автореферат  Методи та апаратура контролю структурно-геометричної досконалості напівпровідникових матеріалів та структур в умовах їх серійного виробництва

Розробка науково-обґрунтованих методів контролю деформацій, механічних напруг, структурної досконалості і створення на їх основі вимірювального та ростового устаткування та апаратури для контролю структурної досконалості напівпровідникових кристалів.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 .d8888b.      d8888      d8888   .d8888b.   d888   
d88P  Y88b    d8P888     d8P888  d88P  Y88b d8888   
888    888   d8P 888    d8P 888  888    888   888   
Y88b. d888  d8P  888   d8P  888  Y88b. d888   888   
 "Y888P888 d88   888  d88   888   "Y888P888   888   
       888 8888888888 8888888888        888   888   
Y88b  d88P       888        888  Y88b  d88P   888   
 "Y8888P"        888        888   "Y8888P"  8888888 
                                                    
                                                    
                                                    

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Производство и технологии
Вид автореферат
Язык украинский
Дата добавления 24.06.2014
Размер файла 82,3 K

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.