання часової інтенсивності хвилеводного розсіяння.
9) Показано, що кутова залежність інтегральної інтенсивності розсіяння поверхневих хвиль є індикатором плазмон-поляритонного резонансу в значно ширшому інтервалі зміни оптичних параметрів прилеглого середовища ніж порівнянні з традиційно використовуваною кутовою залежністю мінімуму коефіцієнта дзеркального відбиття.
10) Розроблено модель механізму фоточутливості голографічного запису інформації на плівках GeOx, яка полягає в локалізації нерівноважних носіїв на рівнях, зумовлених ненасиченими валентними зв'язками германію.
11) Запропоновано новий метод контролю процесу голографічного формування рельєфу поверхні, який полягає в одночасній модуляції інтенсивності та напряму розповсюдження одного з світлових пучків, що бере участь у формуванні інтерференційної картини.
Достовірність отриманих результатів підтверджується комплексністю проведених досліджень із застосуванням сучасних експериментальних методів і методик, відтворюваністю результатів досліджень, використанням атестованих приладів, оцінкою похибки експериментів, комп'ютерним моделюванням фізичних явищ, що добре узгоджується з експериментальними результатами, відповідністю отриманих результатів даним інших авторів, високим міжнародним рейтингом і impact-фактором наукових видань, у яких опубліковано основні роботи по темі дисертації, у тому числі Applied Optics, Optics Express, Optics Communications, Physica Statatus Solidi, European Journals of Physics, Оптика и спектроскопия, Физика и техника полупроводников а також широкою апробацією матеріалів роботи на вітчизняних та міжнародних конференціях.
ОСНОВНІ РЕЗУЛЬТАТИ ДИСЕРТАЦІЇ ОПУБЛІКОВАНО В РОБОТАХ
1. Стерлигов В.А., Снитко О.В. Высокочастотные голографические дифракционные решетки на поверхности монокристаллов CdS // ФТП.- 1983.- T.17, №11.- С.2018-2021.
2. Способ контроля процесса изготовления голографической дифракционной решетки: А.с. 1267334 СССР, МКИ G 02B 5/18 / Н.А. Власенко, Ф.А. Назаренков, В.А. Стерлигов (СССР).-№3477217/18-10; Заявл. 04.05.82; Опубл. 30.10.86, Бюл. №40.-181 с.
3. Власенко Н.А., Назаренков Ф.А., Снитко О.В., Стерлигов В.А. Механизм фотостимулированных процессов в пленках GeO // Поверхность.- 1991, №1.- С.81-86.
4. Nazarenkov F.A., Sterligov V.A. Mechanism of Photo-Stimulated Processes in GeOx Films // Thin Solid Films.- 1995.- Vol.254.- P.164-168.
5. Domashev G.E., Shirshov Yu.M., Sterligov V.A., Subbota Yu.V., Svechnicov S.V. On the informative possibility of light scattering method for structural perfection testing of both Silicon surface and near surface layer // Proc. SPIE.- 1994.- Vol.2113.- P.205-213.
6. Domashev G.E., Shirshov Yu.M., Sterligov V.A., Subbota Yu.V., Svechnikov S.V. Atomic structure display of a real Silicon surface under light scattering // Appl. Opt.- 1995.- Vol.34, №13 .- P.2367-2371.
7. Sterligov V.A. Angle-resolved light scattering from semiconductors // Physica Status Solidi (A).- 1998.- Vol.170, №2.- P.443-450.
8. Sterligov V.A., Subbota Yu.V., Shirshov Yu.M., Pochekaylova L.P., Venger E.F., Konakova R.V., Il'yin I.Yu. Elastic laser light scattering by GaAs surfaces // Appl. Opt.- 1999.- Vol.38, №12.- P.2666-2676.
9. Sterligov V.A., Cheyssac P, Lysenko S.I., El Fidali Y., Kofman R., Stella A. Influence of metal nanoparticles on electromagnetic surface waves and laser light scattering // Eur. Phys. J. D.- 1999.- Vol.9.- P.581-584.
10. Cheyssac P., Sterligov V.A., Lysenko S. I., Kofman R. Scattering of surface plasmon-polaritons and light by metallic nanoparticles // Opt. Comm.- 2000.- Vol.175, №4-6.- P.383-388.
11. Cheyssac P., Sterligov V.A., Lysenko S.I., Kofman R. Surface Plasmon-Polaritons, part 1: Interaction with 1D objects // Physica Status Solidi (a).- 1999.- Vol.175, №1.- P.253-258.
12. Sterligov V.A., Cheyssac P., Lysenko S.I., Kofman R. Surface Plasmon-Polaritons, part 2: Scattering by metallic nanoparticles // Physica Status Solidi (a).- 1999.- Vol.175, №1.- P.259-264.
13. Лысенко С.И., Снопок Б.А., Стерлигов В.А., Костюкевич Е.В., Ширшов Ю.М. Рассеяние света молекулярно организованными пленками на поверхности поликристаллического золота // Оптика и спектроскопия.- 2001.- T.90, №4.- С.606-616.
14. Sterligov V.A., Cheyssac P., Lysenko S.I, Kofman R. Elastic scattering of surface electromagnetic waves by 1D surface relief // Opt. Comm.- 2000.- Vol.177, №1-6.- P.1-8.
15. Sterligov V.A., Cheyssac P., Lysenko S.I., Kofman R. Relationship between the scattering of homogeneous and evanescent electromagnetic waves by metallic nanoparticles // Opt. Comm.- 2000.- Vol.186, №1-3.- P.27-33.
16. Sterligov V.A., Cheyssac P., Kofman R., Lysenko S.I., Lytvyn P.M., Vohnsen B., Bozhevolnyi S.I., and Maradudin A.A. Near/far-field investigations of the interaction between surface waves and nanoparticles // Phys.Stat.Sol.(b).- 2002.- Vol.229, №3.- P. 1283-1294.
17. Лысенко С.И., Снопок Б.А., Стерлигов В.А., Ширшов Ю.М. Статистические свойства поверхностей: Особенности расчета автоковариационной функции из индикатрисы рассеянного света // Опт. и спектр.- 2001.- T.91, №5.- С.852-861.
18. Sterligov V.A., Lysenko S.I., Aschieri P., Baldi P., Chanvillard L., De Micheli M. Elastic light scattering by a LiNbO3 waveguide // Appl. Opt.- 2002.- Vol.41, №7.- P.1418-1423.
19. Sterligov V.A., Cheyssac P. Diffusion йlastique de la lumiиre et contrфle des propriйtйs d'une surface // Proc. of the 3th Colloquium “Mйthodes et Techniques Optiques pour l'Industrie”.- Saint Aubin de Mйdoc (France), 2002.- P.165-169.
20. Sterligov V.A., Cheyssac P., Blau W., Krцll M. Scattering and reflective properties of a hexagonal lattice of nanorods // Opt. Comm.- 2003.- Vol.226, №1-6.- P.125-134.
21. Mйtayer C., Sterligov V.A., Meunier A., Bossis G., Persello J., Svechnikov S.V. Field induced structures and phase separation in electrorheological and magnetorheological colloidal suspensions // J.Phys. Cond. Matt.- 2004.- Vol.16.- P.S3975-S3986.
22. Mйtayer C., Coquelle E., Sterligov V.A., Meunier A., Bossis G., Persello J. Importance of controlling interparticle gaps for novel material properties // Int. J. Mod. Phys. B. - 2005. - Vol.19, №7-9.- P. 1290-1296.
23. Appareil et procйdй de caractйrisation optique d'un objet А.с. № FR2832795 (France) МКИ G01B-011/30, G 01N 21/84 / Sterligov V.A., (Ukraine) Cheyssac P. (France).-№01 15232 Заявл. 23.11.2001; Опубл. 30.05.2003 Bull. №03/22.
24. Sterligov V.A., Kretschmann M. Scattering of surface electromagnetic waves by Sn nanoparticles // Opt. Express. - 2005. - Vol.13. - №11. - P.4134-4140.
25. Sterligov V.A. Scattering and reflective properties of ordered mesoporous silica films // Appl. Opt. -2005. - Vol.44. - №21. - P.4538-4546.
26. Стерлигов В.А., Снитко О.В. Исследование процессов фотоэлектрохимического травления поверхностных дифракционных решеток с малыми периодами на монокристаллах CdS // Тезисы докладов V Всесоюзного совещания "Физика и техническое применение полупроводников АII BVI" Вильнюс. -1983. - Т.2. - С.97-98.
27. Назаренков Ф.А., Стерлигов В.А. Исследование лазерного фотохимического травления пленок GeOx // Тезисы докладов VII Всесоюзной конференции по взаимодействию оптического излучения с веществом. - 1990. -Том 2. - С.136-137.
28. Sterligov V.A., Cheyssac P., Lysenko S.I., Kofman R. Interaction of Homogeneous and Surface Waves with Metal Nanoparticles // Epioptics 2000. Proceedings of the 19th Course of the International School of Solid State Physics. A.Cricenti, A.Zichichi ed., World Scientific Publishing Company (Erice, Sicily, Italy, 19-25 juillet 2000). - 2001. -P.115-120.
29. Суббота Ю.В., Примаченко И.А., Ширшов Ю.М., Стерлигов В.А., Карплюк А.И. Сканирующее лазерное устройство контроля загрязнений кремниевых пластин // Информационный листок о научно-техническом достижении. - 1989.- №89-2879.
30. Горба В.А., Карплюк А.И., Примаченко И.А., Стерлигов В.А., Суббота Ю.В., Ширшов Ю.М. Сканирующие лазерные устройства контроля поверхности кремниевых пластин // Электр. пром.- 1989. -№6.- С.32-33.
31. Стерлигов В.А. Суббота Ю.В., Ширшов Ю.М. Оптический дефлектор // ПТЭ. -1990. - №2. -С.7.
32. Sterligov V.A. Elastic Light Scattering by Structure Defects // Electromagnetic and Light Scattering - Theory and Application III, T.Wriedt, Yu.Eremin, ed., Bremen.- 1998. - P.271-277.
33. Sterligov V.A., Schintke S., Hinrichs K., Frisch A.-M., Esser N., Richter W. Angle resolved light scattering measurements on In/GaAs(001) and In/Sb/GaAs(001) // Surface and Interface Optics. Book of Extended Abstracts. Raaen S. and Bremer J. Ed. Aalesund -1997. -P.107-108.
34. Sterligov V.A., Domashev G.E., Shirshov Yu.M., Subbota Yu.V., Svechnikov S.V. Investigation of Silicon Wafers Surface Monatomic Structure by Elastic Laser Light Scattering // The physics and chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 interface. H.Z.Massoud, E.H.Pointdexter, and C.R.Heims, Ed. Pennington, NJ. - Proc. -1996. - Vol.96-1.-P.604-613.
АНОТАЦІЯ
Стерлігов В.А. Процеси розсіяння світла нано- та мікроскопічними об'єктами в напівпровідниках та діелектриках. - Рукопис. Дисертація на здобуття наукового ступеня доктора фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.05 - оптика, лазерна фізика. - Інститут фізики НАН України, Київ, 2005.
Дисертація присвячена дослідженню процесів розсіяння світла нанорозмірними об'єктами та структурами на поверхні напівпровідникових кристалів і діелектричних плівок, значно меншими за довжину хвилі оптичного випромінювання. Встановлено, що розсіяння поверхневих хвиль наночастинками характеризується просторовим розподілом інтенсивності розсіяного світла, котрий істотно залежить від функції розподілу наночастинок за розмірами. Розроблено метод порівняння результатів розсіяння поверхневих і однорідних хвиль. Цей метод застосовано для металевих наночастинок та одновимірних дефектів поверхні. Встановлено, що при розсіянні світла наномембранами відбувається когерентна інтерференція від джерел розсіяння, розподілених по товщині плівки. Експериментально продемонстровано субатомну чутливість розсіяння світла до рельєфу поверхні. Запропоновано метод дискримінації розсіяння світла рельєфом поверхні та нетопографічними дефектами на ній. Продемонстровано значний внесок нетопографічного розсіяння в процеси розсіяння світла поверхнею пластин кремнію та арсеніду галію. Показано, що кутова залежність інтегральної інтенсивності розсіяння поверхневих хвиль є індикатором плазмон-поляритонного резонансу в значно ширшому інтервалі зміни оптичних параметрів прилеглого середовища, ніж це забезпечує традиційно використовуваний мінімум коефіцієнта дзеркального відбиття. Розроблено експериментальні методики послідовного та паралельного вимірювання у межах півсфери просторового розподілу розсіяного світла.
Ключові слова: Si, GaAs, пружне розсіяння світла, розсіяння поверхневих хвиль, структура поверхні, наночастинки, наноструктура, фототравлення.
ABSTRACT
Sterligov V.A. Processes of light scattering by nano- and microscopical objects in semiconductors and dielectrics. - Manuscript. Thesis for a Doctor of Physics - Mathematical Sciences degree (specialty 01.04.05 - optics, physics of lasers). - Institute of Physics NAS of Ukraine, Kyiv, 2005.
The thesis deals with investigation of the processes of light scattering from nano-size objects and structures (much less than the optical radiation wavelength) on surfaces of semiconductor crystals and dielectric films. It is obtained that scattering of surface waves from nanoparticles is characterized by spatial distribution of scattered light intensity; this distribution depends essentially on the nanoparticle size distribution function. A method for comparing the results of surface and volume wave scattering is developed. This method is applied for metal nanoparticles and one-dimensional surface defects. For light scattering by nanomembranes, it is shown that coherent interference from scattering sources distributed in film depth occurs. Subatomic sensitivity of light scattering to surface relief is demonstrated experimentally. A method for discrimination of light scattering from surface relief and nontopographic surface defects is developed. A considerable contribution of nontopographic scattering to the processes of light scattering from surfaces of silicon and gallium arsenide wafers is demonstrated. It is shown that angular dependence of the integral intensity of surface wave scattering serves as indicator of plasmon-polariton resonance in a much wider range of variation of optical parameters of adjacent medium than that provided by the traditionally used minimum of the specular reflection coefficient. The experimental techniques of consequent and concurrent measurements of spatial distribution of light scattering within a hemisphere are developed.
Key words: Si, GaAs, elastic light scattering, surface wave scattering, surface structure, nanoparticles, nanostructure, photoetching.
АННОТАЦИЯ
Стерлигов В.А. "Процессы рассеяния света нано- и микроскопическими объектами в полупроводниках и диэлектриках".- Рукопись. Диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук по специальности 01.04.05 - оптика, лазерная физика. - Институт физики НАН Украины, Киев, 2005.
В диссертации исследованы общие закономерности процессов рассеяния объемных и поверхностных волн нано- и микроскопическими структурами и дефектами на поверхности и в объеме полупроводников и диэлектриков и получена на основе таких закономерностей информация об объектах, которые рассеивают излучение.
В диссертации показано, что рассеяние поверхностных волн наночастицами характеризуется пространственным распределением интенсивности рассеянного света, которое существенно зависит от функции распределения наночастиц по размерам, изменяясь от мощного максимума в направлении, попутном к направлению распространения поверхностных волн в случае наночастиц Ga, до двух максимумов в попутном и встречном направлениях в случае наночастиц Sn такого же среднего размера.
По данным рассеяния для наночастиц Ga определено поперечное сечение рассеяния как для объемных так для и поверхностных волн.
Разработан метод сравнения результатов рассеяния поверхностных и объемных волн, который заключается в коррекции интенсивности рассеяния согласно фактору косинуса полярного угла рассеяния и линеаризации пространственной зависимости интенсивности рассеяния при пересчете полученных данных к системе координат пространственных частот или волновых векторов. Разработанный метод применен для таких объектов, как металлические наночастицы и одномерные дефекты поверхности.
В диссертации теоретически установлено, что при рассеянии света наномембранами происходит когерентная интерференция распределенных по толщине пленки источников рассеяния. Результаты вычислений согласно этой теоретической модели достаточно хорошо совпадают с соответствующими экспериментальными данными.
Экспериментально продемонстрирована субатомная чувствительность рассеяния света к рельефу поверхности, к размерам поверхностных дефектов, а также возможность реконструкции атомарной поверхностной структуры по данным рассеяния света.
Предложен метод дискриминации рассеяния света рельефом поверхности и нетопографическими дефектами на ней, который заключается в вычислении пространственного распределения отношения интенсивности рассеяния для двух разных длин волн падающего излучения и направлений рассеяния, которые соответствуют тем же компонентами Фурье декомпозиции формы поверхности. Проведен экспериментальный анализ такой дискриминации и показано, что нетопографическое рассеяния вносит существенный вклад в процессы рассеяния света поверхностью Si и GaAs пластин.
Разработаны экспериментальные методики последовательного и параллельного измерения в пределах полусферы пространственного распределения рассеянного света, которые позволили изучать двумерную структуру исследуемых объектов.
Показано, что анализ пространственного распределения света, рассеянного разными модами плоского волновода, предоставляет возможность дискриминации вклада в наблюдаемое деление от внешнего и внутреннего интерфейсов волновода. Рассеяние света модами низкого порядка преимущественно порождается рассеянием на внешнем интерфейсе волновода, между тем как мода высшего порядка порождается рассеянием на внутреннем интерфейсе.
Предложен высокочувствительный метод контроля загрязнений поверхности путем измерения временной интенсивности волноводного рассеяния.
Показано, что угловая зависимость интегральной интенсивности рассеяния поверхностных волн является индикатором плазмон-поляритонного резонанса в значительно более широком интервале изменения оптических параметров прилегающей среды по сравнению с традиционно используемым минимумом коэффициента зеркального отражения.
Разработана модель механизма фоточувствительности голографической записи информации на пленках GeOx, которая заключается в локализации неравновесных носителей на уровнях, связанных с ненасыщенными валентными связями германия.
Предложен новый метод контроля процесса формирования голографического рельефа поверхности, который заключается в одновременной модуляции интенсивности и направления распространения одного из световых пучков, что принимает участие в формировании интерференционной картины.
Ключевые слова: Si, GaAs, упругое рассеяние света; рассеяние поверхностных волн; поверхностная структура; наночастицы; наноструктура; фототравление.
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Дослідження кристалів ніобіту літію з різною концентрацією магнію. Використання при цьому методи спонтанного параметричного розсіяння і чотирьох хвильове зміщення. Розробка методики чотирьох хвильового зміщення на когерентне порушуваних поляритонах.
курсовая работа [456,8 K], добавлен 18.10.2009Електромагнітна хвиля як змінне електромагнітне поле, що розповсюджується в просторі. Властивості електромагнітних хвиль. Опис закономірностей поляризації світла, види поляризованого світла. Закон Малюса. Опис явища подвійного променезаломлення.
реферат [277,9 K], добавлен 18.10.2009Загальне поняття інтерференції хвиль. Інтерференція монохроматичних світлових хвиль. Екстремальні значення результуючої інтенсивності. Форми інтерференційних смуг. Способи розподілу пучків світла. Просторова і тимчасова когерентність оптичних джерел.
контрольная работа [412,4 K], добавлен 08.12.2010Характеристика світла як потоку фотонів. Основні положення фотонної теорія світла. Визначення енергії та імпульсу фотона. Досліди С.І. Вавилова, вимірювання тиску світла. Досліди П.М. Лебєдева. Ефект Компотна. Корпускулярно-хвильовий дуалізм світла.
лекция [201,6 K], добавлен 23.11.2010Природа та одержання рентгенівського випромінювання. Гальмівне та характеристичне рентгенівське випромінювання, його спектри. Рентгенівські спектри атомів. Поглинання та розсіяння рентгенівського випромінювання, застосування в медицині, хімії, біології.
реферат [623,6 K], добавлен 15.11.2010Існування електромагнітних хвиль. Змінне електромагнітне поле, яке поширюється в просторі з кінцевою швидкістю. Наслідки теорії Максвелла. Хвильові рівняння електромагнітних хвиль та рівняння Максвелла. Енергія електромагнітних хвиль, вектор Пойнтінга.
реферат [229,2 K], добавлен 06.04.2009Теорія поглинання світла молекулами. Апаратура для вимірювання поглинання у видимому та ультрафіолетовому світлі. Методика спектрофотометричних вимірювань. Фактори, що впливають на абсорбціонні властивості хромофора. Поглинання поляризованого світла.
курсовая работа [4,4 M], добавлен 31.10.2014Природа світла і закони його розповсюдження. Напрямок коливань векторів Е і Н у вільній електромагнітній хвилі. Світлові хвилі, поляризація світла. Поширення світла в ізотропному середовищі. Особливості відображення і заломлення на межі двох середовищ.
реферат [263,9 K], добавлен 04.12.2010Поширення світла в ізотопних середовищах. Особливості ефекту відбивання світла. Аналіз сутності ефекту Доплера - зміни частоти і довжини хвиль, які реєструються приймачем і викликані рухом їх джерела і рухом приймача. Ефект Доплера в акустиці та оптиці.
реферат [423,0 K], добавлен 07.12.2010Вивчення сутності дифракції світла - будь-якого відхилення світлових променів від прямих ліній, що виникають у результаті обмеження чи перекручування хвильового фронту. Обчислення розподілу інтенсивності світла в області дифракції. Дифракція Фраунгофера.
реферат [577,0 K], добавлен 04.12.2010Фізична сутність явища інтерференції світла. Перевірка якості обробки поверхонь. Поняття дифракційної решітки. Поляризація світла. Поляроїд як оптичний прилад у вигляді прозорої плівки. Основна перевага поляроїдів перед поляризаційними призмами.
презентация [346,8 K], добавлен 28.04.2014Оптика – вчення про природу світла, світлових явищах і взаємодії світла з речовиною. Роль оптики в розвитку сучасної фізики. Предмет і його віддзеркалення. Явища, пов'язані з віддзеркаленням та із заломленням світла: міраж, веселка, північне сяйво.
курсовая работа [32,1 K], добавлен 05.04.2008Природне та поляризоване світло, їх схожі та відмінні риси, особливості випромінювання. Різновиди поляризованого світла, їх отримання за допомогою поляризаторів та вивчення за допомогою аналізаторів. Особливості поляризації світла при відбиванні.
реферат [699,1 K], добавлен 06.04.2009Визначення світлового потоку джерела світла, що представляє собою кулю, що світиться рівномірно. Розрахунок зональних світлових потоків для кожної десятиградусної зони за допомогою таблиці зональних тілесних кутів. Типи кривих розподілу сили світла.
контрольная работа [39,3 K], добавлен 10.03.2014Взаємодія електромагнітних хвиль з речовиною. Особливості поширення електромагнітних хвиль радіочастотного діапазону в живих тканинах. Характеристики полів, що створюються тілом людини. Електронні переходи в збудженій молекулі. Фоторецепторні клітини.
реферат [238,5 K], добавлен 12.02.2011Огляд і аналіз основних німецькомовних джерел на тему комбінаційного і мандельштам-бріллюенівського розсіювання світла. Комбінаційне розсіювання світла, приклади спектрів. Хвильові вектори фотонів всередині кристалу та зміна енергії оптичних квантів.
реферат [95,4 K], добавлен 30.03.2009Поверхневий натяг рідини та його коефіцієнт. Дослідження впливу на поверхневий натяг води розчинення в ній деяких речовин. В чому полягає явище змочування та незмочування, капілярні явища. Як залежить коефіцієнт поверхневого натягу від домішок.
лабораторная работа [261,2 K], добавлен 20.09.2008Теоретичні та фізичні аспекти проблеми визначення швидкості світла. Основні методи, що застосовуються для її визначення. Історія перших вимірювань. Науковці, які проводили досліди. Фізична основа виникнення та розповсюдження світлу, його хвильова природа.
презентация [359,4 K], добавлен 26.10.2013Явища інтерференції і дифракції світла. Метод зон Френеля. Дифракція Фраунгофера на круглому отворі, на щілині. Дифракційна решітка. Кутова дисперсія і роздільна здатність дифракційної решітки. Дифракція рентгенівських променів на просторовій решітці.
реферат [607,1 K], добавлен 06.04.2009Історія дослідження властивостей бурштину грецьким філософом Фалесом з Мілету. Розгляд отримання електричного світла Гемфрі Дейві, винайдення дугової лампи. Опис роботи над винаходом лампи розжарювання, денного світла та сучасних світлодіодних ламп.
презентация [744,0 K], добавлен 21.10.2014
