курсовая работа  Формирование наноструктурированных покрытий методом термического испарения в вакууме

Устройство малогабаритной вакуумной установки. Изучение топологии поверхности островковых плёнок меди на ситалловой подложке с помощью атомно-силового микроскопа АСМ. Их получение методом термического испарения при разном расстоянии от испарителя.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 _____  _____  _____  _____   ____ 
|  ___|/ __  \/ __  \|  _  | / ___|
|___ \ `' / /'`' / /' \ V / / /___ 
    \ \  / /    / /   / _ \ | ___ \
/\__/ /./ /___./ /___| |_| || \_/ |
\____/ \_____/\_____/\_____/\_____/
                                   
                                   

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 03.05.2019
Размер файла 9,2 M

Подобные документы

  • Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.

    курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012

  • Расчет и проектирование резистивных элементов. Конструирование пленочных конденсаторов. Описание строения и функционального назначения индуктивных элементов. Характеристика навесных компонент ГИС. Методы термического испарения и катодного напыления.

    методичка [1,4 M], добавлен 28.12.2011

  • Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.

    курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014

  • История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.

    презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014

  • Исследование высокочастотных зависимостей компонент магнитной проницаемости от относительной концентрации металлической и диэлектрической фаз композитных и плёнок состава. Технология получения и морфологические свойства пленок, их магнитный спектр.

    курсовая работа [1,2 M], добавлен 23.09.2014

  • Основы метода и оборудование для его осуществления. Создание наноструктур с помощью молекулярно-лучевой эпитаксии. Выращивание методом молекулярно-лучевой эпитаксии плёнок из соединений AIIIBV. Поверхностная подвижность атомов Al и Ga, их нанослои.

    курсовая работа [3,9 M], добавлен 14.05.2016

  • Принципиальная схема установки для ДТА. Вещества, использующиеся для изготовления держателей образцов-блоков и тиглей. Принцип действия и сфера применения дериватографа. Описание модуля термогравиметрического и дифференциального термического анализа.

    презентация [407,1 K], добавлен 04.11.2015

  • Системы воздушного, каскадного и жидкостного охлаждения. Ватерчиллеры и фреоновые установки. Тестирование температуры графического процессора. Установка процессорных кулеров на видеокарты. Использование систем открытого испарения и с элементами пельтье.

    курсовая работа [5,4 M], добавлен 11.04.2015

  • Моделирование объекта управления и построение графика переходного процесса. Синтез эталонной модели модальным методом и расчет параметров динамического звена. Устройство объекта управления с корректирующим звеном. Определение параметров регулятора.

    лабораторная работа [245,7 K], добавлен 20.02.2014

  • Определение геометрии электродов и конфигурации магнитного поля, обеспечивающих формирование пучка с известными параметрами методом синтеза. Выбор ортогональной сетки. Расчет электронной пушки методом анализа, блок-схема программы для расчета, результаты.

    курсовая работа [411,8 K], добавлен 27.10.2010

  • Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.

    дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012

  • Изучение условий и особенностей работы радиолокационной станции обнаружения, определение ее максимальных параметров. Ознакомление с методом проектирования радиолокационных станций с помощью ЭВМ. Произведен расчет для медленных релеевских флюктуаций.

    лабораторная работа [209,4 K], добавлен 17.09.2019

  • Изучение структуры и принципов построения ЛВС с шинной топологией со случайным методом доступа к моноканалу. Особенности и сущность работы шинных ЛВС со случайным методом доступа на основе протоколов канального и физического уровней эталонной модели ВОС.

    лабораторная работа [58,0 K], добавлен 28.04.2011

  • Сущность и классификация методов обработки поверхности. Методы сухой очистки. Процесс плазмохимического травления. Схема вакуумной камеры диодного типа для плазмохимического травления непосредственно в плазме. Очистка поверхности газовым травлением.

    реферат [536,7 K], добавлен 15.01.2009

  • Синтез систем автоматического регулирования простейшей структуры и повышенной динамической точности; получение переходных характеристик, соответствующих предельно-допустимым требованиям показателей качества системы; формирование управляющего воздействия.

    курсовая работа [2,0 M], добавлен 11.04.2013

  • Описание процесса термического окисления, цели его проведения и применяемое оборудование. Краткая характеристика и общее строение интегральной микросхемы. Последовательность формирования изолированных областей в изопланарной структуре транзистора.

    реферат [314,3 K], добавлен 07.01.2011

  • Ионно-плазменные методы получения тонких пленок. Конструктивные особенности установки катодного распыления. Характеристики и применение тонких пленок, полученных методом ионного распыления, последовательность процесса. Достоинства и недостатки метода.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 17.12.2014

  • Этапы и особенности прокладки кабеля кабелеукладчиком, в предварительно проложенные в грунт защитные пластмассовые трубы методом задувки, через водные преграды. Порядок пересечения подземных коммуникаций методом горизонтального направленного бурения.

    контрольная работа [2,9 M], добавлен 12.08.2013

  • Идентификация термического объекта управления по временным характеристикам его реакции на скачкообразный входной сигнал. Компьютерное моделирование объекта по полученной математической модели. Анализ устойчивости и качества замкнутой системы (САУ).

    курсовая работа [1,4 M], добавлен 08.11.2011

  • Основные количественные показатели надежности технических систем и методы ее повышения. Расчет показателей и построение структурной схемы надежности технологического процесса при помощи уменьшения интенсивности отказов и структурного резервирования.

    курсовая работа [338,2 K], добавлен 09.07.2011

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.