реферат  Характеристика оптической микроскопии

Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 .d8888b.   .d8888b.   .d8888b.   .d8888b.   .d8888b.  
d88P  Y88b d88P  Y88b d88P  Y88b d88P  Y88b d88P  Y88b 
     .d88P 888    888 888    888      .d88P 888    888 
    8888"  Y88b. d888 888    888     8888"  Y88b. d888 
     "Y8b.  "Y888P888 888    888      "Y8b.  "Y888P888 
888    888        888 888    888 888    888        888 
Y88b  d88P Y88b  d88P Y88b  d88P Y88b  d88P Y88b  d88P 
 "Y8888P"   "Y8888P"   "Y8888P"   "Y8888P"   "Y8888P"  
                                                       
                                                       
                                                       

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид реферат
Язык русский
Дата добавления 29.05.2016
Размер файла 229,9 K

Подобные документы

  • История микроскопа - прибора для получения увеличенного изображения объектов, не видимых невооруженным глазом. Методы световой микроскопии. Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Методы микроскопического исследования металлов.

    реферат [3,3 M], добавлен 10.06.2009

  • Измерение размеров малых объектов. Метод фазового контраста. Понятие об электронной оптике. Создание электронного микроскопа. Опыты по дифракции электронов. Исследования поверхностной геометрической структуры клеток, вирусов и других микрообъектов.

    презентация [228,3 K], добавлен 12.05.2017

  • Сканирующий туннельный микроскоп, применение. Принцип действия атомного силового микроскопа. Исследование биологических объектов – макромолекул (в том числе и молекул ДНК), вирусов и других биологических структур методом атомно-силовой микроскопии.

    курсовая работа [2,7 M], добавлен 28.04.2014

  • Создание атомного силового микроскопа, принцип действия, преимущества и недостатки. Методы атомно-силовой микроскопии. Технические возможности атомного силового микроскопа. Применение атомно-силовой микроскопии для описания деформаций полимерных пленок.

    курсовая работа [2,5 M], добавлен 14.11.2012

  • Общие сведения об атомно-силовой микроскопии, принцип работы кантилевера. Режимы работы атомно-силового микроскопа: контактный, бесконтактный и полуконтактный. Использование микроскопа для изучения материалов и процессов с нанометровым разрешением.

    реферат [167,4 K], добавлен 09.04.2018

  • Изучение строения и принципов работы светового и электронного микроскопов. Рассмотрение методов темного и светлого поля, фазово-контрастной микроскопии, интерференции и поляризации. Витальное фиксированное изучение клеток. Основы электронной микроскопии.

    лекция [409,4 K], добавлен 16.05.2014

  • Решение проблемы увеличения разрешающей способности микроскопов без разрушения или изменения исследуемого образца. История появления зондовой микроскопии. Атомно-силовой микроскоп и его конструктивные составляющие, обработка полученной информации.

    реферат [692,6 K], добавлен 19.12.2015

  • Электронно-микроскопический метод исследования. Физические основы растровой электронной микроскопии. Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним.

    курсовая работа [1,9 M], добавлен 04.05.2011

  • Взаимодействие зонда и исследуемой поверхности с использованием обратной связи. Методы постоянного туннельного тока и постоянной высоты для получения изображения рельефа поверхности. Принципы атомно-силовой оптической и магнитно-силовой микроскопии.

    реферат [517,5 K], добавлен 18.04.2016

  • Габаритный расчет оптической системы прибора. Обоснование компонентов микроскопа. Исследование оптический системы объектива на ЭВМ. Расчет конструктивных параметров. Числовая апертура объектива в пространстве. Оптические параметры окуляра Гюйгенса.

    курсовая работа [375,2 K], добавлен 19.03.2012

  • Понятие электронной микроскопии как совокупности методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава. Содержание телевизионного принципа развертки тонкого пучка электронов или ионов по поверхности образца.

    презентация [3,1 M], добавлен 22.08.2015

  • Состав, принципы работы и назначение растрового электронного микроскопа РЭМН – 2 У4.1. Особенности восстановления рабочего вакуума в колонне растрового микроскопа. Функционирование диффузионного и форвакуумного насосов, датчиков для измерения вакуума.

    дипломная работа [4,1 M], добавлен 05.11.2009

  • Общие сведения об измерительных источниках оптического излучения, исследование их затухания. Основные требования к техническим характеристикам измерителей оптической мощности. Принцип действия и конструкция лазерных диодов, их сравнительный анализ.

    дипломная работа [2,5 M], добавлен 09.01.2014

  • Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Схемы сканирующих туннельных микроскопов. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.

    дипломная работа [2,8 M], добавлен 16.08.2014

  • Методы измерения показателей преломлений и коэффициентов дисперсии оптического стекла. Измерение предельного угла выхода. Оптическая схема интерферометра ИТР-1. Измерение оптической однородности, коэффициента светопоглощения, двойного лучепреломления.

    реферат [950,0 K], добавлен 17.11.2015

  • Принцип работы Кирлиан-прибора. Устройство и принцип действия искрового генератора, катушки прерывателя, резонатора. Современные схемы Кирлиан–прибора и компоненты для их сборки. Влияние напряжения и частоты. Проблемы применения Кирлиан-прибора.

    курсовая работа [630,7 K], добавлен 29.11.2010

  • Знакомство с устройством и работой растрового электронного микроскопа, измерение размеров частиц порошка алюминия с примесью карбида тантала, анализ полученных данных. Получение снимков и статистическая обработка данных. Изучение калибровочного снимка.

    лабораторная работа [1,4 M], добавлен 02.01.2015

  • Определение второй производной показателя преломления прямотеневым методом. Исследование оптических неоднородностей путем измерения угловых отклонений света и схема прибора Теплера. Снятие характеристик импульсного оптического квантового генератора.

    научная работа [537,5 K], добавлен 30.03.2011

  • Функция рассеяния точки в случае отсутствия аберраций. Влияние неравномерности пропускания по зрачку на ФРТ. Безаберационная ОПФ. Предельная пространственная частота. Критерии качества оптического изображения. Предельная разрешающая способность.

    реферат [566,7 K], добавлен 15.01.2009

  • История развития сканирующей туннельной микроскопии. Рассмотрение строения фуллеренов, фуллеритов, углеродных нанотрубок. Характеристика термодинамической модели зарождения и роста кластеров. Изучение магнитных свойств наносистемы оксидов железа.

    курсовая работа [2,4 M], добавлен 07.06.2010

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.