Лазерный метод структурирования поверхности
Разработка метода лазерного структурирования монокристаллического кремния, основанного на самоорганизации поверхности и возникновении спонтанно упорядоченных структур. Формирование в расплаве кремния волнообразных, концентрических, пирамидальных структур.
Рубрика | Физика и энергетика |
Вид | статья |
Язык | русский |
Дата добавления | 30.01.2018 |
Размер файла | 171,3 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Размещено на http://www.allbest.ru/
Оренбургский государственный университет
Лазерный метод структурирования поверхности монокристаллического кремния
Ашиккалиева К.Х., Каныгина О.Н.
Монокристаллический кремний (МК) - наиболее востребованный материал современной микроэлектроники. В настоящее время растет интерес к лазерному структурированию поверхности МК, основанному на самоорганизации поверхности и возникновении спонтанно упорядоченных структур [1,2]. Лазерная обработка, благодаря ее простоте и универсальности, позволяет проводить структурирование поверхности с низкой стоимостью, высокой производительностью и повторяемостью результатов [1,3,4]. Лазерный метод структурирования поверхности кремния может выступать альтернативой проекционным методам литографии, которые базируются на использовании масок и являются трудоемкими и дорогостоящими.
Изучение лазерного структурирования МК проводится в широком диапазоне длин волн (от ультрафиолетовой до инфракрасной области), при большом разбросе длительностей импульсов (от милли- до фемтосекунд), различных временах экспозиции и углах падения лазерного пучка [1,5-7]. Очевидно, что степень модификации поверхности будет зависеть от конкретных экспериментальных условий. В связи с этим, актуальным является выявление наиболее оптимальных и экономичных режимов облучения МК для возможности создания заданных модификаций поверхности.
Цель настоящей работы - разработать метод лазерного структурирования монокристаллического кремния, основанного на самоорганизации поверхности и возникновении спонтанно упорядоченных структур.
Монокристаллический полупроводниковый кремний (МК) ориентации (111) облучали импульсным излучением IAG:Nd+3 лазера. Количество импульсов варьировали от 1000 до 6500. Облучение проводили на воздухе при нормальных условиях. После облучения образцы исследовали методами оптической микроскопии.
По результатам оптической микроскопии, лазерная обработка в 1000 импульсов вызвала проплавление поверхности МК. Область вокруг зоны облучения (ЗО) содержит большое число дислокаций. Внутри ЗО наблюдаются оплавленные области, участки кремния с большим числом дислокаций, окисные пленки, двойники и малоугловые границы (рис.1). Образование зон оплавленного кремния может быть объяснено тем, что под воздействием лазерного излучения происходит активная генерация дефектов. В местах большого скопления дефектов температура плавления кремния снижается и происходит локальное плавление кремния [5].
Обнаружено, что в оплавленных зонах образовались волнообразные структуры, формирование которых связано с деформированием расплава кремния в вязко-текучей фазе и последующей кристаллизацией по окончании лазерного воздействия [4,5].
Размещено на http://www.allbest.ru/
Размещено на http://www.allbest.ru/
Рис.1. а) Общий вид зоны облучения при 1000 импульсов; б) Волнообразные структуры в расплаве кремния.
При 3000 импульсов в зонах оплавления помимо волнообразных структур обнаружены концентрические волны (рис.2 (а)). Наличие данных структур может быть обусловлено тем, что под действием многоимпульсного лазерного облучения увеличивается кинетическая энергия атомов, атомных кластеров, ионов кремния, что становится причиной их абляции. Вылетающие капли расплава, конденсируясь, образуют концентрические структуры на поверхности [1,4,5]. При 3000 импульсах облучения увеличивается плотность дислокационных скоплений вокруг зон облучения и внутри них, малоугловые границы, двойники становятся более протяженными и явно выраженными (рис 2 (б)).
Размещено на http://www.allbest.ru/
Размещено на http://www.allbest.ru/
Рис.2 а) Концентрические структуры в расплаве кремния. б) Модифицированная поверхность кремния при 3000 импульсах.
Новым структурным аспектом, выявленным при режимах 5500 - 6500 импульсов, было наличие в зонах оплавленного кремния периодических пирамидальных структур. Данные структуры представляют собой трехгранные пирамидальные островки (ПС), которые могут находиться как в обособленном состоянии, так и в совокупности. Средний размер отдельных ПС достигает 20±4мкм, тогда как средний период пирамидальных структур в совокупности составляет около 7 мкм.
Так, при 5500 - 6000 импульсов в расплаве кремния обнаружены как обособленные пирамиды, так и «колонии» пирамидальных структур. Однако площадь таких скоплений невелика и ПС имеют большой разброс по размерам и форме. С увеличением числа импульсов до 6500 увеличивается площадь пирамидальных скоплений и их пространственное распределение, ПС более однородны по размерам и форме. Пирамидальные островки практически полностью заполняют поверхность зоны облучения.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Размещено на http://www.allbest.ru/
Рис.3 Пирамидальные структуры при 5500-6500 импульсах облучения.
Можно сказать, что первоначально под действием импульсного лазерного излучения в расплаве кремния формируются обособленные пирамидальные структуры. С увеличением числа импульсов ПС уменьшаются в размерах и образуют скопления, причем площадь, занимаемая скоплениями пирамид, увеличивается с ростом числа импульсов. Пирамидальные скопления при всех режимах облучения имеют приблизительно одинаковую плотность.
Пирамидальные структуры являются следствием спонтанного периодического упорядочения поверхности расплава кремния под действием лазерного излучения. Причиной такого упорядочения может служить стремление системы к снижению поверхностной энергии, что достигается трансформацией поверхности кремния в структуру пирамид, несмотря на увеличение удельной площади поверхности [2].
С практической точки зрения из всех обнаруженных ППС наибольший интерес представляют пирамидальные структуры. В частности, пирамидальные структуры могут быть использованы при создании солнечных элементов [6]. В этом случае лазерное структурирование кремния, основанное на самоорганизации поверхности и возникновении спонтанно упорядоченных структур, может стать альтернативой химическим способам текстурирования кремниевых пластин. С другой стороны, лазерное структурирование увеличивает удельную поверхность МК, что позволит разместить большее количество элементов микросхемы на поверхности такой подложки.
Заключение
Таким образом, показана возможность формирования спонтанно упорядоченных структур на поверхности МК под действием лазерного излучения. Выявлено, что в интервале от 1000 до 3000 импульсов происходит проплавление поверхности МК, тогда как при режимах 5500 - 6500 обнаружены периодические пирамидальные структуры. Наиболее оптимальным режимом для лазерного структурирования поверхности МК является режим в 6500 импульсов, поскольку при данном режиме обработки формирующиеся пирамидальные островки практически полностью заполняют поверхность зоны облучения и более однородны по размерам и форме. В связи с этим, данный метод, отличающийся простотой обработки и низкой стоимостью, при подборе конкретных условий может быть использован для структурирования кремниевых подложек в микроэлектронике.
Авторы выражают благодарность сотрудникам ЦЛИБФ и ЦКП ИМНТ ОГУ, на базе которых проводились научные исследования.
лазерный кремний расплав структурирование
Список литературы
1) Фам Куанг Тунг. Метод формирования регулярной матрицы нанокластеров кремния в системе кремний-диоксид кремния для элементов и устройств вычислительной техники: автореф. дис. канд. тех. наук. - С-Пб, 2009. - 22с.
2) Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии/ А.И. Гусев. - Москва: ФИЗМАТЛИТ,2007. - 416с.
3) Либенсон М.Н. Взаимодействие лазерного излучения с веществом (силовая оптика). Поглощение лазерного излучения в веществе/ М.Н. Либенсон. - СПб: СПб ГУ ИТМО, 2008. - 141 с.
4) Вейко В.П., Петров А.А. Опорный конспект лекций по курсу «Лазерные технологии». Введение в лазерные технологии/ В.П. Вейко, А.А. Петров. - СПб: СПбГУ ИТМО, 2009. - 143 с.
5) Банишев А.Ф. Лазерно-стимулированные микроструктурные процессы в конденсированных средах: автореф. дис. д-ра физ.- мат. наук. - Москва, 2004. - 34с.
6) Хайдуков Е.В. Лазерное текстурирование кремния для создания солнечных элементов/ Е.В. Хайдуков// Известия высших учебных заведений. Приборостроение. Т. 54. - 2011. - № 2. - С. 26 -32.
7) Марциновский Г.А. Возбуждение поверхностных электромагнитных волн в полупроводниках при фемтосекундном лазерном воздействии/Г.А. Марциновский // Физика и техника полупроводников. Т.43. - 2009. - №10. - С.1339 - 1345.
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Исследование особенностей технологических путей создания микрорельефа на фронтальной поверхности солнечных элементов на основе монокристаллического кремния. Основные фотоэлектрические параметры полученных структур, их анализ и направления изучения.
статья [114,6 K], добавлен 22.06.2015Дифракция быстрых электронов на отражение как метод анализа структуры поверхности пленок в процессе молекулярно-лучевой эпитаксии. Анализ температурной зависимости толщины пленки кремния и германия на слабо разориентированой поверхности кремния.
курсовая работа [1,0 M], добавлен 07.06.2011Значение и использование монокристаллического кремния при производстве солнечных элементов повышенной эффективности. Природа и механизм возникновения дефектов для пар железо-бор в составе элементов при различных условиях эксплуатации и освещения.
реферат [104,0 K], добавлен 23.10.2012Возможность формирования различных структур в стандартных пластинах монокристаллического кремния с использованием дефектов, создаваемых имплантацией водорода или гелия. Поперечная проводимость сформированных структур. Системы нанотрубок в кремнии.
реферат [6,4 M], добавлен 25.06.2010Получение поликристаллического кремния. Методы получения газовых соединений Si, поликристаллических кремния из моносилана SiH4. Восстановление очищенного трихлорсилана. Установка для выращивания монокристаллического кремния. Мировой рынок поликремния.
дипломная работа [2,3 M], добавлен 14.12.2011Особенности частичного насыщения поверхностных атомов кремния метильными группами и методов моделирования кластера минимального размера. Иммобилизация метильных групп на поверхность димеризованного гидрогенизированного кластера в различных соотношениях.
доклад [1,1 M], добавлен 26.01.2011Изучение свойств карбида кремния. Понятие омического контакта. Разработка и оптимизация технологии воспроизводимого получения омических контактов к карбиду кремния n- и р-типа проводимости на основе выявления факторов, влияющих на его формирование.
курсовая работа [165,7 K], добавлен 10.05.2014Создание технических средств метрологического обеспечения контроля качества полупроводниковых материалов. Анализ установки по измерению удельного электрического сопротивления четырехзондовым методом. Измерение сопротивления кремния монокристаллического.
дипломная работа [1,2 M], добавлен 24.07.2012Ge/Si гетероструктуры с квантовыми точками, рост и особенности упорядочения и эффекты самоорганизации. Влияние температуры роста и качества поверхности на формирование квантовых наногетероструктур Ge/Si. Методика и значение дифракции быстрых электронов.
курсовая работа [993,4 K], добавлен 28.08.2015Расчет энергии иона. Количественная интерпретация данных о рассеянии быстрых ионов. Метод спектроскопии обратно рассеянных ионов низких энергий. Форма энергетических спектров двухкомпонентных материалов. Спектр кремния с анатомами на поверхности.
контрольная работа [86,3 K], добавлен 14.11.2011Механизм анодного окисления кремния. Влияние толщины пленки, сформированной методом ионной имплантации и водородного переноса, на ее электрофизические свойства. Электрофизические свойства структур "кремний на изоляторе" в условиях анодного окисления.
дипломная работа [327,8 K], добавлен 29.09.2013Стадии процесса трансформации поглощенной энергии короткого лазерного импульса. Поверхностные и объемные эффекты: отжиг полупроводников; индуцированная аморфизация поверхности; разрушение тел идеально чистых и с локальными макроскопическими примесями.
реферат [1,8 M], добавлен 23.08.2012Сущность технологических приемов химического травления и контроля качества поверхности пластин кремния. Особенности термического вакуумного напыления алюминия на полупроводниковую подложку. Фотолитография в производстве полупроводниковых приборов.
методичка [588,6 K], добавлен 13.06.2013Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Схемы сканирующих туннельных микроскопов. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.
дипломная работа [2,8 M], добавлен 16.08.2014Получение и люминесцентные свойства легированного эрбием монокристаллического кремния. Влияние дефектов и примесей на интенсивность сигнала фотолюминесценции ионно-имплантированных слоев. Безизлучательная передача возбуждений между оптическими центрами.
дипломная работа [1,2 M], добавлен 06.01.2016Расчёт компоновки загрузки из полупроводникового и металлургического кремния для выращивания мультикремния. Количественный химический анализ слитков мультикремния. Анализ профилей распределения примесей в слитках в приближении перемешивания расплава.
дипломная работа [1,1 M], добавлен 08.06.2017Энергетическая зонная структура и абсолютный минимум зоны проводимости у кремния. Измерение спектра собственного поглощения образца кремния с помощью электронно-вычислительного комплекса СДЛ-2. Оценка ширины запрещенной зоны исследуемого полупроводника.
курсовая работа [376,2 K], добавлен 08.06.2011Технологическая реализация проекта "Интерактивный лазерный тир". Использование учебно-методического стрелкового тренажерного комплекса. Режимы осуществления имитационной стрельбы. Структурная схема кабельных соединений мультимедийного лазерного тира.
контрольная работа [1,7 M], добавлен 08.10.2015Назначение, состав и работа лазерного однокомпонентного измерителя вибрации. Пространственное моделирование рассеянного когерентного излучения на сферических микрочастицах. Расчет прохождения неполяризованного лазерного пучка по методу Мюллера и Джонса.
курсовая работа [2,7 M], добавлен 25.04.2012Определение мощности лазерного излучения, подаваемого на образец. Вычисление размеров лазерного пучка на образце. Разработка системы измерения мощности излучения и длительности лазерного импульса, системы измерения температуры в зависимости от времени.
лабораторная работа [503,2 K], добавлен 11.07.2015