курсовая работа Золь-гель процесс - способ получения наноматериалов
Определение сущности нанотехнологии. Рассмотрение преимуществ сканирующего туннельного микроскопа – устройства, позволяющего исследовать вещество на атомном уровне. Ознакомление со стадиями золь-гель метода. Анализ процесса ионного обмена и диализа.
Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.
Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"
| Рубрика | Физика и энергетика |
| Вид | курсовая работа |
| Язык | русский |
| Дата добавления | 29.10.2017 |
| Размер файла | 78,1 K |
Подобные документы
Диэлектрические волноводы как элементы интегральной оптики. Методики их производства и способы улучшения характеристик. Влияние облучения светом на свойства пленок диоксида титана, изготовленных по золь-гель и гель технологии, их спектральный анализ.
реферат [2,4 M], добавлен 17.12.2014Понятие нанообъекта, наноматериала и нанотехнологии. Физические причины специфики наночастиц и наноматериалов. Синтез углеродных наноматериалов. Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Использование нанотехнологических зондовых машин.
реферат [823,2 K], добавлен 20.01.2012Факторы, определяющие поведение полимерных гелей, понятие их коллапса. Теоретическое рассмотрение конкурентного связывания поверхностно-активных веществ двумя полимерными сетками. Определение коэффициентов набухания гелей, влияние формы на коллапс.
курсовая работа [2,7 M], добавлен 16.04.2014Самостоятельный и несамостоятельный разряды в газах. Описание установки для измерения тока ионного тока тлеющего разряда. Модель физического процесса. Построение графиков, отображающих зависимость ионного тока тлеющего разряда от расстояния до коллектора.
курсовая работа [1,3 M], добавлен 14.09.2012Ознакомление с методами измерения показателя преломления с помощью микроскопа. Вычисление погрешности измерений для пластинок из обычного стекла и оргстекла. Угол отражения луча. Эффективность определения коэффициента преломления для твердого тела.
лабораторная работа [134,3 K], добавлен 28.03.2014Ознакомление с основными параметрами электромагнитных выключателей. Рассмотрение конструкции полюса, который состоит из токоведущего контура, смонтированного на опорных изоляторах, и дугогасительного устройства. Анализ процесса размыкания контактов.
презентация [4,5 M], добавлен 08.09.2017Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Схемы сканирующих туннельных микроскопов. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.
дипломная работа [2,8 M], добавлен 16.08.2014История микроскопа - прибора для получения увеличенного изображения объектов, не видимых невооруженным глазом. Методы световой микроскопии. Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Методы микроскопического исследования металлов.
реферат [3,3 M], добавлен 10.06.2009Сборка макета источника тока с гель-полимерным электролитом. Технология приготовления отрицательного и положительного электродов. Методика измерения максимальной пористости катода. Зависимость массовой удельной энергии источников тока от температуры.
дипломная работа [1,8 M], добавлен 22.11.2015Технология изготовления элементов интегральной оптики методом ионного обмена в стеклянных подложках. Промышленные технологии стыковки волоконных световодов и интегрально-оптических волноводов. Процесс напыления маскирующей пленки и фотолитографии.
дипломная работа [5,6 M], добавлен 09.10.2013Ознакомление с устройством и принципом работы просвечивающего электронного микроскопа; основные области его применения и современные разновидности. Рассмотрение конструкции осветительной системы прибора. Описание процедуры коррекции астигматизма.
курсовая работа [1,6 M], добавлен 09.05.2011Состав, принципы работы и назначение растрового электронного микроскопа РЭМН – 2 У4.1. Особенности восстановления рабочего вакуума в колонне растрового микроскопа. Функционирование диффузионного и форвакуумного насосов, датчиков для измерения вакуума.
дипломная работа [4,1 M], добавлен 05.11.2009Технико-экономические показатели Мурманской ТЭЦ. Изучение энергетического хозяйства предприятия. Водоподготовка на предприятиях энергетики. Глубокое обессоливание воды с применением модифицированного ионного обмена. Меры сбережения энергии на предприятии.
контрольная работа [290,4 K], добавлен 14.10.2012Нейтронные источники как устройства или вещества, излучающие нейтроны, знакомство с важнейшими характеристиками: энергетический спектр, угловое распределение интенсивности. Рассмотрение основных преимуществ полониевых источников, анализ недостатков.
курсовая работа [898,1 K], добавлен 10.10.2013Нанотехнологическая революция стартовала! Научные основы и объекты нанонауки и нанотехнологии. Примеры специфического поведения вещества на субмикронном масштабном уровне и основные причины специфики нанообъектов.
реферат [333,7 K], добавлен 09.08.2007Ознакомление с техническими требованиями на разработку схемы сигнализации. Рассмотрение структурной электрической схемы и её описание. Выбор элементов и расчёт параметров устройства тревожной сигнализации. Основы применения мигающего сигнала и звука.
курсовая работа [119,4 K], добавлен 29.10.2014Ознакомление с историей создания генераторов электромагнитного излучения. Описание электрической схемы и изучение принципов работы полупроводникового лазера. Рассмотрение способов применения лазера для воздействия на вещество и для передачи информации.
курсовая работа [708,7 K], добавлен 08.05.2014Форма частиц как важная характеристика порошков, оценка ее зависимости от метода получения. Метод трехмерной оценки частиц, его сущность и основные этапы реализации, оценка главных преимуществ и недостатков, порядок расчета необходимых показателей.
лабораторная работа [34,6 K], добавлен 17.04.2013Ознакомление с основами метода уравнений Кирхгофа и метода контурных токов линейных электрических цепей. Составление уравнения баланса электрической мощности. Определение тока любой ветви электрической цепи методом эквивалентного источника напряжения.
курсовая работа [400,7 K], добавлен 11.12.2014Понятие и устройство микроскопа, история его разработок и современные тенденции к совершенствованию, функции и задачи. Микроскопия как изучение объектов с использованием микроскопа, ее разновидности и принципы, сферы практического применения на сегодня.
презентация [8,6 M], добавлен 23.11.2012
