Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури
Удосконалення та розвиток покомпонентного методу діагностування цифрових об'єктів дослідження за рахунок розробки ефективних машинних процедур пошуку дефектів. Урахування критичних значень теплофізичних параметрів процесу наведення тестових сигналів.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Вид | автореферат |
| Язык | украинский |
| Дата добавления | 11.11.2013 |
| Размер файла | 43,5 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Автореферат
дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук
Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури
Вінниця - 1999
Загальна характеристика роботи
Актуальність теми. Вирішення актуальних задач масового випуску високоякісних персональних комп'ютерів різноманітних типів, створення та освоєння серійного випуску нових приладів та засобів автоматизації передбачає присутність відповідного потужного діагностичного забезпечення електронних виробів на всіх етапах їх життєвого циклу. Необхідність такого забезпечення пояснюється тим, що чим пізніше виявляється несправність, тим більше коштів тратиться на її усунення й тим суттєвіше її вплив на якість пристроїв, що виготовляються. Саме цим пояснюється зацікавлення, що проявляється широким колом фахівців як вітчизняних підприємств, так і закордонних фірм, до створення та впровадження автоматизованої діагностичної апаратури. Якщо до знедавна автоматизовані діагностичні установки використовувались для виявлення несправностей тільки в складних системах спеціального призначення та системах, що дорого коштують, то зараз без них не обходиться ні одне підприємство. Саме масовість використання діагностичної апаратури характерна для сучасних підприємств, що випускають засоби обчислювальної техніки.
Необхідно відзначити, що тенденції, які вже давно намітилися для вирішення задач підвищення ефективності сучасних засобів діагностування, вказують на доцільність синтезу контролепридатних об'єктів (метод LSSD, BILBO й т. і.). Ефект досягається декомпозицією об'єкту на компоненти, що і визначає такий інтегральний показник процесу контролю, як глибина діагностування цифрових пристроїв. Аналогічні питання актуальні і в системах покомпонентного діагностування, які, завдяки конструктивному доступу багатогольчатого зонду до внутрішніх вузлів цифрового пристрою, володіють більш широкими можливостями реалізації різноманітних підходів до пошуку місця дефектів, ніж відомі методи. Однак можливості подібних засобів обмежені тому, що подача тестових впливів у вузли зв'язаних між собою елементів має свої особливості і визначає ступінь декомпозиції цифрового об'єкту дослідження, а отже, й точність зазначення місця дефектів. Існуючі алгоритми й методи діагностування мають такі недоліки, як значна трудомісткість розробки програм діагностування, висока складність та вартість вимірювальних засобів, відсутність можливості виявлення несправностей функціонування вузлів пристроїв, що діагностуються, за допомогою систем структурного діагностування, недостатньо досліджені питання поєднання різних методів діагностування пристроїв. Шляхи якісного діагностування цифрових приладів слід шукати в ефективному поєднанні структурного і покомпонентного методів діагностування. Швидкість і повнота функціональних перевірок структурного підходу, доповнені можливістю досягнення максимальної глибини пошуку місця дефектів методами покомпонентного діагностування, повинні забезпечити підвищення ефективності та якості цифрових пристроїв. Таким чином, розробка більш ефективних методів й алгоритмів внутрішньосхемного діагностування лишається актуальною науковою проблемою технічної діагностики.
Розвиток означених методів має особливе значення для розвитку науки і виробництва в Україні, бо дозволяє створювати гнучкі модульні системи контролю. Крім того, такі методи й алгоритми знаходять широке застосування у інженерній практиці при аналізі доцільності використання конкретної стратегії діагностування, яка є найбільш ефективною в випадку, що розглядається. Додаткові затрати на вбудовані системи діагностики окупляться за рахунок підвищення надійності систем, що функціонують, і продовження терміну експлуатації без профілактичного огляду, що особливо актуально в зв'язку з необхідністю технологічного прогресу України в галузі інформаційного забезпечення виробництва якісних радіоелектронних виробів.
Зв'язок роботи з науковими програмами, планами, темами. Робота виконувалась згідно з тематичним планами виконання НДДКР із коштів державного бюджету Вінницького політехнічного інституту та Вінницького державного технічного університету, узгодженим Міністерством освіти України «Разработка комплекса средств комбинированного диагностирования электронной апаратуры на этапах её производства и эксплуатации» (№ держ. реєстр. 0193U027484), а також з тематичним планом проведення НДДКР у Вінницькому політехнічному інституті на госпдоговірних засадах з НПО «Персей» (м. Москва) «Исследование и разработка эффективных методов и средств контроля, испытаний и диагностики сборочно-монтажного производства» (№ держ. реєстр. 01890077568) та з НДІ ВТТ ПО «Термінал» (м.Вінниця) «Исследование методов и средств обеспечения контролепригодности аналоговых и цифровых блоков» (№держ. реєстр. 01890077569).
Мета і задачі дослідження. Метою дисертаційної роботи є удосконалення та подальший розвиток покомпонентного методу діагностування цифрових об'єктів дослідження за рахунок розробки ефективних машинних процедур пошуку дефектів з урахуванням критичних значень теплофізичних параметрів процесу наведення тестових сигналів, апаратних засобів тестування, що направлені на збільшення глибини діагностування, а також методів, що базуються на реконфігурації структури об'єкту дослідження, при недопущенні вторинних дефектів. В рамках викладеного вище, для досягнення поставленої мети в дисертаційній роботі необхідно вирішити наступні питання:
На підставі аналізу теплофізичних особливостей процесів наведення тестових сигналів у внутрішні вузли цифрового об'єкту дослідження розробити моделі процесу їх бездефектного тестування.
Розробити методику та ефективні процедури діагностування, що дозволять на основі формування мінімальних компонентних структур прискорити процес бездефектного діагностування всього цифрового пристрою.
Розробити методику діагностування компонентів цифрових пристроїв на основі формування структур із застосуванням штучних каналів передачі тестової інформації.
Розробити алгоритм аналізу тестопридатності цифрових пристроїв.
Розробити апаратні засоби та програмне забезпечення для систем, що основані на реконфігурації структури цифрових пристроїв.
Наукова новизна одержаних результатів. Наукова новизна роботи полягає в одержанні наступних результатів:
Запропонована математична модель, що описує теплофізичні процеси наведення тестових впливів у контрольні точки цифрового об'єкту дослідження з урахуванням часового фактору.
Вперше розроблена методика корекції програм тестового контролю компонентів з метою оптимізації процесу бездефектного діагностування по часу.
Розроблено модифікований -алгоритм пошуку векторів початкових умов діагностування стосовно систем зазначеного класу, реалізація якого забезпечить бездефектне наведення тестових сигналів у внутрішні контрольні точки цифрового пристрою.
Запропонована нова методика діагностування цифрових об'єктів з метою спрощення і прискорення процесів тестового пошуку місця дефектів, яка основана на зміні структури об'єкту дослідження на час діагностування за рахунок введення додаткових штучних каналів передачі тестової інформації.
Розроблено алгоритм аналізу тестопридатності компонентних структур цифрових об'єктів, який дозволяє на підставі аналізу складності реалізації бездефектного тестового контролю цифрових пристроїв приймати рішення про застосування в кожному конкретному випадку найбільш ефективного методу покомпонентного діагностування для систем зазначеного класу: такого, що базується на реконфігурації структури об'єкту дослідження, пофрагментного, або методів контролепридатного проектування.
Запропоновані структурна схема системи покомпонентного діагностування та схема блоку контролю цифрових інтегральних схем, розроблено програмне забезпечення, що реалізує запропоновані методи і алгоритми.
Практичне значення одержаних результатів. Практичне значення роботи полягає в тому, що апаратні й програмні засоби систем покомпонентного діагностування, які розроблені на основі методів, що були запропоновані, дозволили збільшити глибину пошуку дефектів цифрових пристроїв, а також в 1,15-1,5 раз скоротити загальний час реалізації їх програми тестового контролю в умовах серійного виробництва. Розроблені програмні засоби стосовно методик й алгоритмів покомпонентного діагностування можуть бути використані в інженерній практиці, як для отримання конкретних результатів функціонування цифрових пристроїв, так і для прогнозування результатів їх діагностування. Запропоновані структурні схеми системи покомпонентного діагностування та блоку контролю цифрових інтегральних схем дають можливість практично реалізувати системи діагностування, що орієнтовані на використання розроблених методів. Отримані наукові результати впроваджено на науково-виробничому комплексі «Приладобудівний завод» (м. Вінниця). Впровадження підтверджується відповідним актом.
Особистий внесок здобувача. Всі основні положення дисертаційної роботи, запропоновані методи й алгоритми діагностування відносно систем зазначеного класу, розроблені здобувачем самостійно.
Апробація результатів. Викладені в дисертаційній роботі результати досліджень доповідалися на 7 наукових конференціях, серед них: науково-технічна конференція з міжнародною участю «Приборостроение-96» (Судак, 1996 р.), міжнародний симпозіум «Наука и предринимательство» (Львів, 1997 р.), науково-технічні конференції у ВДТУ в 1995-1998 р.р., науково-технічна конференція «Приборостроение-97» (Симеїз, 1997 р.).
Публікації. Результати дисертаційної роботи опубліковані в 3 статтях, 5 матеріалах і тезах наукових конференцій.
Обсяг і структура дисертації. Дисертаційна робота складається із вступу, чотирьох розділів, заключення, додатків й списку використаної літератури з 85 найменувань. Робота викладена на 225 сторінках друкованого тексту і складає 195 сторінок основного тексту, з них - 63 рисунки, 8 таблиць й 8 додатків, що містять практичну реалізацію запропонованих методик і алгоритмів, а також результати їх роботи у вигляді програмного забезпечення та акт впровадження результатів досліджень.
Основний зміст роботи
У вступі розкрито стан наукової проблеми, її значущість, обгрунтовано необхідність проведення наукових досліджень, їх актуальність та доцільність для розвитку технічної діагностики. Викладено зв'язок проведених досліджень з тематичними планами проведення НДДКР у Вінницькому політехнічному інституті та Вінницькому державному технічному університеті. Сформульовано мету дисертаційної роботи, визначено наукову новизну одержаних результатів та їх практичне значення.
В першому розділі проведено аналіз фізичних властивостей прояву і пошуку дефектів в цифрових пристроях. Удосконалення технології виготовлення інтегральних схем ускладнило контроль і діагностування як великих і надвеликих інтегральних схем (ВІС і НВІС), так і пристроїв, побудованих на їх базі. Аналіз показав, що багато видів дефектів інтегральних схем (ІС) виявляються при підвищенні температури або напруги живлення. Виявлення означених дефектів традиційними засобами не дає бажаних результатів. Процес пошуку дефектів будь-якої ІС супроводжується розігрівом переходів окремих його вихідних транзисторів і підвищенням температури кристалу і корпуса мікросхеми. Найбільша імовірність пошкодження в результаті протікання струму в режимі примусової зміни рівнів сигналів характерна для вихідних каскадів пристрою, для яких виконується примусова зміна рівнів вихідних сигналів. Результати досліджень динаміки зміни температури р-п-переходів при внутрішньосхемному діагностуванні ІС показують, що забезпечення заданих характеристик ІС можливе, якщо перевірка вузла внутрішньосхемним методом виконується за час, що не перевищує критичне значення, зумовлене періодом вірогідного контролю. В загальному випадку час вірогідного контролю визначається співвідношенням між додатковою потужністю, що підводиться до вузла, і властивістю цифрової ІС розсіювати цю потужність. Слідством розбалансу між напругою, що підводиться та потужністю, що розсіюється, є інтенсивне підвищення температури р-п-переходів, яке може призвести до руйнування внутрішньої структури ІС і появи в об'єкті діагностування вторинних дефектів.
В роботі проведено порівняльний аналіз методів тестового діагностування цифрових пристроїв (ЦП): структурного, покомпонентного і комбінованого. Контроль ЦП методом покомпонентного діагностування здійснюється шляхом декомпозиції (розбиття всієї схеми на складові), а після цього перевірки кожної частини (компоненту) схеми методом стимулювання внутрішніх точок цифрового пристрою імпульсними сигналами, що забезпечують необхідні стани на входах цифрових компонентів, що тестуються, і оцінці відгуків на їх виходах. В роботі проаналізовані технічні рішення, що реалізують методи бездефектного контролю цифрових пристроїв та приведено переваги й недоліки систем покомпонетного діагностування. На основі проведеного аналізу методів тестового діагностування цифрових об'єктів дослідження сформульовані основні задачі досліджень в дисертаційній роботі.
Другий розділ присвячено питанням розробки методики і алгоритму забезпечення умов бездефектного контролю цифрових об'єктів, що є одним з основних етапів запропонованого методу покомпонентного діагностування ЦП, який базується на реконфігурації їх структури.
Проведено аналіз основних теплофізичних процесів, що протікають при наведенні тестових сигналів у внутрішні контрольні точки різних цифрових об'єктів дослідження засобами покомпонентного діагностування. Визначено основні розрахункові характеристики теплофізичних процесів, що протікають у вихідних каскадах зв'язаних між собою елементів структури цифрових об'єктів. Встановлено, що екстремальні параметри подачі тестових сигналів у внутрішні вузли зв'язаних між собою елементів об'єкту дослідження обмежені значеннями потужності Pгран, температури Tгран і часу tі max. Означені параметри визначають бездефектний характер наведення сигналів вектору установочного набору (УН) Liун, що забезпечує вектор початкових умов діагностування (ПУД) для кожного елементу ЦП. При цьому, максимально допустима температура розігріву, а, отже, і час примусової зміни рівней тестового сигналу, що наводиться, tроз, обмежені значенням, при якому спостерігається аномальна зміна характеристик транзисторів. Умови забезпечення теплового режиму мікросхем середньої і великої потужності визначаються як:
Ргран (Тк гран - Т*гран)/RТ, (1)
де Ргран, Тк гран, Т*гран - гранично допустимі значення відповідно: потужності що розсіюється; температури кристалу мікросхеми; температури навколишнього середовища (для середніх мікросхем), або температури корпусу мікросхеми (для великих мікросхем); RТ - тепловий опір. Аналіз показав, що характер процесу нагрівання мікросхеми при примусовій зміні рівнів сигналів має вигляд:
Tк гран - T* гран Pгран RТ (1 - exp(-tі / )) (2)
а процесу охолодження:
Tохол = T* exp(tп/ ), (3)
де Тохол - температура, до якої необхідно проводити охолодження мікросхеми, T* - температура навколишнього середовища, tі(tп) - час подачі імпульсу (паузи) потужності. Максимальний час примусової зміни рівнів сигналів tі max, з точки зору обмеження перегріву мікросхеми, може бути визначений як:
tі max ln (1 - (Tк гран - Tс гран)/ (Pгран)). (4)
Розроблено метод бездефектного наведення сигналів тестового контролю у внутрішні контрольні точки цифрових об'єктів. Згідно запропонованому методу, процес тестування компонентів ЦП, для яких час реалізації їх програм діагностування перевищує розраховане значення часу бездефектного наведення сигналів, являє собою послідовність періодів природнього розігріву напівпровідникових структур мікросхем ЦП (час реалізації тестових векторів) і вимушених тимчасових інтервалів їх охолодження (тестові вектори не подаються). При цьому підході формуються мінімальні компонентні структури об'єктів діагностування з урахуванням забезпечення векторів електричного захисту елементів. З метою оптимізації процесу діагностування встановлено, що час реалізації програм тестового контролю всього ЦП може бути зменшений за рахунок певного упорядкування векторів тестової матриці того або іншого компоненту ЦП.
Нехай задано тестову матрицю
Тi ={tpqp, q},
де n(m) - відповідає кількості її рядків (стовпчиків), а tpq{0,1} характеризує значення тестових сигналів. Нехай також кожному тестовому сигналу tpqTi відповідає деякий інтервал часу його реалізації в процесі діагностування i-ого компоненту пристрою: pq=1 або pq=0, де 1(0) - час подачі сигналу логічної одиниці (логічного нуля). Тоді будь-якому стовпчикові tqTi тестової матриці компоненту відповідає упорядкована послідовність (1,2,…,k) тимчасових інтервалів, що відповідають об'єднаним групам сигналів логічної одиниці або логічного нуля, й для будь-якого з них виконується рівність , де i; k - кількість інтервалів розбиття. При цьому якщо існує хоча б один вектор-стовпчик матриці Тi, для якого справедлива умова узгодженості, коли ( tj) ( tроз), то такий вектор tj Ti (а, отже, і всю матрицю Ti) необхідно коректувати, бо виконання цієї умови призводить до ситуації, при якій порушуються параметри бездефектного теплового режиму тестового контролю елементів пристрою. Процес корекції полягає в упорядкуванні множини векторів-рядків (Тi={tрр}) таким чином, щоб число ситуацій, при яких виконується невідповідність умові узгодженості, була зведена до мінімуму. На підставі методу корекції тестових матриць розроблено алгоритм їх упорядкування.
Розроблено метод пошуку векторів установочних наборів (УН), реалізація яких забезпечує непошкоджуюче наведення тестових сигналів у внутрішні контрольні точки об'єкту дослідження. В основі запропонованого методу лежить модифікований -алгоритм.
Мінімальним компонентом Vi V називається фрагмент структури об'єкту дослідження, для якого виконуються умови діагностичного експерименту і Vi= min.
В загальному випадку компонентом ЦП може бути фрагмент схеми, причому, якщо в склад кожного компоненту входить тільки один елемент, то це відповідає максимальній глибині пошуку дефектів пристрою, а сам процес діаг - ностування є поелементним. З формальної точки зору будемо вважати, що кожному елементу viV схеми ЦП відповідає множина вхідних тестових векторів Di={dik=(dki,1, dki,2,…, dki,m)1 k }, подача яких встановлює на виході елементу логічну одиницю, де dki - вектор вхідних сигналів елементу vi, а O, що відповідає сигналу логічного нуля;
dki,j = 1, що відповідає сигналу логічної одиниці;
, що відповідає байдужому стану j-ого входу елементу vi.
- множина входів елементу vi.
Знаходження вектору Liун зводиться до визначення мінімальної підмножини Eiw E найближчих внутрішніх контрольних точок (що відповідають провідникам ЦП), подача в які сигналів логічного нуля встановить вектор Liун для елементу vi. В подальшому, для зручності, будемо вважати, що EiwE0=, для кожного елементу viV, де E0E - підмножина дуг, що відповідають виводам краєвого роз'єму ЦП. Математична задача знаходження вектору Liун для кожного елементу vi пристрою зводиться до обчислення термів dikD, булевих функцій, що входять в ДНФ. Вони реалізують елементи vjViw об'єкту, що досліджується, де Viw={vj(ljEiw) (Пр li=vj)} - множина елементів ЦП, входи яких безпосередньо зв'язані з множиною дуг Eiw; dik - вектор сигналів, для якого виконується умова (di k, di k) (dik,1), що досягається при реалізації -алгоритму шляхом заміни всіх di,k=1 на значення di,k=. На підставі методу забезпечення умов непошкоджуючого контролю ЦП розроблено алгоритм їх бездефектного діагностування.
Третій розділ присвячений розробці покомпонентного методу діагностування цифрових пристроїв в умовах непошкоджуючого контролю, що базується на реконфігурації їх структури. Нехай структура зв'язаних між собою елементів принципової цифрової схеми об'єкту дослідження представлена у вигляді орієнтованого графа G (V, E), де V={Vii} - множина компонентів ЦП, E={ejj} - множина дуг, що відповідають функціональним зв'язкам (позначимо їх як контрольні точки КТ) між компонентами ЦП. Поставимо також у відповідність кожній з дуг ekE, де k, графа G підмножину значень тестових сигналів lk{0, 1,}, що необхідні (при подачі їх в дану КТ) для забезпечення умов електричного захисту компонентів ЦП, де 0 (1) - cигнали логічного «0» (логічної «1»), ={o1} - байдужі значення сигналу в даній КТ. Позначимо множину дуг, що входять (виходять) в(з) вершину vi, як Г+(Vi) (Г-(Vi)), а також загальну множину дуг, інцидентних вершині vi, як Г(Vi), де Г(Vi)=Г+(Vi)Г-(Vi). Тоді Liпу=(l1, l2., lr) ПУД i-го компоненту ViV будемо вважати заданим, lp Li ну lp=1, де r=Г+(Vi), p, Vi - i-ий компонент ЦП,Vi 1. Пошук підмножини (найближчих) внутрішніх КТ (позначимоим їх як ESE, S), а також значень відповідних тестових сигналів, подача яких в відповідні (ES) КТ забезпечує встановлення вектору Liпу. Час установки i(t) вектору Liун в основному визначає ступінь декомпозиції об'єкту дослідження і обмежений значенням tроз для зазначеного класу схем покомпонентного діагностування.
Під ступенем декомпозиції об'єкту будемо розуміти множину компонентів розбиття графа G, для яких тестування виконується незалежно один від одного, а також справедливо, що , де(Vi, Vj) V, а Vi Vj =, ij. Тоді, час tik реалізації програми тестового контролю компоненту ViV, з урахуванням температурного режиму наведення сигналів, можна визначити, як ti k = tроз - i(t).
Під довжиною zi компоненту Vi V будемо розуміти таке число зв'язаних між собою елементів підмножини iVi*, де i={Vpp}, а також Vp(Vqi) (Г-(Vp)Г+(Vq)), pq, а q1, zi (виняток складають елементи Vzi i, для яких Г-(Vzi) Г+(Vi*), де zi), при якому час настанови вектору Liун максимальний. Тоді, час i(t) визначиться, як i(t), де p - час затримки сигналу p-го елементу підмножини i; zi - довжина компоненту Vi, а kp - число імпульсів, що подаються на вхід p-го елементу. Тоді, знаючи час i реалізації одного тестового вектору компоненту Vi, знаходимо число (i) тестових векторів, що можуть бути подані за час tik, як i=tik/i.
Назвемо вираз показником ступеня тестопридатності компоненту ViV, де Ti - множина тестових векторів компоненту Vi.
Об'єкт будемо вважати повністю тестопридатним, стосовно систем покомпонентного діагностування (СПД), якщо при заданому значенні виконується умова ViVi 1. В випадку, коли 1 необхідно застосовувати методи контролепридатного проектування. Прагнення до зменшення загального часу тестового контролю об'єкту припускає такий варіант формування компонентної структури, при якому вираз 1 і виконується для будь-якої виділеної підмножини елементів об'єкту. Розроблено узагальнений алгоритм формування компонентної структури об'єкту при заданій складності компонентів, що не повинна перевищувати, наприклад, значення (задане обмеження на тестопридатність). Введення штучних каналів передачі тестової інформації в структуру об'єкту дослідження на час проведення діагностичного експерименту (ДЕ) дозволяє використати особливості фізичних процесів, що можуть протікати при взаємодії логічних елементів, що скомутовані певним чином. Цей підхід найбільш ефективний, коли замикання деякої підмножини внутрішніх контрольних точок дозволяє формувати, наприклад, структури, що генерують (фрагменти схем ЦП, охоплені контурами зворотних зв'язків), або утворює фрагменти послідовно з'єднаних елементів тільки на період проведення тестового контролю об'єкту дослідження. В роботі запропоновані різні алгоритми формування штучних структур, що генерують, бо процес генерації в колах ЦП можна викликати двома способами: з використанням вбудованого генератора в засобах діагностування, а також організацією процесу формування послідовності імпульсів в штучно скомутованих елементах ЦП. Проаналізовано особливості функціонування зазначених штучних структур компонентів.
Четвертий розділ присвячено розробці програмно-апаратних засобів покомпонентного тестового контролю. Розроблено алгоритм аналізу тестопридатності компонентної структури цифрового об'єкту, що враховує топологічні особливості включення кожного елементу пристрою, що дослід - жується в структурі об'єкту (вузли розгалуження, контури зворотних зв'язків). На підставі проведеного аналізу тестопридатності структури об'єкту дослідження розглянуті методи введення апаратної надлишковості з метою підвищення контролепридатності цифрових об'єктів застосовно для систем покомпонентного діагностування. В роботі обгрунтовано вибір структурної схеми СПД з урахуванням розроблених в даній дисертаційній роботі алгоритмів і методик, що дозволить за рахунок реконфігурації структури об'єкту дослідження (шляхом комутації внутрішніх контрольних точок) формувати штучні фрагменти схем, що спрощують і прискорюють процес тестового контролю. Рішення задачі проектування СПД вимагає іти на компроміс між відомими методами проектування складних об'єктів і досвідом розробника систем тестового пошуку дефектів. Розроблена програмна і апаратна підтримка систем покомпонентного діагностування спільно з вже існуючими методиками тестового контролю ЦП підвищує ефективність СПД за рахунок здійснення аналізу топології об'єкту дослідження і вибору раціональних стратегій діагностування різних цифрових пристроїв. Проведено порівняльну оцінку ефективності застосування методів внутрішньосхемного тестового контролю цифрових пристроїв з використанням пріоритетної функції: поелементного, пофрагментного й такого, що базується на реконфігурації структури об'єкту дослідження. Проведено оцінку ефективності СПД цифрових пристроїв. Оцінено такі важливі параметри систем покомпонентного діагностування, які базуються на використанні методів й алгоритмів, що розроблені в цій дисертаційній роботі, як глибина пошуку дефектів та загальний час реалізації програми тестового контролю цифрового пристрою.
дефект машинний теплофізичний цифровий
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Особливості процесу діагностування периферійних пристроїв системи керування, який полягає у порівнянні значень діагностичних параметрів, що вимірюються на їхніх виводах, з паспортними даними. Поділ датчиків системи Motronic за класифікаційними ознаками.
контрольная работа [42,0 K], добавлен 03.10.2010Методи діагностування мікропроцесорних систем керування у вигляді інформаційної структури. Кваліфікація оператора-діагноста, етапи процесу діагностування. Поглиблена локалізація несправності та підтвердження діагнозу. Карти симптомів несправностей.
контрольная работа [80,1 K], добавлен 03.10.2010Характеристика цифрових комбінаційних пристроїв та їх види. Схемні ознаки проходження сигналів. Цифрові пристрої з пам’яттю та їх основні типи. Властивості та функціональне призначення тригерів. Розробка перетворювача коду по схемі дешифратор-шифратор.
курсовая работа [1,7 M], добавлен 08.07.2012Класифікація частотнопараметрованих пристроїв, які застосовуються на автомобілі. Послідовність виконання їх перевірки та діагностування. Схеми підключень щодо перевірки електронних пристроїв та блоків керування. Тестування реле блокування стартера.
контрольная работа [64,8 K], добавлен 27.09.2010Загальна характеристика цифрових пристроїв захисту та автоматики. Перетворення аналогових сигналів. Зберігання інформації в цифровому пристрої РЗА. Вибір параметрів спрацювання дистанційних захистів фірми SIEMENS. Диференційний захист трансформатора.
курс лекций [1,3 M], добавлен 04.12.2010Загальна характеристика та принцип дії пристроїв введення (виведення) аналогової інформації в аналого-цифрових інтерфейсах, їх структура та основні елементи. Порядок та етапи розробки структурної схеми АЦІ, необхідні параметри для даної операції.
реферат [100,9 K], добавлен 14.04.2010Сутність роботи та основні характеристики аналого-цифрових перетворювачів (АЦП). Класифікація пристроїв, основні параметри паралельних АЦП, процес перетворення вхідного сигналу в багатоступеневому АЦП. Приклад роботи 8-розрядного двохтактного АЦП.
курсовая работа [6,1 M], добавлен 29.06.2010Характеристика електронних пристроїв перехоплення інформації. Класифікація загальних методів і засобів пошуку електронних пристроїв перехоплення інформації. Порядок проведення занять з пошуку закладних пристроїв. Захист акустичної та мовної інформації.
дипломная работа [315,0 K], добавлен 13.08.2011Діагностування систем запалювання та електрозабезпечення за допомогою осцилографа. Осцилограми вторинної напруги послідовного та накладеного зображення. Осцилограми напруг на виході генератора, вимірювання час-амплітудних параметрів сигналів датчиків.
контрольная работа [377,0 K], добавлен 26.09.2010Область використання аналого-цифрових перетворювачів. Механізм придушення шумів в режимі сну. Класифікація і принцип роботи АЦП послідовного наближення. Особливості роботи цифро-аналогового перетворювача. Розрахунки параметрів і схема АЦП І ЦАП.
курсовая работа [1,1 M], добавлен 26.11.2013Алгоритмічні принципи цифрового синтезу. Динаміка розвитку цифрових синтезаторів прямого синтезу. Перспективі інтегральні технології при розробці монолітних цифрових синтезаторів частот. Додавання псевдовипадкового числа до фазового накопичувача.
реферат [332,3 K], добавлен 06.11.2010Причини для розробки цифрових пристроїв обробки інформації, їх призначення і область застосування. Блок-схема алгоритму роботи. Розробка функціональної схеми пристрою та принципової схеми обчислювального блока. Виконання операції в заданій розрядності.
курсовая работа [691,7 K], добавлен 29.09.2011Моделі шуму та гармонічних сигналів. Особливості та основні характеристики рекурсивних та нерекурсивних цифрових фільтрів. Аналіз результатів виділення сигналів із сигнально-завадної суміші та порівняльний аналіз рекурсивних та нерекурсивних фільтрів.
курсовая работа [6,6 M], добавлен 20.04.2012Загальні відомості про системи передачі інформації. Процедури кодування та модуляції. Використання аналогово-цифрових перетворювачів. Умови передачі різних видів сигналів. Розрахунок джерела повідомлення. Параметри вхідних та вихідних сигналів кодера.
курсовая работа [571,5 K], добавлен 12.12.2010Дослідження основних способів подання логічної функції: аналітичний і табличний. Мінімізація логічних функцій та карта Карно. Синтез комбінаційного пристрою на базисі Шеффера та Пірса. Побудова принципової схеми, виконаної на інтегральних мікросхемах.
курсовая работа [891,4 K], добавлен 06.08.2013Основні можливості пакету Image Processing. Дослідження методів перетворення цифрових зображень в середовищі Matlab. Відновлення розмитого зображення за допомогою команди deconvblind, його геометричні перетворення. Зашумлення зображення функцією motion.
курсовая работа [2,4 M], добавлен 05.02.2015Метод простого накладення і кодування фронтів передачі низькошвидкісних даних по цифровому каналу. Застосування принципу ковзного індексу - кодування фронтів інформаційних імпульсів. Передача сигналів: телевізійних, частотних груп і звукового мовлення.
реферат [1014,1 K], добавлен 06.03.2011Розрахунок навантаження від абонентської лінії кожної категорії абонентів. Визначення середньої тривалості та питомого навантаження одного заняття абонентом І-ої категорії. Кількість еквівалентних точок комутації цифрових модуля і комутаційних полів.
курсовая работа [468,9 K], добавлен 07.05.2009Знайомство з комплексом цифрової системи передачі "Імпульс", розгляд конструктивних особливостей. Аналіз польового кабелю дальнього зв’язку П-296. Способи вибору розміщення регенераторів. Етапи розрахунку ділянки кабельних цифрових лінійних трактів.
курсовая работа [656,2 K], добавлен 10.02.2014Перетворення сигналів і виділення інформації. Властивості оцінок, методи їх одержання. Характеристики оцінок початкових моментів. Заміна "усереднення по реалізаціях" "усередненням за часом". Оцінка математичного очікування по декількох реалізаціях.
курсовая работа [316,2 K], добавлен 24.06.2011
