Метод минимального покрытия и другие методы фрактального анализа изрезанности рельефа поверхностей

Сопоставление различных методов оценки фрактальной размерности. Основные свойства индекса фрактальности и факторы, влияющие на его значение. Способ осуществление фрактального анализа поверхности с помощью индекса фрактальности; иллюстративные примеры.

Рубрика Физика и энергетика
Вид статья
Язык русский
Дата добавления 26.04.2019
Размер файла 71,7 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru//

Размещено на http://www.allbest.ru//

Метод минимального покрытия и другие методы фрактального анализа изрезанности рельефа поверхностей

В. Ю. Митин

Приведены и сопоставлены различные методы оценки фрактальной размерности, подробно описан метод минимального покрытия. Сформулированы и доказаны основные свойства индекса фрактальности и факторы, влияющие на его значение. Приведены иллюстративные примеры. Показано, каким образом можно осуществлять фрактальный анализ поверхности с помощью индекса фрактальности.

Ключевые слова: фракталы; метод минимального покрытия; индекс фрактальности; фрактальная размерность; показатель Хёрста.

фрактальный рельеф поверхность

Фрактальные множества ифрактальная размерность © Митин В. Ю., 2013

Фракталом [1] называется множество, для которого размерность Хаусдорфа-Безиковича строго больше топологической размерности.

Фрактальные объекты можно разделить на математические (модельные) и природные. Примерами математических фрактальных множеств являются множества Кантора, снежинка Коха, салфетка и ковёр Серпинского, алгебраические множества Жюлиа и Мандельброта и др.

История изучения природных фракталов началась с исследования длины береговой линии.

При измерении длины в различных масштабах её значение неограниченно увеличивалось, поскольку учитывались всё более мелкие подробности береговой линии.

В монографии [2] показано, что фрактальные свойства проявляют большинство природных объектов, описание которых должно включать изучение структуры на различных масштабах.

Фрактальная размерность множества является мерой изрезанности фрактального множества, это утверждение получает наглядное подтверждение, например, при построении множеств Кантора с различными параметрами [3].

В последнее время широкую распространённость обрело исследование последовательностей данных различной природы (рядов) фрактальными методами в физике, медицине, экономике, географии, биологии, теории информации и других областях науки.

При изучении динамики уровня воды в водоёмах Хёрстом был обнаружен эмпирический закон: зависимость между нормированным размахом и длиной ряда в двойных логарифмических координатах близка к линейной. Угловой коэффициент H линии регрессии для этой зависимости называется показателем Хёрста [4]. С его помощью обычно устанавливают такие статистические свойства временного ряда, как трендоустойчивость и детерминированность, отражающие эффекты долговременной памяти.

Показатель Хёрста часто используется также для оценки фрактальной размерности временных рядов, при этом используется формула, для одномерных рядов имеющая вид . (1)

Показатель Хёрста обычно используется для временных рядов, но в ряде публикаций (например, [5]) он применяется при оценке фрактальной размерности поверхности.

Методы оценки фрактальной размерности экспериментальных поверхностей

Вычислительные эксперименты с различными случайными рядами показывают, что показатель Хёрста как параметр для оценки фрактальной размерности обладает рядом недостатков, одним из которых является зависимость от направления. Для временных рядов направление задаётся однозначно - от прошлого к будущему. Одномерные пространственные ряды имеют два направления, причём ни одному из них нельзя отдать предпочтения. Данная проблема особенно ярко проявляется для случайных рядов, имеющих различное фрактальное поведение на начальном и конечном участках.

Фрактальная размерность, в отличие от долговременной памяти, является локальной характеристикой ряда, т.е. не учитывает поведение ряда с самой первой точки.

Таким образом, для оценки фрактальной размерности пространственных рядов предпочтительнее использовать методы, сущность которых близка к классическому определению фрактальной размерности Хаусдорфа ([6]):

, (2)

где - минимальное количество шаров радиуса , покрывающих целиком данное фрактальное множество.

Более того, использование формулы (1) эффективно лишь в том случае, когда исследуемое фрактальное множество обладает достаточной степенью самоаффинности [1], что для реальных рядов встречается весьма редко.

Если в определении (2) для одномерных рядов или линий на плоскости заменить шары квадратами, получится определение клеточной размерности, часто используемое для оценки фрактальной размерности. В работе [7] показано, что более быстрой степенью сходимости обладает метод минимального покрытия, в котором определяется фрактальный параметр м, называемый "индексом фрактальности", являющийся обобщением индекса вариации и связанный с фрактальной размерностью соотношением

. (3)

Из соотношения (3) следует, что возможные значения индекса фрактальности заключены в отрезке [0, 1]. В методе минимального покрытия вместо симплексов правильной формы (квадратов) используются минимальные покрытия в классе прямоугольников, основание которых имеет постоянную длину д.

Индекс фрактальности

Процедура вычисления индекса фрактальности состоит в следующем. Вводится клеточное разбиение отрезка , далее строится минимальное покрытие функции в классе покрытий, состоящих из прямоугольников с основанием , совпадающим с отрезком . Высота прямоугольника на этом отрезке равна величине (разности между максимальным и минимальным значением функции на этом отрезке). Вводится величина

, (4)

называемая амплитудной вариацией функции f на отрезке [a, b], соответствующей масштабу разбиения .

Далее необходимо выбрать аппроксимационную последовательность величин и построить график зависимости амплитудной вариации (4) от масштаба разбиения

(5)

в двойных логарифмических координатах.

Индекс фрактальности равен угловому коэффициенту линии регрессии, построенной по методу наименьших квадратов для зависимости (5) в двойных логарифмических координатах.

Обобщение метода минимального покрытия на двухмерный случай строится следующим образом. Пусть дана некоторая функция .

Обозначим

-размах функции на прямоугольном участке , принадлежащем полному прямоугольнику . Тогда амплитудная вариация функции , соответствующей масштабу разбиения на участке , определяется следующим образом: . Пусть существует асимптотическое равенство , тогда индекс фрактальности определяется как угловой коэффициент линии регрессии экспериментального ряда .

В данном алгоритме рассматривается минимальное покрытие из класса правильных четырехугольных призм суммарного объема . Исходя из соотношения , имеем ,

Таким образом, справедливо соотношение (3).

Свойства индекса фрактальности

Индекс фрактальности для бесконечных рядов обладает следующими основными свойствами.

1. Масштабная инвариантность, т.е. инвариантность относительно растяжений (сжатий) и сдвигов вдоль обеих осей.

Доказательство. Пусть индекс фрактальности функции f равен , т.е.

.

Тогда при любом >0:

А) ;

Б) ;

В)

Инвариантность относительно сдвигов вдоль оси абсцисс очевидна, так как значения абсцисс не используются при вычислении индекса фрактальности.

2. Индекс фрактальности отрезка прямой равен нулю.

Доказательство. Пусть f - отрезок прямой. Тогда

Пусть . Пусть далее существуют и . Тогда, если все достаточно малые разбиения содержат точку b, то , где

.

Доказательство. Если все достаточно малые разбиения содержат точку b, то

.

4. Если существуют и , причем , то .

Доказательство. Пусть

, .

Тогда

.

Отсюда следует, что

Факторы, влияющие на значение индекса фрактальности случайного ряда

Для конечных рядов многие свойства индекса фрактальности принимают относительный характер. На индекс фрактальности могут влиять следующие факторы.

1. Выбор последовательности аппроксимаций. Целесообразно рассматривать только покрытия прямоугольниками, у которых основание намного меньше длины ряда.

2. Длина ряда. Чем больше длина ряда, тем точнее оценка фрактальной размерности.

3. Конкретная выборка из генеральной совокупности заданного распределения. Индекс фрактальности случайных рядов, получаемых на основе некоторых статистических распределений (например, Коши, Парето, Лапласа) принимает значимо различающиеся значения для разных выборок.

4. Параметры, описывающие закон распределения. Например, для функции Вейерштрасса-Мандельброта W(b,D) индекс фрактальности зависит от размерностного параметра D.

5. Количество точек, по которым строится аппроксимация по методу наименьших квадратов. Если точек брать мало, погрешность аппроксимации будет высока. С другой стороны, если взять много точек, то в рассмотрение войдут крупные разбиения, которые дают искаженную информацию о фрактальном поведении функции.

Рассмотрим ряд иллюстративных примеров.

Пример 1. Определим индекс фрактальности функции y=sin(x/p) при длине ряда n=2520p+1 для различных значений параметра p. Результаты вычислений индекса фрактальности приведены в табл. 1.

Таблица 1

p

м(sin(x/p)), n=2520p+1

1

0,707

2

0,279

3

0,130

4

0,074

5

0,044

6

0,033

7

0,024

8

0,019

9

0,015

10

0,019

Данный пример показывает относительный характер понятия гладкости функций для конечных рядов.

Общее число полных волн синусоиды на выбранном отрезке составляет [2520/2р]?400. Если p=1, то на один полный период приходится 6 или 7 точек ряда (т.е. через каждые 3-4 точки возрастание сменяется убыванием и наоборот). Индекс фрактальности при этом близок к индексу фрактальности равномерного шума. C ростом p количество точек, приходящихся на одну волну синусоиды, увеличивается, индекс фрактальности постепенно уменьшается. При p>5 функция является практически гладкой (см. график).

График зависимости индекса фрактальности от длины ряда для синусоиды

Из данного примера следует также, что на основе индекса фрактальности нельзя однозначно судить о типе распределения, поскольку значения для случайных функций с различными распределениями могут оказаться достаточно близкими.

Пример 2. Вычислим значения индекса фрактальности функции Вейерштрасса-Мандельброта (длина ряда 75601) при различных значениях параметра D, принадлежащих диапазону [1, 2], полагая, что b=D (табл.2).

Таблица 2

D=b

D=b

1,1

0,0000

1,6

0,3876

1,2

0,0003

1,7

0,4501

1,3

0,0782

1,8

0,5193

1,4

0,2622

1,9

0,5346

1,5

0,3313

2

0,6268

Результаты вычислений показывают существенную зависимость индекса фрактальности функции Вейерштрасса-Мандельброта от параметра D.

Пример 3. При суммировании полезного сигнала A () и случайного шума R () с различными отношениями амплитуд были получены следующие результаты (табл. 3).

Таблица 3

Функция

A+R/256

0,2302

A+R/16

0,2341

A+R/4

0,2571

A+R/2

0,3063

A+R

0,3932

A+2R

0,4790

A+4R

0,5322

A+16R

0,5710

A+256R

0,5772

Результаты данного эксперимента показывают, что при суммировании двух случайных функций индекс фрактальности зависит от соотношения их амплитуд. Шумы малой амплитуды не оказывают существенного влияния на индекс фрактальности полезного сигнала.

Пример 4. Рассмотрим функции F(t) и G(t) с индексами фрактальности соответственно равными 0,6977 и 0,515, количество точек данных N=2521. Зададим отображение , где y[1,2520], а случайная функция H(t) имеет вид

В табл. 4 содержатся значения индекса фрактальности в зависимости от y.

Таблица 4

y

(y)

2

0,6917

102

0,6764

202

0,6688

302

0,6584

402

0,6490

502

0,6403

602

0,6294

702

0,6153

802

0,6121

902

0,6097

1002

0,5968

1102

0,5862

1202

0,5789

1302

0,5778

1402

0,5732

1502

0,5628

1602

0,5558

1702

0,5498

1802

0,5468

1902

0,5414

2002

0,5394

Результаты эксперимента показывают, что если функция обладает различным фрактальным поведением на отдельных участках, то её индекс фрактальности зависит от соотношения длин этих участков.

Методика оценки фрактальной размерности поверхности на основе индекса фрактальности

Пусть имеется двумерный массив значений h(x,y) высоты точек некоторой поверхности. Можно вычислять значения индекса фрактальности отдельно для строк, столбцов и диагоналей массива, вычислять статистические показатели по полученным множествам индексов фрактальности (среднее, максимум, минимум, размах, дисперсия и т.д.).

Если число строк (столбцов) в массиве невысоко, можно объединять несколько строк (столбцов) в один большой ряд, однако при этом возникает погрешность при переходе на новую строку (столбец). Аналогичным образом можно поступать с диагоналями.

При небольшом количестве точек не рекомендуется добавлять новые точки искусственно, например посредством интерполяции, т.к. при этом может измениться фрактальная картина случайного ряда.

Для исследования эффектов анизотропии фрактальной размерности можно, наряду с основными, рассматривать промежуточные направления.

Двумерный аналог индекса фрактальности будет принимать значение из диапазона [1,2] и связываться с фрактальной размерностью тем же соотношением (3). Это позволяет получать оценки фрактальной размерности для поверхности в целом.

Применение предложенной методики

С помощью метода минимального покрытия и его двумерного обобщения на основе вышеописанной методики в статье [8] проведен фрактальный анализ поверхностей кристаллов соляных пород Верхнекамского месторождения калийных и калийно-магниевых солей в нанодиапазоне. Сопоставлено фрактальное поведение качественно различных областей соляных пород, описаны эффекты анизотропии фрактальной размерности для некоторых соляных пород и установлены их причины.

Список литературы

Федер Е. Фракталы. М.: Мир, 1991.

Мандельброт Б. Фрактальная геометрия природы. М.: Ин-т компьютерных исслед. 2002.

Божокин С.В., Паршин Д.А. Фракталы и мультифракталы. Ижевск: НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика". 2001.

Аптуков В.Н., Митин В.Ю., Скачков А.П. Исследование микрорельефа поверхности сильвина с помощью метода Хёрста // Вестник Пермского университета: Математика. Механика. Информатика. 2010. Вып. 4. С. 30-33.

Потапов А.А., Булавкин В.В., Герман В.И. и др. Исследование микрорельефа обработанных поверхностей с помощью методов фрактальных сигнатур // Журнал технической физики. 2005. Т.75, вып. 5.

Hausdorff F. Dimension und Ausseres Mass // Matematishe Annalen. 1919. № 79. P. 157-179.

Дубовиков М.М., Крянев А.В., Старченко Н.В. Размерность минимального покрытия и локальный анализ фрактальных временных рядов // Вестник РУДН. 2004. Т. 3, № 1.

Аптуков В.Н., Митин В.Ю. Сравнительные характеристики изрезанности рельефа поверхности зёрен сильвина, шпатовой соли и карналлита в нанодиапазоне // Физико-технические проблемы разработки полезных ископаемых. 2013. №1.

Размещено на Allbest.ru

...

Подобные документы

  • Теоретические основы фрактального броуновского движения, вопросы его статистического моделирования на компьютере. Применение теории при статистическом моделировании процессов стохастической системы, описываемых линейным дифференциальным уравнением.

    дипломная работа [1,6 M], добавлен 14.03.2012

  • Изучение топографии инженерных поверхностей. Определение упругого состояния и деформации. Конструирование кривой Коха (von Koch). Характеристика случайной фрактальной кривой. Броуновское движение на отрезке. Анализ функций Вейерштрасса-Мандельброта.

    реферат [783,3 K], добавлен 23.12.2015

  • Эффект Шпольского. Методы количественного анализа Факторы, влияющие на точность спектрального анализа. Физические процессы, обусловленные двухквантовыми реакциями. Спектрофлуориметрическая установка для спектральных и кинетических измерений.

    курсовая работа [403,2 K], добавлен 06.04.2007

  • Дифракция быстрых электронов на отражение как метод анализа структуры поверхности пленок в процессе молекулярно-лучевой эпитаксии. Анализ температурной зависимости толщины пленки кремния и германия на слабо разориентированой поверхности кремния.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 07.06.2011

  • Анализ естественных и искусственных радиоактивных веществ. Методы анализа, основанные на взаимодействии излучения с веществами. Радиоиндикаторные методы анализа. Метод анализа, основанный на упругом рассеянии заряженных частиц, на поглощении P-частиц.

    реферат [23,4 K], добавлен 10.03.2011

  • Исследование кристаллической структуры поверхности с помощью рентгеновских и электронных пучков. Дифракция электронов низких и медленных энергий (ДЭНЭ, ДМЭ), параметры. Тепловые колебания решетки, фактор Дебая-Валлера. Реализация ДЭНЭ, применение метода.

    курсовая работа [3,2 M], добавлен 08.06.2012

  • Характеристика трех методов рентгеноструктурного анализа. Роль метода Лауэ для изучения атомной структуры кристаллов. Использование метода вращения при определении атомной структуры кристаллов. Изучение поликристаллических материалов методом порошка.

    реферат [777,4 K], добавлен 28.05.2010

  • Особенности частичного насыщения поверхностных атомов кремния метильными группами и методов моделирования кластера минимального размера. Иммобилизация метильных групп на поверхность димеризованного гидрогенизированного кластера в различных соотношениях.

    доклад [1,1 M], добавлен 26.01.2011

  • Взаимодействие зонда и исследуемой поверхности с использованием обратной связи. Методы постоянного туннельного тока и постоянной высоты для получения изображения рельефа поверхности. Принципы атомно-силовой оптической и магнитно-силовой микроскопии.

    реферат [517,5 K], добавлен 18.04.2016

  • Дифракционный структурный метод. Взаимодействие рентгеновского излучения с электронами вещества. Основные разновидности рентгеноструктурного анализа. Исследование структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей.

    презентация [668,0 K], добавлен 04.03.2014

  • Достижения современной планарной технологии и значение в них физики поверхностей. Трехслойная система как базовая структура микроэлектроники. Влияние поверхности на работу полупроводниковых приборов: оптоэлектронные приборы, сверхпроводящие пленки.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 17.05.2009

  • Характеристика спектрального метода анализа сигналов, при помощи которого можно оценить спектральный состав сигнала, а также количественно выяснить его энергетические показатели. Корреляционный анализ сигнала для оценки прохождения сигнала через эфир.

    курсовая работа [169,7 K], добавлен 17.07.2010

  • Явление ионизации и рекомбинации в газах, его физическое обоснование и значение. Самостоятельный и несамостоятельный газовый разряд, их сравнительное описание, применение и основные влияющие факторы. Понятие о плазме, ее характеристика и свойства.

    презентация [3,7 M], добавлен 13.02.2016

  • Основные свойства преобразования Лапласа. Нахождение изображений функции времени. Теорема смещения. Свойство линейности. Законы Кирхгофа и Ома в операторной форме. Операторные схемы замещения реактивных элементов при ненулевых начальных условиях.

    лекция [130,7 K], добавлен 23.03.2009

  • Место активационного анализа в аналитической химии. Регистрация ядерного излучения и частиц. Понятия и термины активационного анализа. Метод нейтронно-активационного анализа. Источники активации и нейтронов. Количественный нейтронно-активационный анализ.

    курсовая работа [735,0 K], добавлен 03.02.2016

  • Представления о нанообъектах в физике, химии. Примеры областей существования метастабильного однокомпонентного пара. Потеря монотонности и непрерывности поверхностей фазовых равновесий и спинодальных условий. Эмпирические поверхности скоростей нуклеации.

    дипломная работа [440,7 K], добавлен 23.02.2012

  • Исследование спектров поглощения электромагнитного излучения молекулами различных веществ. Основные законы светопоглощения. Изучение методов молекулярного анализа: колориметрии, фотоколориметрии и спектрофотомерии. Колориметрическое определение нитрита.

    курсовая работа [476,8 K], добавлен 01.06.2015

  • Физические свойства висмута и его полиморфных модификаций. Исследование влияния мощных пучков заряженных частиц на микроструктуры и свойства мишеней. Преимущества применения методов рентгеноструктурного фазового анализа для расчета дифракционных картин.

    курсовая работа [5,2 M], добавлен 13.08.2013

  • Понятие электронной микроскопии как совокупности методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава. Содержание телевизионного принципа развертки тонкого пучка электронов или ионов по поверхности образца.

    презентация [3,1 M], добавлен 22.08.2015

  • Изучение метода анализа линейной электрической цепи при различных воздействиях в различных режимах с применением вычислительной техники. Проведение анализа заданной линейной разветвленной электрической цепи численным, операторным, частотным методами.

    курсовая работа [1,3 M], добавлен 21.01.2012

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.