Примесная фотопроводимость
Примесная фотопроводимость, связанная с одним типом уровней. Эффект индуцированной примесной фотопроводимости. Термооптические переходы и двойные оптические переходы. Оптическая перезарядка примесных центров. Эффект отрицательной фотопроводимости.
Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
Вид | контрольная работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 30.03.2017 |
Размер файла | 367,5 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru
Примесная фотопроводимость
Свет кроме межзонных переходов может вызывать переходы между примесными уровнями и разрешёнными зонами. Поглощение света, связанное с такими переходами, называется “примесным ”, а возникшая при этом фотопроводимость “примесной”.
При переходе 1 в результате фотовозбуждения возникают свободные электроны и свободные дырки. При примесном фотовозбуждении один из носителей оказывается свободным: при переходе 2 - электроны свободны, дырки связаны; при переходе 3 - свободны дырки, а связанными являются электроны. Примесная фотопроводимость, таким образом, выступает как существенно монополярная.
Размещено на http://www.allbest.ru
Наличие примесных центров приводит к появлению дополнительной чувствительности в длинноволновой области спектра. В отсутствие примесных центров спектральное распределение фототока имеет вид, показанный кривой 1. Если же есть примесные центры, то спектральное распределение имеет вид, изображённый кривой 2. Иногда примесный максимум бывает чётко выраженным. Могут иметь место несколько полос примесной фотопроводимости, соответствующих нескольким типам примесных центров.
§ 1. Примесная фотопроводимость, связанная с одним типом уровней
Размещено на http://www.allbest.ru
Считаем, что в полупроводнике имеется Ni примесных уровней, расположенных на глубине Ei от дна зоны проводимости. Концентрация электронов на этих уровнях - ni.
На зонной схеме покажем возможные переходы, связанные с указанными примесными уровнями.
1 - Оптическое возбуждение.
Интенсивность фотовозбуждения обычно равна Lбв. В случае примесного поглощения величина коэффициента поглощения б определяется параметрами примесных центров. Если в 1 см3 имеется ni примесных атомов, и каждый из них обладает поперечным сечением захвата для фотона q, то
б = qni
[q] = см2; [ni] = ; [б] =
физический смысл б - это обратная толщина, пройдя которую свет ослабевает в е раз L = L0e-бd ; d- толщина.
Учитывая это, фотовозбуждение будет равно Lqniв
2 - термическое возбуждение.
Темп термического возбуждения равен
nivSn Nc = nivSn Nci
обозначим Nci
3 - выпадение электронов на примесные уровни.
Темп этого процесса равен nvSn (Ni - ni)
Запишем кинетическое уравнение для электронов проводимости:
= Lqniв + nivSn Nci + nvSn (Ni - ni) (1)
В рассматриваемом случае примесной фотопроводимости примесные уровни Ni играют роль и рекомбинационных центров, поэтому потерь общего числа электронов наблюдаться не будет, и кинетическое уравнение для полного числа электронов будет
т. е. n + ni = const
Пусть плотность электронов, заброшенных теплом (без освещения) равна n0, а заброшенных светом - Дn. Тогда
n = n0 + Дn
Аналогично ni = ni0 + Дni
Поскольку концентрация возбуждённых электронов равна их убыли на примесных центрах, то очевидно
Дn = - Дni
Тогда ni = ni0 - Дn
Подставив значение n и ni в уравнение (1) получим
Lqв(ni0 - Дn) + (ni0 - Дn) vSn Nci - (n0 + Дn)· vSn(Ni -ni0 + Дn)
справа от знака равенства во всех слагаемых кроме первого раскроем скобки
= Lqв(ni0 - Дn) + ni0 vSn Nci - Дn vSn Nci - n0vSnNi + n0 ni0 vSn - n0 Дn vSn - Дn vSnNi + Дn ni0 vSn - (Дn)2vSn
подчёркнутые слагаемые
сократив на эти величины и вынося за скобки vSn Дn, определим:
= Lqв(ni0 - Дn) - vSn Дn [Nci + n0 + Ni - ni0 + Дn] (2)
Этим нелинейным уравнением описывается в общем случае кинетика примесной фотопроводимости.
Существенным отличием примесной фотопроводимости от собственной является то, что интенсивность генерации носителей не является постоянной даже при L = const. Как это видно из уравнения (2), первый член, определяющий генерацию, сам содержит Дn. (А в случае собственной фотопроводимости f всегда пропорционально L).
Уравнение можно записать иначе, объединив все члены, содержащие Дn:
= Lqвni0 - vSn Дn [ + Nci + n0 + Ni - ni0 + Дn] (3)
В случае собственной фотопроводимости мы имели уравнение вида
= f -
сведём наше уравнение (3) к такому виду, а именно, запишем его так
= Lqвni0 - (4)
Здесь мы ввели обозначение
это - мгновенное время жизни, т.к. оно меняется в процессе релаксации из-за изменения Дn. Оно зависит и от интенсивности света L (L входит в выражение для ф), поэтому ставим индекс “свет”.
Если свет выключить и измерять релаксацию спада фототока, то мгновенное время будет (т.к. L = 0, а значит и )
Если сравнить мгновенные времена жизни нарастания и спада фототока, то получим, что:
(5)
т.е. <
Т.о. кинетика примесной фотопроводимости характеризуется своеобразной асимметрией: нарастание фотопроводимости происходит быстрее спадания.
Это используется для определения важного параметра, характеризующего процесс возбуждения, а именно, сечение захвата q фотона примесным центром по изучению разницы кинетики нарастания и спадания примесной фотопроводимости.
На свету = Lqвni0 -
В темноте = -
Отсюда
и
отсюда разность
- = [Lqвni0 - + ]
Рассмотрим релаксацию нарастания и спада фототока в тех точках, где концентрация Дn одинакова. Обозначим её через Дnґ. Тогда запишется
- = [Lqвni0 - + ] (6)
Приравнивая правые части равенств (5) и (6), получим
L q в = [Lqвni0 - + ]
Учитывая, что Lqвni0 определяется из начального участка кривой нарастания фототока, т.е. что
Lqвni0 =
имеем
Lqв = [ - + ] (7)
Размещено на http://www.allbest.ru
Сняв релаксационную кривую при включении и выключении света, определяют начальный наклон и наклоны при каком-то значении Дnґ. По этим значениям определяют величину Lqв. Отсюда, зная величину L и в (чаще всего можно положить в = 0), находят искомое q.
В качестве концентрации Дnґ, при которой определяется q, удобно выбрать Дnстац. Если мы выбираем Дnґ = Дnстац, то в этом случае, поскольку при стационарном значении концентрации уже не происходит её изменений, и примесной фотопроводимость индуцированный оптический
=
= 0
В результате
q = [ + ] (8)
Т.е. теперь для определения сечения захвата q фотона примесным центром достаточно найти начальные наклоны кривых нарастания и спада.
Рассмотрим люкс-амперную характеристику в случае примесной фотопроводимости, т.е. найдём Дn = Дn(L).
При собственной фотопроводимости ЛАХ были линейными, сублинейными и сверхлинейными.
Для анализа ЛАХ в случае примесной фотопроводимости запишем ещё раз кинетическое уравнение (4):
= Lqвni0 -
где (9)
В стационарном случае = 0 и из (4) имеем
Lqвni0 =
где Дnстац - стационарная концентрация электронов. Отсюда
Дnстац = Lqвni0
Подставим сюда значение из (9), получим
(10)
Проанализируем это выражение. При малых интенсивностях света, когда
« ,
причём последним слагаемым в знаменателе (10) можно пренебречь, поскольку
« . Тогда получим
Иначе говоря, Дnстац ~ L , т.е. ЛАХ линейна. При больших интенсивностях света, когда
»
в знаменателе формулы (10) можно пренебречь всеми слагаемыми кроме первого. Получим
= nio
Размещено на http://www.allbest.ru
Т.е. при больших интенсивностях света ЛАХ достигает насыщения. Это связано с тем, что при больших L практически все электроны могут быть переведены светом с примесных уровней в зону проводимости (установилось динамическое равновесие между интенсивностью оптического возбуждения и темпом захвата носителей на уровни).
§ 2. Индуцированная примесная фотопроводимость
Размещено на http://www.allbest.ru
В некоторых фотопроводниках наряду с примесной фотопроводимостью обнаруживается своеобразный эффект индуцированной примесной фотопроводимости. Этот эффект заключается в том, что в полупроводнике, в котором в нормальном состоянии отсутствует или мала примесная фотопроводимость, после предварительной подсветки из области собственного поглощения, появляется примесная проводимость или происходит её резкое увеличение.
На рисунке приведено спектральное распределение фотопроводимости CdSe при температуре жидкого азота до и после предварительной подсветки из собственной области.
Возникновение индуцированной примесной фотопроводимости объясняется тем, что “собственное” возбуждение в результате последующих процессов захватов приводит к заполнению электронами до этого пустых ловушечных центров. Если теперь осветить кристалл светом, возбуждающим электроны с этих ловушек, то это приведёт к возникновению примесной фоточувствительности.
Размещено на http://www.allbest.ru
Рассмотрим зонную схему полупроводника, содержащего Ni ловушечных уровней, расположенных на глубине Ei от дна зоны проводимости. Кроме того, в кристалле содержится Nr центров рекомбинации.
Пусть полупроводник при низкой температуре осветили светом из области собственного поглощения. В результате этого возникли свободные электроны и свободные дырки. Дырки сразу же захватываются рекомбинационными центрами Nr, а электроны частично рекомбинируют на уровнях Nr, а частично оседают на ловушки Ni. Пусть их концентрация на ловушках ni. При достаточно низкой температуре электроны на ловушках будут находиться достаточно долго.
Если теперь возбудить кристалл примесным светом, то произойдёт оптическая ионизация ловушек, приводящая к примесной фотопроводимости.
Кинетические процессы в рассматриваемой модели могут быть записаны системой дифференциальных уравнений:
Если температура низкая, то Nci = Nc мало и после предварительной засветки “собственным” светом (без оптического возбуждения “примесным” светом) ловушечные уровни Ni заполнены полностью, т.е. Ni ? ni. Тогда в уравнениях (1) и (2) 2-м и 3-м членами пренебрегаем, и система запишется в виде:
= Lqвni - nvS(Nr - nr)
= - Lqвni
Так как , то первое уравнение запишется в виде
= Lqвni - (3)
Концентрация дырок на рекомбинационных центрах (Nr - nr) связана с концентрацией связанных и свободных электронов ni+n, поэтому фn не постоянная величина (фn увеличивается со временем т.к. Nr - nr уменьшается со временем). Но если рассматривать начальные стадии процесса, когда ni » n, то ni + n = Nr - nr вначале изменяется незначительно. Будем считать
= const
Итак, система дифференциальных уравнений запишется в виде
= Lqвni - (3)
= - Lqвni (4)
Решим эту систему дифференциальных уравнений. Сначала решим однородное уравнение (4). Его решение после интегрирования ( = - Lqвdt)
ni = C
Исходим из начального условия, что при t = 0 ni = Ni. Отсюда найдём С:
Ni = C e-0 ; C = Ni
Тогда ni = Ni
Подставляем это значение ni в уравнение (3). Имеем
= Lqв Ni - (5)
Это неоднородное дифференциальное уравнение. Соответствующее однородное дифференциальное уравнение
= -
Разделим переменные = -
Его решение n = C1 ; n = U(t)
Считая C1 = U(t), продифференцируем
= U' -
Подставляем и n в уравнение (5):
U' - + - Lqв Ni = 0
Отсюда U' = Lqв Ni = Lqв Ni
Откуда, проинтегрировав
U = + А
Подставим значение U в выражение для n:
n(t) = U = + А
Из начальных условий: при t = 0 n = 0, находим А:
0 = + А ; A = -
Подставив значение А, получим
n(t) = -
или n(t) = ( - ) (6)
Если построить график этой зависимости, то он будет выглядеть так:
Размещено на http://www.allbest.ru
Из формулы видно, что при t > ? n(t) > 0. Экспериментальная же кривая, как оказалось, проходит так, как показано пунктиром, т.е. фототок релаксирует не к нулю, а к какому-то стационарному значению nстац ? 0. Это связано с тем, что фn не является постоянным, а растёт по мере уменьшения концентрации дырок на уровнях рекомбинации. Получается, что Ni - ni растёт (всё больше электронов покидает ловушки), а Nr - nr уменьшается, т.е. рекомбинация становится намного меньше повторного захвата. Поэтому, в связи с возрастанием фn, и n не спадает до нуля.
Изучая кинетику индуцированной примесной фотопроводимости можно определить параметры примесных центров, как и в случае примесной фотопроводимости.
§ 3. Термооптические переходы и двойные оптические переходы
Примесное возбуждение может приводить и к биполярной фотопроводимости. Биполярность достигается за счёт:
а) термооптических переходов и
б) двойных оптических переходов.
А) Термооптические переходы
Размещено на http://www.allbest.ru
В этом случае с примесных центров в зону проводимости электроны возбуждаются оптически, а из валентной зоны на примесные центры электроны возбуждаются термически (т.е. дырки с уровней термически возбуждаются в v-зону).
В стационарном состоянии интенсивность захвата дырок уровнями Ni и теплового заброса их в валентную зону равны, т.е.
pvSpni = (Ni - ni) vSpPvi ; где Pvi = Pv (1)
Пусть концентрации термически возбуждённых носителей соответственно n0, , p0, a оптически возбуждённых Дn, Дni, Дp. Очевидно
n = n0 + Дn ; ni = + Дni ; p = p0 + Д p .
При освещении (1) запишется в виде (подставим значения ni и p)
(p0 + Д p) vSp( + Дni) = (Ni - - Дni) vSpPvi
Раскроем скобки
p0 + p 0Дni + Д p + Д p Дni = NiPvi - Pvi - ДniPvi
До освещения p0 = (Ni -)Pvi = Ni Pvi - ni Pvi (2)
Учитывая это, можно взаимно уничтожить выделенные члены в предыдущей формуле. Тогда группируя
Д p( + Дni) + p 0Дni = - ДniPvi . (3)
Запишем условие зарядовой нейтральности
Дn + Дni = Д p
Отсюда Дni = Д p - Дn
Подставим это значение Дni в выражение (3)
Д p(+ Д p - Дn) + p 0 (Д p - Дn) = Pvi(Дn - Д p)
Будем считать, что термические переходы намного интенсивнее оптических. Тогда в первом слагаемом величинами Д p и Дn можно пренебречь по сравнению с . Имеем
Д p + p 0 (Д p - Дn) = Pvi(Дn - Д p)
Раскроем скобки
Д p + p 0 Д p - p 0 Дn = PviДn - PviД p
Сгруппируем члены по Д p и Дn
Д p (+ p 0 + Pvi) = Дn (Pvi + p 0)
Отсюда = = 1 + (4)
Если эта величина много больше 1, то проводимость монополярная.
Из уравнения (2)
p0 = (Ni - )Pvi
следует p0 =
Подставим значение p0 в (4), получим
= 1 +
Т.е. (5)
Очевидно, проводимость будет монополярной, если
» 1, т.е. »1.
Полученное выражение (5) будет значительно больше 1 если:
1) Pvi = Pv· мало, т.е. если уровень Ni расположен далеко от валентной зоны [(Eg - Ei) - велико];
2) Отношение должно быть максимальным, т.е. примерно равным единице, иначе говоря, уровни должны быть сильно заполнены.
Т.о., если критерий монополярности выполняется, т.е. »1, то, несмотря на наличие термооптических переходов, приводящих к появлению свободных дырок, фотопроводимость будет всё же монополярной.
Б) Двойные оптические переходы
Пусть есть полупроводниковый кристалл, содержащий примесные центры Ni, расположенные на энергетической глубине Ei от дна зоны проводимости.
Размещено на http://www.allbest.ru
Двойные оптические переходы могут возникнуть, если энергия фотона hн:
Eg > hн ? Ei и Eg > hн ? Eg - Ei.
Свет такой энергии способен вызвать одновременно переход электронов с примесных уровней Ni в зону проводимости и переход электронов с валентной зоны на примесные уровни (или, что то же самое, - переход дырок с примесных уровней в валентную зону).
Запишем кинетическое уравнение для электронов, возбуждённых светом, с учётом того, что рекомбинация осуществляется через этот же уровень Ni:
= Lqnвni - Дn гn(Ni - ni) (6)
qn - сечение захвата фотона примесным центром, на котором находится электрон; гn = vSn - коэффициент рекомбинации электронов.
Аналогично, изменение концентрации дырок, возбуждённых светом:
= Lqpв(Ni - ni) - Дp гpni (7)
где qp - сечение захвата фотона примесным центром, на котором находится дырка; гp = vSp - коэффициент рекомбинации дырок.
В стационарном случае = 0 и = 0
Тогда из уравнений (6) и (7)
Lqnвni = Дn гn(Ni - ni)
Lqpв(Ni - ni) = Дp гpni
Откуда Дn = , Дp = .
Отношение = = М.
Или, разделив числитель и знаменатель на
=М .
Условием монополярности фотопроводимости является » 1.
Значит, для случая двойных оптических переходов критерием монополярности будет
М» 1 (8)
Обычно qn и qp мало отличаются друг от друга и, в целом, величина мало отличается от единицы. Поэтому условие (8) будет исполняться в том случае, если > 0, т.е., если > 1, т.е. если Ni> ni .
Таким образом, проводимость будет электронной, если примесные уровни в темноте почти полностью заполнены электронами.
Условие дырочной проводимости
· « 1.
Т.е., проводимость дырочная, когда примесные уровни в темноте почти полностью заполнены дырками.
§ 4. Оптическая перезарядка примесных центров
Освещение полупроводника приводит не только к изменению концентрации свободных электронов и дырок в зонах, но и к изменению заполнения ими локальных примесных центров в запрещённой зоне.
В полупроводниках примеси могут существовать в различных зарядовых состояниях [однократно, двукратно, трёхкратно заряженные (содержат 1,2,3 электрона)], то есть одна и та же примесь может играть роль ловушек
различной глубины. Глубина ловушки связана с зарядовым состоянием. Ловушка представляет собой потенциальную яму с расходящимися стенками.
Два носителя, т.е. совместно две длины волны, могут поместиться в ней только на другом энергетическом расстоянии.
Пусть в полупроводнике примесь даёт 2 типа центров (за счёт разного зарядового состояния) и в темноте нижние уровни заполнены электронами, а верхние нет. Уровень Ферми проходит, как показано на рисунке
Размещено на http://www.allbest.ru
В темноте При освещении
Если теперь осветить полупроводник светом, способным перевести электроны с уровней N2 в с-зону, то электроны могут захватываться на уровни N1, которые ранее были пустыми. Так в результате освещения электроны с уровней N2 переселяются на уровни N1, т.е. осуществляется процесс “оптической перезарядки центров”.
Если температура достаточно низкая, то после выключения света сохранится неравновесное состояние, вызванное подсветкой, т.к. восстановление прежнего равновесия возможно только через с-зону.
Однако можно провести и “обратную перезарядку”, если теперь осветить светом, переводящим электроны с уровней N1 в с-зону.
Поскольку прямая и обратная оптические перезарядки происходят через с-зону, то они сопровождаются фотопроводимостью с очень своеобразной кинетикой.
§ 5. Отрицательная фотопроводимость
С наличием в кристаллах примесных уровней связывают своеобразный эффект отрицательной фотопроводимости, заключающийся в том, что при освещении полупроводника происходит не увеличение проводимости, как это обычно наблюдается на опыте, а её уменьшение.
Размещено на http://www.allbest.ru
Чаще всего отрицательная фотопроводимость имеет место сразу же за краем собственного поглощения, т.е. её максимум сдвинут несколько в длинноволновую область относительно максимума обычной положительной фотопроводимости.
Как правило, этот эффект наблюдается после введения различных примесей либо после проведения различных обработок (бомбардировки электронами и ионами).
Существуют различные мнения относительно механизма ОФ. Наибольшее распространение получила модель, рассмотренная Штокманом. Запишем
Ду = eДnмn + enДмn = Дуконц + Дуподв
Пусть в полупроводнике имеются локальные уровни Ni, расположенные выше уровня Ферми. Кроме этих уровней есть рекомбинационные центры Nr.
Размещено на http://www.allbest.ru
Предполагаем, что сечение захвата электрона центрами Ni намного меньше, чем центрами Nr. При освещении полупроводника светом с энергией кванта чуть меньше ширины запрещённой зоны происходит возбуждение электронов с валентной зоны на уровни Ni.
Дырки при этом захватываются на рекомбинационные центры Nr. Электроны с уровней Ni термически освобождаются в с-зону, а дырки на уровнях Nr рекомбинируют с электронами проводимости. Если темп рекомбинационного процесса будет больше темпа термического освобождения электронов с Ni уровней, то при освещении будет происходить уменьшение темновой концентрации свободных носителей и т.о. будет наблюдаться отрицательная фотопроводимость.
Количественный анализ условий, необходимых для появления ОФ может быть проведен при формальном предположении о том, что в результате поглощения одного фотона появляется один дополнительный электрон на Ni и одна дырка на Nr.
Темп термического выброса электронов с Ni уровней в с-зону равен
nivSNc
где S - сечение захвата электрона уровнем Ni.
Темп захвата электронов уровнями Nr, на которых находятся дырки
nvS(Nr -nr)
Или, учитывая, что n = Nc и Nr - nr = pr имеем
pr vS Nc
Для наблюдения ОФ необходимо, чтобы второй процесс проходил быстрее первого, т.е. чтобы
pr vS Nc> ni vS Nc
но число дырок на Nr- уровнях равно числу электронов на Ni-уровнях, т.е. pr=ni, тогда после сокращений
S > S или > .
Т.е. для наблюдения ОФ необходимо, чтобы сечение захвата основных носителей ловушечными центрами Ni было меньше сечения захвата электронов центрами Nr. Штокман определил S для исследуемых образцов Ge. Оно оказалось равным 10-21 см2, т.е. очень маленьким.
Существует ещё мнение о том, что ОФ может появляться за счёт дополнительного рассеяния электронов на ловушках в результате их оптической перезарядки.
Литература
1. Алехин, В.А. Электротехника и электроника. Компьютерный лабораторный практикум в программной среде TINA-8: Учебное пособие для вузов. / В.А. Алехин. - М.: РиС, 2014. - 208 c.
2. Астапенко, В.А. Фотоэлектроника. Часть 1. Прикладная электроника / В.А. Астапенко, С.М. Мовнин, Ю.Ю. Протасов. - М.: Янус-К, 2010. - 654 c.
3. Бараночников, М.Л. Микромагнитоэлектроника. Т. 2 / М.Л. Бараночников. - М.: ДМК, 2014. - 888 c.
4. Барыбин, А.А. Электроника и микроэлектроника. Физико-технологические основы / А.А. Барыбин. - М.: ФИЗМАТЛИТ, 2006. - 424 c.
5. Барыбин, А.А. Электроника и микроэлектроника. Физико-технологические основы / А.А. Барыбин. - М.: Физматлит, 2008. - 424 c.
6. Барыбин, А.А. Электроника и микроэлектроника / А.А. Барыбин. - М.: Физматлит, 2008. - 424 c.
7. Белоус, А.И. Космическая электроника. В 2 т. Т. 2 / А.И. Белоус, В.А. Солодуха, С.В. Шведов. - М.: Техносфера, 2015. - 488 c.
8. Белоус, А.И. СВЧ - электроника в системах радиолокации и связи. Техническая энциклопедия. В 2 кн. Кн. 1 / А.И. Белоус, М.К. Мерданов, С.В. Шведов. - М.: Техносфера, 2016. - 688 c.
9. Белоус, А.И. Космическая электроника. В 2 т. Т. 1 / А.И. Белоус, В.А. Солодуха, С.В. Шведов. - М.: Техносфера, 2015. - 696 c.
10. Белоус, А.И. СВЧ - электроника в системах радиолокации и связи. Техническая энциклопедия. В 2 кн. Кн. 2 / А.И. Белоус, М.К. Мерданов, С.В. Шведов. - М.: Техносфера, 2016. - 728 c.
11. Белоусов, В.В. Судовая электроника и электроавтоматика: Учебник / В.В. Белоусов, В.А. Волкогон.. - М.: Колос, 2008. - 645 c.
13. Борисенко, В.Е. Наноэлектроника: теория и практика: Учебник / В.Е. Борисенко, А.И. Воробьева, А.Л. Данилюк, Е.А. Утки
Размещено на Allbest.ru
...Подобные документы
Физические основы работы фоторезисторов, их вольтамперные, световые и спектральные характеристики; инерционность. Структура фоторезистора, схема его включения и принцип действия. Характеристика примесной фотопроводимости, явление электропроводности.
контрольная работа [4,0 M], добавлен 12.03.2015Открытие эффекта комбинационного рассеяния света (эффект Рамана). Применение в волоконно-оптических линиях связи оптических усилителей, использующих нелинейные явления в оптоволокне (эффект рассеяния). Схема применения, виды и особенности устройства.
реферат [1,2 M], добавлен 29.12.2013Элементы оптических систем. Оптическая система – совокупность оптических сред, разделенных оптическими поверхностями, которые ограничиваются диафрагмами. Преобразование световых пучков в оптической системе. Оптические среды. Оптические поверхности.
реферат [51,5 K], добавлен 20.01.2009Классификация, температурные зависимости концентрации, подвижностей носителей заряда собственных и примесных полупроводников. Общая характеристика и основные сведения о кристаллическом строении полупроводниковых материалов Si и Ge, методика выращивания.
курсовая работа [1,5 M], добавлен 08.05.2009Структура полупроводниковых материалов. Энергетические уровни и зоны. Электро- и примесная проводимость полупроводников. Виды движения носителей. Свойства электронно-дырочного перехода. Электропроводимость полупроводников в сильных электрических полях.
реферат [211,5 K], добавлен 29.06.2015Принципы работы полупроводниковых приборов. Физические основы электроники. Примесная электропроводность полупроводников. Подключение внешнего источника напряжения к переходу. Назначение выпрямительных диодов. Физические процессы в транзисторе, тиристоры.
лекция [4,4 M], добавлен 24.01.2014Ниткошвейное скрепление книг и виды шитья нитками. Основные характеристики микроконтроллера, компьютерная поддержка и проектирование аппаратных средств. Характер брошюрного стежка, варианты минимального количества режимов работы, автоматические переходы.
курсовая работа [884,4 K], добавлен 17.11.2011Составление измерительных схем для снятия характеристик опто-электронных приборов, содержащих p-n-переходы; регистрация напряжений и токов. Значения параметров цепи, получение ВАХ p-n-перехода, определение параметров перехода, моделирование работы схемы.
лабораторная работа [459,4 K], добавлен 23.12.2011Современные радиотехнические средства. Расчет параметров одного излучателя и антенной решетки. Конструктивная схема вибраторного излучателя. Коаксиально – полосковые переходы и дискретный фазовращатель. Полосковый делитель и кольцевой делитель мощности.
курсовая работа [139,1 K], добавлен 03.12.2010Выбор системы связи и аппаратуры уплотнения. Выбор магистрального кабеля и размещение цепей по четверкам. Переходы и пересечения естественных и искусственных преград. Определение длины опор и их количества по типам. Скрещивание проводов телефонных цепей.
курсовая работа [4,2 M], добавлен 26.01.2013Распространение оптических сигналов. Когерентность светового луча. Анализ источников некогерентного излучения. Энергия лазерного излучения. Тепловые и фотоэлектрические приемники излучения. Волоконно-оптическая сеть. Развитие оптических коммуникаций.
презентация [1,6 M], добавлен 20.10.2014Требования к объективам коллиматоров. Автоколлиматоры. Автоколлимационные окуляры. Динаметры и диоптрийная трубка. Техпроцессы изготовления сеток и шкал оптических систем. Сетки и их назначение. Способ изготовления сеток в зависимости от назначения.
реферат [697,4 K], добавлен 14.11.2008Изучение локальных вычислительных сетей. Протоколы (спецификации) передачи данных. Волоконно-оптические линии связи. Сети с выделенными серверами и одноранговые сети. Вопросы проектирования информационной системы предприятия. Операционная система и СУБД.
курсовая работа [58,0 K], добавлен 23.08.2010Свет переносит информацию. Цвет, длинна волны, частота - три характерных параметра света. Лазер как источник светового излучения. Модуляция интенсивности излучения. Источники света - светоизлучающий диод и лазер. Многоцелевая абонентская сеть.
реферат [84,4 K], добавлен 26.01.2007Изучение работы диодных ограничителей. Схема диодного ограничителя по min или снизу. Осциллограмма ограничения отрицательной половины входного напряжения на уровне 0,4 и 0,6 В, положительной на 0,6 В и отрицательной на 0,6 В половины входного напряжения.
лабораторная работа [139,6 K], добавлен 12.01.2010Цифровые волоконно-оптические системы связи, понятие, структура. Основные принципы цифровой системы передачи данных. Процессы, происходящие в оптическом волокне, и их влияние на скорость и дальность передачи информации. Контроль PMD.
курсовая работа [417,9 K], добавлен 28.08.2007Общая характеристика волоконно-оптической связи, ее свойства и области применения. Проектирование кабельной волоконно-оптической линии передач (ВОЛП) способом подвески на опорах высоковольтной линии передачи. Организация управления данной сетью связи.
курсовая работа [3,8 M], добавлен 23.01.2011Волоконно-оптические линии связи с использованием аналоговой модуляции, их применение в сетях кабельного телевидения. Выбор топологии сети кабельного телевидения и оптического кабеля. Суммарное затухание на линии связи. Расчет энергетического бюджета.
курсовая работа [724,2 K], добавлен 01.02.2012Оптические кабели (ОК) связи. Разработка оптоволоконной трассы с целью связи административных центров Хабаровского края и Амурского р-на. Выбор системы передачи и определение числа волокон в ОК. Выбор типа оптического кабеля и описание его конструкции.
курсовая работа [632,9 K], добавлен 16.12.2011Оптических система. Оптические характеристики приборов и деталей: вершинные фокусные расстояния, фокусные расстояния, рабочие расстояния. Обработка деталей оптических приборов. Определение фотографической разрешающей силы. Окуляр-микрометр. Коллиматор.
реферат [248,3 K], добавлен 22.11.2008